[實用新型]一種半導體分立器件可調節測試夾具

有效

• 申請號: 201720039942.X
• 申請日: 2017-01-13
• 公開（公告）號: CN206440798U
• 公開（公告）日: 2017-08-25
• 發明（設計）人: 牛喜平;倪煒江;張敬偉;李明山;徐妙玲
• 申請（專利權）人: 北京世紀金光半導體有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R1/04
• 代理公司: 北京中創陽光知識產權代理有限責任公司11003
• 代理人: 尹振啟,張希宇

1.一種半導體分立器件可調節測試夾具，其特征在于，該夾具包括：與半導體分立器件的管腳相適配的三個測試頭，其中，第一測試頭、第二測試頭和第三測試頭依次排布，所述第二測試頭與夾具安裝基礎相固定，所述第一測試頭和/或所述第三測試頭是活動的，第一測試頭和第二測試頭之間安裝有將二者連接的彈簧，第二測試頭和第三測試頭之間安裝有將二者連接的彈簧；配備一個施力裝置，所述施力裝置作用在第一測試頭和/或第三測試頭上，由施力裝置驅動第一測試頭和/或第三測試頭向第二測試頭移動，移動后與半導體分立器件的管腳位置相對應。

2.如權利要求1所述的半導體分立器件可調節測試夾具，其特征在于，所述施力裝置上設置有施力顯示器。

3.如權利要求1所述的半導體分立器件可調節測試夾具，其特征在于，所述第一測試頭和/或所述第三測試頭與施壓裝置的接觸面之間設置有壓力傳感器，與所述壓力傳感器連接有受力表。

4.如權利要求1所述的半導體分立器件可調節測試夾具，其特征在于，所述第一測試頭和/或所述第三測試頭的外側設置有壁，所述壁與所述夾具安裝基礎相固定，所述壁上設置有螺紋通孔，所述螺紋通孔上安裝有向所述第二測試頭擠壓第一測試頭和/或第三測試頭的調節螺栓。