[實(shí)用新型]測(cè)試屏蔽箱

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201720062473.3
• 申請(qǐng)日: 2017-01-18
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN206497140U
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-09-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 許志斌
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州寧虹電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/18
• 分類號(hào): G01R1/18;H05K9/00
• 代理公司: 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)31237
• 代理人: 孫曉宇

1.一種測(cè)試屏蔽箱，包括上箱體和下箱體，所述上箱體和下箱體扣合形成所述測(cè)試屏蔽箱，其特征在于，所述上箱體與下箱體的一側(cè)鉸接，另一側(cè)設(shè)有相互匹配的卡扣，所述測(cè)試屏蔽箱的兩個(gè)外側(cè)面還分別設(shè)有氣壓缸，所述氣壓缸的一端與所述上箱體鉸接，另一端與所述下箱體鉸接。

2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試屏蔽箱，其特征在于，所述卡扣包括安裝于所述上箱體的上卡扣和安裝于所述下箱體的下卡扣，所述上卡扣包括上座板、支架以及端部帶有凸起的卡板，所述下卡扣包括下座板，所述下座板上設(shè)有與所述凸起匹配的卡槽。

3.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試屏蔽箱，其特征在于，所述上座板的上方設(shè)有把手。

4.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試屏蔽箱，其特征在于，所述下箱體內(nèi)設(shè)有一用于承載待測(cè)物的底座，所述底座的上表面與所述下箱體的底面傾斜設(shè)置。

5.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試屏蔽箱，其特征在于，所述底座的上表面與所述下箱體的底面的傾斜角度為30°～60°。

6.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試屏蔽箱，其特征在于，所述底座的上表面上設(shè)有與所述待測(cè)物的形狀匹配的凹槽。

7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試屏蔽箱，其特征在于，所述凹槽的上下兩側(cè)分別設(shè)有讓位手槽。