[實用新型]天線綜合測試系統

有效

• 申請號: 201720037370.1
• 申請日: 2017-01-12
• 公開（公告）號: CN206442379U
• 公開（公告）日: 2017-08-25
• 發明（設計）人: 蔣宇
• 申請（專利權）人: 深圳市新益技術有限公司
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15;H04B17/10
• 代理公司: 北京維正專利代理有限公司11508
• 代理人: 楊春女

技術領域

本實用新型涉及天線測試系統，更具體地說，它涉及一種天線綜合測試系統。

背景技術

移動通信的迅猛發展推動了天線的研發工作，國內出現了一些年產天線達到幾百萬臺、品種達到數百種之多的企業，這些企業的產品涵蓋了消費類電子產品使用的小型天線，移動通信基站、軍工裝備等設備使用的中型或大型天線，天線測試的速度已經成為企業研發工作進程的瓶頸。

目前，公開號為CN204694782U的中國專利公開了一種單探頭近場天線測試系統，包括水平驅動機構底座，設置在水平驅動機構底座上的水平驅動機構導軌和水平驅動軸，水平驅動軸與水平驅動電機聯動，升降驅動機構立柱設置在水平驅動機構導軌上，升降驅動機構立柱還與水平驅動軸聯動，升降驅動機構立柱側壁設置有升降驅動機構導軌和升降驅動軸，升降驅動軸與升降驅動電機聯動，伸縮驅動機構底座設置在升降驅動機構導軌上，升降驅動軸與伸縮驅動機構底座聯動，伸縮驅動機構底座上安裝有伸縮桿，伸縮桿與伸縮驅動電機聯動，伸縮桿遠離伸縮驅動電機的一端上安裝有俯仰機構座，俯仰機構座上安裝有俯仰機構旋轉軸，俯仰機構旋轉軸與俯仰驅動電機聯動。

但是，該天線測試系統在測試天線的性能前，需要借助工具對天線的擺放位置進行測量，較為麻煩。

實用新型內容

本實用新型的目的是提供一種天線綜合測試系統，具有更快的對基站天線進行定位的效果。

本實用新型的上述技術目的是通過以下技術方案得以實現的：一種天線綜合測試系統，包括測試平臺，所述測試平臺上設有沿測試平臺長度方向的刻度尺，所述測試平臺上設有與刻度尺相互垂直的定位塊，所述定位塊上設有用于將定位塊固定于測試平臺上的固定組件。

通過采用上述技術方案，對基站天線的性能進行測試前，需要對基站天線的擺放位置進行定位，通過測試平臺上的刻度尺進行測量，將非常的容易；基站天線的擺放位置測量好后，通過定位塊對基站天線進行定位，在經過固定組件將定位塊固定在測試平臺上，減少基站天線在測試平臺上滑移的情況。

優選的，所述刻度尺的下表面設有固定塊，所述測試平臺上設置有與固定塊插接配合的固定孔。

通過采用上述技術方案，固定塊和固定孔的插接配合，減少刻度尺在測試平臺上移動的情況，進而使刻度尺對基站天線擺放位置的測量更加精確，對基站天線的測試效果更佳。

優選的，所述固定塊的端部呈圓角設置。

通過采用上述技術方案，固定塊的端部呈圓角設置，便于將固定塊插接到固定孔內，進而使刻度尺固定在測試平臺上將更加的容易。

優選的，所述固定組件包括設于定位塊下表面的若干個吸盤。

通過采用上述技術方案，在基站天線的擺放位置測量好后，通過吸盤將定位塊固定在測試平臺上，減少對定位塊的固定時造成對測試平臺的影響，同時不會像磁鐵一樣會產生磁場，對基站天線的測試效果造成影響。

優選的，所述吸盤的吸附面設置有凹槽，凹槽周緣形成外環，所述凹槽上內嵌有凸出外環表面的密封圈。

通過采用上述技術方案，由于凹槽上內嵌有凸出外環表面的密封圈，在擠壓吸盤進行吸附時，密封圈受壓而緊壓接觸面減少空氣進入凹槽的情況，從而提高吸附效果，減少定位塊滑動或者脫落的情況。

優選的，所述凹槽由外及里依次設置有多層內環，內環把凹槽分成多個凹腔，所述內環與外環處于同一平面，且與吸盤的吸附面齊平。

通過采用上述技術方案，設置的內環把凹槽分成多個凹腔，從而形成多層密封，外部的空氣更不容易進入凹槽，進一步增加吸附的牢固性。

優選的，所述測試平臺上設有若干個限制塊，限制塊沿測試平臺長度方向上均勻分布。

通過采用上述技術方案，限制塊的設置，能夠對基站天線在測試平臺的寬度方向上進行限制，進而更好的對基站天線進行定位。

優選的，所述測試平臺上設置有螺孔，所述限制塊上設有與螺孔螺紋配合的螺栓。

通過采用上述技術方案，螺孔和螺栓的配合，能夠對限制塊進行固定，結構簡單方便。

綜上所述，本實用新型具有以下有益效果：

1、對基站天線的性能進行測試前，需要對基站天線的擺放位置進行定位，通過測試平臺上的刻度尺進行測量，將非常的容易；基站天線的擺放位置測量好后，通過定位塊對基站天線進行定位，在經過固定組件將定位塊固定在測試平臺上，減少基站天線在測試平臺上滑移的情況；

2、通過吸盤將定位塊固定在測試平臺上，減少對定位塊的固定時造成對測試平臺的影響，同時不會像磁鐵一樣會產生磁場，對基站天線的測試效果造成影響。

附圖說明