[實用新型]一種在高低溫環境下的MLCC電容器ESR測試裝置有效
| 申請號: | 201720026763.2 | 申請日: | 2017-01-10 |
| 公開(公告)號: | CN206362859U | 公開(公告)日: | 2017-07-28 |
| 發明(設計)人: | 劉曉龍;李凱;吳勝琴 | 申請(專利權)人: | 北京元六鴻遠電子科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R27/02 | 分類號: | G01R27/02 |
| 代理公司: | 北京匯信合知識產權代理有限公司11335 | 代理人: | 王秀麗 |
| 地址: | 100070 北京市豐臺*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 低溫 環境 mlcc 電容器 esr 測試 裝置 | ||
技術領域
本實用新型涉及電子元器件測試裝置技術領域,具體涉及一種在高低溫環境下的MLCC電容器ESR測試裝置。
背景技術
片式多層瓷介電容器(MLCC)是一種常見的被動元器件,具有體積小、容量大、耐濕熱性能好、性價比高等特點。目前已經廣泛應用于計算機、各種電子設備、航空航天等領域,成為電子設備中不可缺少的零部件。但是,由于目前產品制作加工工藝的限制,MLCC電容器在實際應用中并不是理想電容器。根據其使用頻率的不同,會伴隨有寄生參數,諸如容抗、感抗、等效串聯電阻(ESR)等,其中容抗和感抗部分不產生功耗,而ESR參數會產生功耗,直接造成電容器的溫度升高。所以,通過測試電容器的溫升變化,可以間接研究其ESR的變化,為我們在電容器的實際應用中提供參考。
在實際應用中,有時我們僅需要了解MLCC電容器在高低溫環境下(例如-55℃~125℃)的ESR變化規律,而具體的ESR值無關緊要。這種情況下,我們通常采用的方法是將試驗電容放入高低溫試驗箱中,然后通過線纜導出至箱外連接測試設備進行測試。由于MLCC電容器ESR極小(mΩ級),加上從箱中引出的較長電纜造成的較大誤差以及測試設備的校正功能限制,會造成測試結果誤差很大,甚至出現負值現象,從而造成ESR變化趨勢測不準的情況發生。
實用新型內容
針對上述問題中存在的不足之處,本實用新型提供一種在高低溫環境下的MLCC電容器ESR測試裝置。
為實現上述目的,本實用新型提供一種在高低溫環境下的MLCC電容器ESR測試裝置,包括:
試驗板A和試驗板B,在所述試驗板A和所述試驗板B上均焊有待測試電容;
所述試驗板A放置在高低溫測試箱內部進行高低溫測試,所述試驗板B位于所述高低溫試驗箱外部;
所述試驗板A和所述試驗板B與紋波電流試驗臺連接;
所述試驗板B上的待測試電容表面粘接有熱電偶。
上述的在高低溫環境下的MLCC電容器ESR測試裝置中,優選為,所述試驗板A上的待測試電容和所述試驗板B待測試電容為并聯。
在上述技術方案中,本實用新型實施例提供的在高低溫環境下的MLCC電容器ESR測試裝置,與現有技術相比,通過在試驗板A和試驗板B上均焊有待測試電容,將試驗板A放置在高低溫測試箱內部進行高低溫測試,試驗板B位于高低溫試驗箱外部,試驗板A和試驗板B與紋波電流試驗臺連接,試驗板B上的待測試電容表面粘接有熱電偶,用溫升的變化間接分析MLCC電容器的ESR變化,溫升與電流和ESR成正比關系,對于MLCC電容器來說,因為其質量m較小(毫克級),所以很小的ESR變化就可以引起較大的溫度變化。所以,可以通過電容器溫升的“放大作用”來表現ESR的微小變化。其結構簡單,操作便捷,測試效果好。
附圖說明
圖1為本實用新型一個實施例中在高低溫環境下的MLCC電容器ESR測試裝置的結構示意圖。
附圖標記說明:
1、紋波電流試驗臺;2、試驗板B;3、試驗板A;4、高低溫試驗箱;5、熱電偶。
具體實施方式
下面通過具體的實施例結合附圖對本實用新型做進一步的詳細描述。
實施例1:
在高低溫環境下的MLCC電容器ESR測試裝置,如圖1所示,將兩支同一規格的待測試電容焊接在試驗板A3和試驗板B2上,試驗板為相同的兩塊。試驗板A3放入高低溫試驗箱4中,試驗板B2放在高低溫試驗箱4外待測。上述兩塊試驗板與紋波電流試驗臺1連接,并將熱電偶5粘接在箱外的待測電容器表面。啟動高低溫試驗箱4將溫度保持在設定溫度,一定時間后啟動紋波試驗臺1,設置電流、電壓、頻率、保持時間等參數后,高低溫試驗箱4外MLCC電容的表面溫度,導出其與施加電流的關系數據。按上述相同步驟測試其它不同溫度條件下的電容溫升與電流關系,進而分析在同樣電流和保持時間下,不同環境溫度下的電容溫升變化。由于高低溫試驗箱4內與高低溫試驗箱4外的電容為并聯關系,紋波試驗臺1施加的總電流恒定,高低溫試驗箱4內電容的ESR會隨環境溫度發生變化,而高低溫試驗箱4外常溫下的電容ESR則不變。這必然導致高低溫試驗箱4外電容的分流電流發生變化,從而可以通過對高低溫試驗箱4外電容的溫升變化,計算出高低溫試驗箱4內電容的ESR隨高低溫試驗箱4環境溫度的變化率,進而得知高低溫試驗箱4內電容的ESR變化趨勢。根據需要,進而可以通過電容在常溫下(25℃)的ESR數據值,估測出在不同溫度下的ESR值。
估測某型號電容的ESR隨溫度(-55℃、-25℃、25℃、85℃、125℃)的變化規律。
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