[實用新型]一種基于太赫茲波衰減全反射成像的腦創(chuàng)傷組織檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201720047159.8 | 申請日： | 2017-01-16 |
| 公開（公告）號： | CN206852585U | 公開（公告）日： | 2018-01-09 |
| 發(fā)明（設計）人： | 王與燁;徐德剛;陳圖南;馮華;劉宏翔;趙恒立;姚建銓 | 申請（專利權(quán)）人： | 天津大學 |
| 主分類號： | A61B5/00 | 分類號： | A61B5/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限責任專利代理事務所12201 | 代理人： | 李林娟 |
| 地址： | 300072*** | 國省代碼： | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 基于 赫茲 衰減 全反射 成像 創(chuàng)傷 組織 檢測 裝置 | ||
1.一種基于太赫茲波衰減全反射成像的腦創(chuàng)傷組織檢測裝置，包括：太赫茲源，其特征在于，
所述太赫茲源發(fā)射的太赫茲波入射到與太赫茲波成一定角度的太赫茲分光鏡，太赫茲波的一部分經(jīng)所述太赫茲分光鏡反射后入射至與計算機控制系統(tǒng)輸入端相連接的第一太赫茲探測器；
經(jīng)太赫茲分光鏡透射的太赫茲波作為腦組織樣品檢測時的入射光，依次經(jīng)過第一太赫茲非球面透鏡、用于放置腦組織樣品的全反射棱鏡、第二太赫茲非球面透鏡，最終被第二太赫茲探測器探測；
全反射棱鏡固定于二維移動平臺上，計算機控制系統(tǒng)接收第一太赫茲探測器與第二太赫茲探測器接收到的數(shù)據(jù)、及二維移動掃描平臺的移動信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于太赫茲波衰減全反射成像的腦創(chuàng)傷組織檢測裝置，其特征在于，所述太赫茲源發(fā)射的太赫茲波的頻率范圍為0.1THz—30THz。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于太赫茲波衰減全反射成像的腦創(chuàng)傷組織檢測裝置，其特征在于，所述全反射棱鏡的上表面中心處于太赫茲波經(jīng)第一太赫茲透鏡聚焦的焦點處。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于太赫茲波衰減全反射成像的腦創(chuàng)傷組織檢測裝置，其特征在于，所述全反射棱鏡的材料為高阻硅或鍺材質(zhì)。
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