[實(shí)用新型]壓敏電阻器測(cè)試頭夾具

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201720045881.8
• 申請(qǐng)日: 2017-01-16
• 公開（公告）號(hào): CN206399587U
• 公開（公告）日: 2017-08-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 堯巍華;宋秀鵬
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 東莞易力禾電子有限公司
• 主分類號(hào): G01L25/00
• 分類號(hào): G01L25/00
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技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試裝置，尤其是涉及一種壓敏電阻器測(cè)試頭夾具。

背景技術(shù)

在鈦酸鍶環(huán)形壓敏電阻器的測(cè)試中，需要使用到與產(chǎn)品銀電極接觸良好且穩(wěn)定的測(cè)試夾具，對(duì)于不同的鈦酸鍶產(chǎn)品，其銀電極的涂裝位置會(huì)有不同，銀電極的數(shù)量也會(huì)有不同。

例如有的銀電極印刷在產(chǎn)品的正反面，而有的銀電極則印刷于產(chǎn)品的側(cè)面，而電極的數(shù)量也有三個(gè)、五個(gè)等等。對(duì)于銀電極印刷于產(chǎn)品正反面的鈦酸鍶環(huán)形壓敏電阻器樣品，其測(cè)試頭設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單，而對(duì)于銀電極印刷于產(chǎn)品側(cè)面的鈦酸鍶環(huán)形壓敏電阻器樣品，急需設(shè)計(jì)一種接觸良好，能夠長(zhǎng)時(shí)間工作，測(cè)試穩(wěn)定的測(cè)試頭夾具。

實(shí)用新型內(nèi)容

基于此，有必要針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種壓敏電阻器測(cè)試頭夾具，使得測(cè)試頭與銀電極的接觸良好，磨損率低，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性高，提高了作業(yè)效率，產(chǎn)生了很好的經(jīng)濟(jì)效益。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是：一種壓敏電阻器測(cè)試頭夾具，其包括測(cè)試板、限位板、導(dǎo)向柱及測(cè)試機(jī)構(gòu)，所述導(dǎo)向柱設(shè)置在測(cè)試板一側(cè)，所述限位板卡持在導(dǎo)向柱上并設(shè)置在測(cè)試板上方，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)卡持在導(dǎo)向柱上；所述限位板上開設(shè)有第二測(cè)試針孔，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)設(shè)置有導(dǎo)向塊、支撐板及測(cè)試針頭組，所述導(dǎo)向塊卡持在導(dǎo)向柱上，所述支撐板設(shè)置在導(dǎo)向塊一側(cè)，所述測(cè)試針頭組卡持在支撐板上，所述測(cè)試針頭組包括測(cè)試針，所述測(cè)試針對(duì)應(yīng)第二測(cè)試針孔設(shè)置，所述測(cè)試針設(shè)置在限位板上方。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述測(cè)試針數(shù)為4根。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述測(cè)試針包括金屬殼體、彈簧及針頭，所述彈簧卡置在金屬殼體內(nèi)，所述針頭卡置在金屬殼體下方，所述針頭另一端與彈簧抵接。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述金屬殼體為圓柱體構(gòu)造。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述針頭末端為圓錐狀構(gòu)造。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述針頭末端為針尖形狀。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述測(cè)試板上開設(shè)有第一測(cè)試針孔，所述第一測(cè)試針孔與第二測(cè)試針孔匹配對(duì)應(yīng)設(shè)置。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述測(cè)試板上安設(shè)有待測(cè)樣品，所述第一測(cè)試針孔圍設(shè)在待測(cè)樣品周側(cè)。

綜上所述，本實(shí)用新型壓敏電阻器測(cè)試頭夾具通過(guò)導(dǎo)向塊帶動(dòng)測(cè)試針頭組移動(dòng)，進(jìn)而帶動(dòng)針頭穿過(guò)第二測(cè)試針孔及第一測(cè)試針孔后，通過(guò)彈簧的調(diào)節(jié)作用，在測(cè)試針頭隨著導(dǎo)向塊下移過(guò)程中，自動(dòng)調(diào)節(jié)測(cè)試針頭末端表面與待測(cè)樣品銀電極表面的接觸強(qiáng)度，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的無(wú)懸空接觸，不會(huì)出現(xiàn)未接觸的高阻態(tài)，使得測(cè)試準(zhǔn)確率高，極大的提高了生產(chǎn)效率。

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型壓敏電阻器測(cè)試頭夾具的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實(shí)用新型金屬殼體結(jié)合彈簧的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為能進(jìn)一步了解本實(shí)用新型的特征、技術(shù)手段以及所達(dá)到的具體目的、功能，下面結(jié)合附圖與具體實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)描述。

如圖1和圖2所示，本實(shí)用新型壓敏電阻器測(cè)試頭夾具包括測(cè)試板10、限位板20、導(dǎo)向柱30及測(cè)試機(jī)構(gòu)100，所述導(dǎo)向柱30設(shè)置在測(cè)試板10一側(cè)，所述限位板20卡持在導(dǎo)向柱30上并設(shè)置在測(cè)試板10上方，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)100卡持在導(dǎo)向柱30上。

所述測(cè)試板10上開設(shè)有第一測(cè)試針孔11，所述限位板20上開設(shè)有第二測(cè)試針孔21，所述第一測(cè)試針孔11與第二測(cè)試針孔21匹配對(duì)應(yīng)設(shè)置，所述測(cè)試板10上安設(shè)有待測(cè)樣品40，所述待測(cè)樣品40為側(cè)面印刷有銀電極的電阻器，所述第一測(cè)試針孔11圍設(shè)在待測(cè)樣品40周側(cè)，以方便對(duì)待測(cè)樣品40的銀電極進(jìn)行測(cè)試。

所述測(cè)試機(jī)構(gòu)100設(shè)置有導(dǎo)向塊50、支撐板60及測(cè)試針頭組70，所述導(dǎo)向塊50卡持在導(dǎo)向柱30上，所述支撐板60設(shè)置在導(dǎo)向塊50一側(cè)，所述測(cè)試針頭組70卡持在支撐板60上，所述導(dǎo)向塊50沿導(dǎo)向柱30方向上下移動(dòng)，進(jìn)而帶動(dòng)支撐板60上下移動(dòng)，使得卡持在支撐板60上的測(cè)試針頭組70也上下進(jìn)行移動(dòng)，以便對(duì)待測(cè)樣品40的銀電極性能進(jìn)行測(cè)試。

具體地，所述測(cè)試針頭組70包括四根測(cè)試針71，所述測(cè)試針71對(duì)應(yīng)第二測(cè)試針孔21設(shè)置，所述測(cè)試針71設(shè)置在限位板20上方，所述測(cè)試針71包括金屬殼體711、彈簧712及針頭713，所述金屬殼體711為圓柱體構(gòu)造，所述彈簧712卡置在金屬殼體711內(nèi)，所述針頭713卡置在金屬殼體711下方，所述針頭713另一端與彈簧712抵接，所述針頭713可在金屬殼體711內(nèi)上下滑動(dòng)，利用金屬殼體711內(nèi)的彈簧712產(chǎn)生的形變力來(lái)使得針頭713復(fù)位。