[實(shí)用新型]熱電檢測系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201720057442.9 | 申請日: | 2017-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN206489103U | 公開(公告)日: | 2017-09-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 歐云;謝淑紅;鄒代峰;趙晉津;付比;劉正浩 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院深圳先進(jìn)技術(shù)研究院 |
| 主分類號: | G01N25/20 | 分類號: | G01N25/20;G01R31/00 |
| 代理公司: | 深圳國新南方知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司44374 | 代理人: | 黃建才,李明香 |
| 地址: | 518055 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 熱電 檢測 系統(tǒng) | ||
1.一種熱電檢測系統(tǒng),其特征在于,所述熱電檢測系統(tǒng)包括激光激勵(lì)模塊、掃描探針、樣品臺、檢測電路及控制器,所述樣品臺用于承載樣品,所述激光激勵(lì)模塊用于在激光激勵(lì)模式下發(fā)出激光加熱樣品,所述掃描探針用于對樣品進(jìn)行檢測,所述檢測電路用于偵測所述掃描探針的電信號變化以輸出檢測信號,所述控制器用于接收所述檢測電路輸出的檢測信號并基于所述檢測信號分析所述樣品的熱電性能。
2.如權(quán)利要求1所述的熱電檢測系統(tǒng),其特征在于,所述激光激勵(lì)模塊包括激光發(fā)生器、激光檢測器及激光調(diào)節(jié)器,所述激光發(fā)生器用于發(fā)出激光加熱樣品,所述激光檢測器用于檢測所述激光發(fā)生器發(fā)出的激光并輸出檢測信號,所述激光調(diào)節(jié)器用于基于所述激光檢測器輸出的檢測信號發(fā)出控制信號至所述激光發(fā)生器以調(diào)節(jié)所述激光發(fā)生器發(fā)出的激光。
3.如權(quán)利要求2所述的熱電檢測系統(tǒng),其特征在于,所述激光發(fā)生器的尺寸為100*40*40mm。
4.如權(quán)利要求2所述的熱電檢測系統(tǒng),其特征在于,所述激光發(fā)生器包括光源與光學(xué)截光器,所述光學(xué)截光器用于對所述光源進(jìn)行開關(guān)或頻率調(diào)制。
5.如權(quán)利要求4所述的熱電檢測系統(tǒng),其特征在于,所述控制器包括鎖相放大器,所述鎖相放大器用于對所述檢測電路輸出的檢測信號進(jìn)行采集,并配合所述光學(xué)截光器的開關(guān)對樣品進(jìn)行基于時(shí)間尺度的瞬態(tài)表征。
6.如權(quán)利要求5所述的熱電檢測系統(tǒng),其特征在于,所述鎖相放大器為雙頻鎖相放大器,所述雙頻鎖相放大器用于對所述檢測信號進(jìn)行一倍頻與三倍頻的測量而獲取一倍頻的檢測信號與三倍頻的檢測信號供后續(xù)分析,其中所述三倍頻的檢測信號體現(xiàn)樣品的熱導(dǎo)率。
7.如權(quán)利要求5所述的熱電檢測系統(tǒng),其特征在于,所述控制器還包括傳感器、信號處理模塊及高速多路數(shù)據(jù)采集模塊,所述傳感器用于將所述鎖相放大器輸出的檢測信號轉(zhuǎn)換為轉(zhuǎn)換信號,所述信號處理模塊用于對所述轉(zhuǎn)換信號進(jìn)行去噪、放大、濾波處理以將所述轉(zhuǎn)換信號轉(zhuǎn)變?yōu)樗龈咚俣嗦窋?shù)據(jù)采集模塊能夠識別的標(biāo)準(zhǔn)信號,所述高速多路數(shù)據(jù)采集模塊用于將所述標(biāo)準(zhǔn)信號記錄在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中。
8.如權(quán)利要求1所述的熱電檢測系統(tǒng),其特征在于,所述激光激勵(lì)模塊的功率在0.1mW到10mW的范圍內(nèi),所述激光激勵(lì)模塊的發(fā)生頻率在5kHz以內(nèi)的范圍內(nèi),所述激光波長為360nm-800nm。
9.如權(quán)利要求1所述的熱電檢測系統(tǒng),其特征在于,所述激光激勵(lì)模塊從樣品臺遠(yuǎn)離所述樣品的一側(cè)發(fā)出激光,所述激光經(jīng)由貫穿所述樣品臺的通孔照射到所述樣品上對樣品進(jìn)行加熱,所述激光激勵(lì)模塊的功率為250mW,所述激光激勵(lì)模塊的發(fā)生頻率在5kHz以內(nèi)的范圍內(nèi),所述激光波長為360nm-800nm。
10.如權(quán)利要求1所述的熱電檢測系統(tǒng),其特征在于,所述檢測電路包括惠斯通電橋與放大器,所述惠斯通電橋包括第一電阻器、第二電阻器及第三電阻器,所述第一電阻器為可變電阻器,所述第一電阻器的一端連接所述掃描探針的一端,所述第一電阻器的一端與所述掃描探針的一端之間具有第一節(jié)點(diǎn),所述第一節(jié)點(diǎn)接地,所述掃描探針的另一端連接所述第二電阻器的一端,所述掃描探針的另一端與所述第二電阻器的一端具有第二節(jié)點(diǎn),所述第二節(jié)點(diǎn)連接所述放大器的第一輸入端,所述第一電阻器的另一端連接所述第三電阻器的一端,所述第一電阻器的另一端與所述第三電阻器的一端具有第三節(jié)點(diǎn),所述第三節(jié)點(diǎn)連接所述放大器的第二輸入端,所述第三電阻器的另一端連接所述第二電阻器的另一端,所述第三電阻器的另一端與所述第二電阻器的另一端之間具有第四節(jié)點(diǎn),所述第四節(jié)點(diǎn)與所述放大器的輸出端分別連接所述控制器;所述第二節(jié)點(diǎn)與第三節(jié)點(diǎn)之間還用于連接測量裝置。
11.如權(quán)利要求1所述的熱電檢測系統(tǒng),其特征在于,所述掃描探針還用于在探針激勵(lì)模式下對樣品進(jìn)行加熱與檢測,所述檢測電路用于偵測所述掃描探針的電信號變化獲得檢測信號,所述控制器基于所述檢測電路輸出的檢測信號分析樣品的熱電性能。
12.如權(quán)利要求11所述的熱電檢測系統(tǒng),其特征在于,所述熱電檢測系統(tǒng)還包括探針激勵(lì)模塊,所述控制器控制所述探針激勵(lì)模塊在探針激勵(lì)模式下向所述掃描探針施加一倍頻的交流電激勵(lì)信號以使所述掃描探針對樣品進(jìn)行加熱。
13.如權(quán)利要求1所述的熱電檢測系統(tǒng),其特征在于,所述熱電檢測系統(tǒng)還包括第一熱電偶與第二熱電偶,所述第一熱電偶設(shè)置于所述樣品臺上并靠近所述樣品的一端,所述第二熱電偶設(shè)置于所述掃描探針上用于經(jīng)由所述掃描探針接觸所述樣品,所述第一熱電偶與所述第二熱電偶共同監(jiān)測所述樣品的溫度。
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