[實用新型]一種遺傳代謝病檢測樣品預(yù)處理蓋膜設(shè)備

有效

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• 申請日: 2017-01-22
• 公開（公告）號: CN206440522U
• 公開（公告）日: 2017-08-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 葉文杰;陳子陽
• 申請（專利權(quán)）人: 廣州福慧醫(yī)學(xué)科技有限公司
• 主分類號: G01N1/28
• 分類號: G01N1/28
• 代理公司: 北京輕創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11212
• 代理人: 談杰

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型屬于遺傳代謝病檢測設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及一種遺傳代謝病檢測樣品預(yù)處理蓋膜設(shè)備。

背景技術(shù)

遺傳性代謝病，又稱為先天性代謝缺陷病（英文簡稱：IEM），是因為維持機體正常代謝所必需的某種酶、運載蛋白、膜或受體等的編碼基因發(fā)生突變，使其編碼的產(chǎn)物功能發(fā)生改變，而出現(xiàn)相應(yīng)的實驗室檢查異常和臨床癥狀的一類疾病。它涉及氨基酸、有機酸、脂肪酸、尿素循環(huán)、碳水化合物、溶酶體、類固醇等多種物質(zhì)代謝的異常。該類疾病大多為單基因遺傳病，少數(shù)為線粒體基因遺傳病。

隨著人類疾病譜的改變和對出生缺陷的重視，遺傳性代謝缺陷病越來越受到大眾的關(guān)注。由于許多遺傳性代謝缺陷病在臨床表現(xiàn)方面并無特異性，通常的癥狀表現(xiàn)為不明原因的反復(fù)嘔吐、抽搐、肌張力低下、智力發(fā)育落后等，在實驗室檢查方面有代謝性酸中毒、低血糖、高乳酸血癥、高氨血癥等。因缺乏遺傳性代謝病的特異性檢查，得不到此類疾病的明確診斷和及時救治，最終給患兒及其家庭帶來沉重的負(fù)擔(dān)，影響了患兒的一生。

IEM 的篩查方法從開始的細(xì)菌抑制方法、酶聯(lián)免疫法、放射免疫法到后來的色譜法、質(zhì)譜法以及新近出現(xiàn)的基因分型方法。科學(xué)技術(shù)的快速進步，不斷大力推動了新生兒篩查手段在各國、地區(qū)的普及。其中，質(zhì)譜法是通過將樣品轉(zhuǎn)化為運動的氣態(tài)離子并按質(zhì)荷比大小進行分離并記錄其信息，從而對樣品進行定性和定量分析的一種分析方法，其檢測樣品的操作繁多，包括樣本制備保存、試劑添加、震蕩加熱、蓋膜等。同時由于IEM 的篩查越來越普及，檢測的樣品越來越多，過多的檢測樣品容易使檢測人員疲勞，從而導(dǎo)致檢測錯誤。如果將樣品預(yù)處理的蓋膜、試劑添加等部分重復(fù)性機械化的工作轉(zhuǎn)為由設(shè)備代替人工進行操作將有可能降低檢測錯誤率，同時實現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化的操作。

發(fā)明內(nèi)容

基于現(xiàn)有技術(shù)上的不足，本實用新型提供一種遺傳代謝病檢測樣品預(yù)處理蓋膜設(shè)備，其包括中央處理器CPU、內(nèi)部貯存器、位移檢測模塊、主板、鋁膜蓋膜模塊、特氟龍膜蓋膜模塊和膜切割模塊，其通過設(shè)備自動運行并標(biāo)準(zhǔn)化進行蓋膜操作，從而代替人工操作，大大降低了檢測人員的工作強度，降低IEM檢測出錯率。

一種遺傳代謝病檢測樣品預(yù)處理蓋膜設(shè)備，其包括中央處理器CPU、內(nèi)部貯存器、位移檢測模塊、主板、鋁膜蓋膜模塊、特氟龍膜蓋膜模塊和膜切割模塊；

中央處理器CPU、內(nèi)部貯存器、位移檢測模塊、鋁膜蓋膜模塊和特氟龍膜蓋膜模塊通過主板電路連接并進行通訊，膜切割模塊通過有線電路連接到主板，由鋁膜蓋膜模塊或者特氟龍膜蓋膜模塊控制對膜進行切割。

其中，膜切割模塊包括電熱切割設(shè)備和刀刃切割設(shè)備，電熱切割設(shè)備連接到特氟龍膜蓋膜模塊，由特氟龍膜蓋膜模塊進行控制；刀刃切割設(shè)備連接到鋁膜蓋膜模塊，由鋁膜蓋膜模塊進行控制。

其中，本實用新型專利提供的一種遺傳代謝病檢測樣品預(yù)處理蓋膜設(shè)備還包括外部貯存器，外部貯存器通過線路連接到中央服務(wù)器CPU，與中央服務(wù)器CPU進行通訊。

其中，外部貯存器包括硬盤、U盤和快速存貯裝置的一種或者多種。

本實用新型具有的有益效果：本實用新型通過中央處理器控制各個設(shè)備運行，完成蓋膜操作，降低了檢測人員的工作強度，避免了因為人員工作疲勞而造成的人為失誤。另外使用設(shè)備代替人工進行蓋膜操作能夠?qū)崿F(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化的蓋膜，降低了對技術(shù)人員的依賴，避免因為不同人員的經(jīng)驗水平不一樣而導(dǎo)致實驗結(jié)果出現(xiàn)偏差。同時方便記錄操作過程，整理操作數(shù)據(jù)，為IEM檢測技術(shù)的持續(xù)提高提供數(shù)據(jù)參考。

附圖說明

圖1，一種遺傳代謝病檢測樣品預(yù)處理蓋膜設(shè)備的連接示意圖。

其中，1-中央處理器CPU，2-內(nèi)部貯存器，3-位移檢測模塊，4-主板，5-鋁膜蓋膜模塊，6-特氟龍膜蓋膜模塊，7-膜切割模塊，8-外部貯存器，71-電熱切割設(shè)備，72-刀刃切割設(shè)備。

具體實施方式

為進一步闡述本實用新型的內(nèi)容和技術(shù)方案，下面將結(jié)合附圖和具體實施例作詳細(xì)說明。

本實用新型提供的一種遺傳代謝病檢測樣品預(yù)處理蓋膜設(shè)備，其包括中央處理器CPU1、內(nèi)部貯存器2、位移檢測模塊3、主板4、鋁膜蓋膜模塊5、特氟龍膜蓋膜模塊6、膜切割模塊7和外部貯存器8；