[發明專利]識別方法、識別裝置、計算機可讀存儲介質及程序產品有效
| 申請號： | 201711498968.1 | 申請日： | 2017-12-29 |
| 公開（公告）號： | CN108074240B | 公開（公告）日： | 2021-09-28 |
| 發明（設計）人： | 王鵬;周敬;陳新鵬 | 申請（專利權）人： | TCL華星光電技術有限公司 |
| 主分類號： | G06T7/00 | 分類號： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 廣州三環專利商標代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝傳鑫;熊永強 |
| 地址： | 518132 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 識別 方法 裝置 計算機 可讀 存儲 介質 程序 產品 | ||
本發明提供一種識別方法、識別裝置、計算機可讀存儲介質及計算機程序產品。用于識別顯示面板的缺陷，所述識別方法包括：采集圖片，獲取所述圖片的特征信息；將所述特征信息與缺陷數據庫中的多個缺陷參數進行比對；判斷所述特征信息是否可以由多個相關的所述缺陷參數來表征，若所述特征信息可以由多個相關的所述缺陷參數來表征，則判定所述特征信息為缺陷信息。本發明有助于提高顯示面板缺陷識別的效率以及準確度。
技術領域
本發明涉及圖像識別技術領域，尤其涉及一種識別方法、識別裝置、計算機可讀存儲介質及程序產品。
背景技術
隨著對顯示技術的不斷研究，人們對顯示面板的質量和顯示效果的要求也越來越高。在顯示面板的生產過程中，需要對已經生產完成的顯示面板進行缺陷檢測，以提高顯示面板的優良率。現有技術中，通常采用人工對顯示面板的缺陷進行識別，識別效率較低。
發明內容
本發明提供一種識別方法，用于識別顯示面板的缺陷，所述識別方法包括：
采集圖片，獲取所述圖片的特征信息；
將所述特征信息與缺陷數據庫中的多個缺陷參數進行比對；
判斷所述特征信息是否可以由多個相關的所述缺陷參數來表征，若所述特征信息可以由多個相關的所述缺陷參數來表征，則判定所述特征信息為缺陷信息。
本發明提供的識別方法，首先采集圖片，獲取圖片的特征信息，然后將特征信息與缺陷數據庫中的多個缺陷參數進行比對，判斷特征信息是否可以由多個相關的缺陷參數來表征，如果特征信息可以由多個相關的缺陷參數中的至少一個缺陷參數來表征，那么說明該特征信息為缺陷信息。相較于人工識別顯示面板缺陷的方式，本技術方案可以提高顯示面板缺陷識別的效率。進一步的，通過缺陷數據庫中多個缺陷參數中的至少一個缺陷參數來表征特征信息，將缺陷數據庫中的一個或多個缺陷參數綜合分析，進而判定特征信息是否為缺陷信息，可以提高顯示面板缺陷識別的準確度。
本發明還提供一種識別裝置，所述識別裝置包括存儲器及處理器，所述存儲器存儲有識別程序，所述處理器讀取所述識別程序，以執行如上所述的識別方法。
本發明還提供一種計算機可讀存儲介質，其存儲了識別程序，其中，所述識別程序被執行的時候執行：如上所述的識別方法。
本發明還提供一種計算機程序產品，所述計算機程序產品包括存儲了所述識別方法的計算機程序的非瞬時性計算機可讀存儲介質，所述識別方法的計算機程序被執行的時候執行：如上所述的識別方法。
附圖說明
為了更清楚地闡述本發明的構造特征和功效，下面結合附圖與具體實施例來對其進行詳細說明，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是本發明提供的一種識別方法的流程圖。
圖2是本發明中步驟S200對應的流程圖。
圖3是本發明中步驟S200之前的步驟對應的流程圖。
圖4是本發明提供的一種識別方法的局部流程圖。
圖5是本發明中步驟S320之后的步驟對應的流程圖。
圖6是本發明中步驟S320之后的步驟對應的流程圖。
圖7是本發明提供的一種識別方法對應的局部流程圖。
圖8是本發明中步驟S400對應的流程圖。
圖9是本發明實施例提供的識別裝置的一種可能的結構示意圖。
具體實施例
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