[實用新型]一種顆粒快速檢測裝置

有效

• 申請號: 201720040259.8
• 申請日: 2017-01-13
• 公開（公告）號: CN206618658U
• 公開（公告）日: 2017-11-07
• 發明（設計）人: 李鵬;李培
• 申請（專利權）人: 浙江大學
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司33200
• 代理人: 林超

1.一種顆粒快速檢測裝置，其特征在于包括用于將待測顆粒樣品分散到空間中的顆粒樣品分散裝置和用于構建多個采樣體并行收集動態散射光信號的光學照明與探測裝置；

所述的光學照明與探測裝置是采用以下的一種：

包括低相干光源、干涉儀和探測器；

或者包括低相干光源、干涉儀和光譜儀；

或者包括掃頻寬光譜光源、干涉儀和探測器。

2.根據權利要求1所述的一種顆粒快速檢測裝置，其特征在于：所述的光學照明與探測裝置包括以下一種或多種：

一種多光束照明不同的垂直于光軸方向的橫向空間位置的照明裝置與多探測器的探測裝置；

一種多光束以不同入射角照明同一或者不同空間位置的照明裝置與多探測器的探測裝置；

一種由多個子光束構成的單光束的照明裝置，子光束有不同的光程延遲，且以不同入射角度照明同一或者不同空間位置；

一種包括含有不同光譜的多個探測光束的照明裝置，不同光束照明在同一空間區域或者不同空間區域。

3.根據權利要求1所述的一種顆粒快速檢測裝置，其特征在于：所述檢測裝置具體包括寬帶低相干光源(31)、光環形器(32)、分光比為50:50的光纖耦合器(33)、第一偏振控制器(46)、第一光纖準直器件(34)、聚焦透鏡(35)、平面高反射鏡(36)、第二偏振控制器(47)、第二光纖準直器件(37)、掃描振鏡(38)、物鏡(39)、樣品分散裝置(40)、第三光纖準直器件(41)、光柵(42)、傅里葉變換透鏡(43)和高速線陣相機(44)；低相干寬帶光源(31)發出的光，經過光環行器(32)后進入到光纖耦合器(33)，從光纖耦合器(33)出射的光被分成兩部分子光束，其中一子光束通過光纖經過第一偏振控制器(46)連接至參考臂中的第一光纖準直器件(34)，經過準直和聚焦后照射到平面高反射鏡(36)；另一子光束通過光纖經過第二偏振控制器(47)連接至第二光纖準直器件(37)，第二光纖準直器件(37)的出射光經掃描振鏡(38)、物鏡(39)后入射到樣品分散裝置(40)的被測樣品上；光環行器(32)的出射光依次經第三光纖準直器件(41)、光柵(42)和傅里葉變換透鏡(43)后入射到高速線陣相機(44)。

4.根據權利要求3所述的一種顆粒快速檢測裝置，其特征在于：所述的寬帶低相干光源(31)采用超發光二極管光源，所述的物鏡(39)采用消色差雙膠合透鏡，所述的高速線陣相機(44)采用線陣掃描相機。