[發明專利]一種下行信道測量的方法及裝置

有效

• 申請號: 201711498298.3
• 申請日: 2017-12-29
• 公開（公告）號: CN108306698B
• 公開（公告）日: 2021-04-09
• 發明（設計）人: 錢鋒;樓群芳
• 申請（專利權）人: 上海華為技術有限公司
• 主分類號: H04B17/309
• 分類號: H04B17/309;H04B7/024;H04B7/0413;H04L5/00;H04W72/04
• 代理公司: 深圳市深佳知識產權代理事務所(普通合伙) 44285
• 代理人: 王仲凱

1.一種下行信道測量的方法，其特征在于，所述方法包括：

第一基站將至少兩個第一天線映射至第一端口，并得到第一映射結果，所述至少兩個第一天線為同極化關系；

所述第一基站從第二基站獲取第二映射結果，所述第二映射結果中所述第二基站的至少兩個第二天線映射至第二端口，所述至少兩個第二天線為同極化關系；

所述第一基站根據所述第一映射結果與第二映射結果生成映射矩陣；

所述第一基站聯合所述第二基站根據所述映射矩陣通過信道測量導頻對終端進行下行信道測量。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一基站根據所述第一映射結果與第二映射結果生成映射矩陣，包括：

所述第一基站根據所述第一映射結果與第二映射結果、導頻序列、第一相位關系以及第二相位關系生成多個映射矩陣；其中，第一相位關系為所述第一基站中同極化天線之間的相位關系，第二相位關系為所述第二基站中同極化天線之間的相位關系。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一相位關系包含至少兩種相位關系，所述第一相位關系與所述第一基站的天線的相位劃分存在關聯關系；所述第二相位關系包含至少兩種相位關系，所述第二相位關系與所述第二基站的天線的相位劃分存在關聯關系。

4.根據權利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述第一基站聯合所述第二基站根據所述映射矩陣通過信道測量導頻對終端進行下行信道測量，包括：

所述第一基站聯合所述第二基站按照預設規則依次選擇多個映射矩陣中的一個通過信道測量導頻對所述終端進行下行信道測量。

5.根據權利要求1至3其中任意一項所述的方法，其特征在于，在所述第一基站聯合所述第二基站根據所述映射矩陣通過信道測量導頻對所述終端進行下行信道測量之后，所述方法還包括：

所述第一基站根據將測量結果進行合并，并計算合并后的平均值。

6.根據權利要求1至3其中任意一項所述的方法，其特征在于，在所述第一基站聯合所述第二基站根據所述映射矩陣通過信道測量導頻對所述終端進行下行信道測量之后，所述方法還包括：

所述第一基站根據測量結果進行過濾處理，得到過濾后的測量值。

7.根據權利要求1至3其中任意一項所述的方法，其特征在于，所述第一基站為所述終端所接入的基站。

8.一種下行信道測量的裝置，所述裝置為第一基站，其特征在于，所述裝置包括：

映射單元，用于將至少兩個第一天線映射至第一端口，并得到第一映射結果，所述至少兩個第一天線為同極化關系；

獲取單元，用于從第二基站獲取第二映射結果，所述第二映射結果中所述第二基站的至少兩個第二天線映射至第二端口，所述至少兩個第二天線為同極化關系；

生成單元，用于根據所述第一映射結果與第二映射結果生成映射矩陣；

測量單元，用于聯合所述第二基站根據所述映射矩陣通過信道測量導頻對終端進行下行信道測量。

9.根據權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述生成單元具體用于：

根據所述第一映射結果與第二映射結果、導頻序列、第一相位關系以及第二相位關系生成多個映射矩陣；其中，第一相位關系為所述第一基站中同極化天線之間的相位關系，第二相位關系為所述第二基站中同極化天線之間的相位關系。

10.根據權利要求9所述的裝置，其特征在于，所述第一相位關系包含至少兩種相位關系，所述第一相位關系與所述第一基站的天線的相位劃分存在關聯關系；所述第二相位關系包含至少兩種相位關系，所述第二相位關系與所述第二基站的天線的相位劃分存在關聯關系。

11.根據權利要求9或10所述的裝置，其特征在于，所述測量單元具體用于：

聯合所述第二基站按照預設規則依次選擇多個映射矩陣中的一個通過信道測量導頻對所述終端進行下行信道測量。