[發明專利]改變抗體對抗原的親和性的方法及該親和性被改變的抗體在審
| 申請號: | 201711497658.8 | 申請日: | 2017-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN108250294A | 公開(公告)日: | 2018-07-06 |
| 發明(設計)人: | 前田真吾;福永淳 | 申請(專利權)人: | 希森美康株式會社 |
| 主分類號: | C07K16/28 | 分類號: | C07K16/28;C07K16/26;C07K16/40;C07K16/08 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038 | 代理人: | 鄭天松 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 抗體 親和性 抗原 互補性決定區域 氨基酸殘基 氨基酸序列 荷電氨基酸 殘基取代 框架區域 電特性 對抗 制造 | ||
1.控制抗體對于抗原的親和性的方法,其中在基于互補性決定區域(CDR)的氨基酸序列的CDR的電特性是中性或負電荷的抗體中,將根據Chothia法定義的框架區域3(FR3)的至少3個氨基酸殘基用荷電氨基酸殘基取代。
2.權利要求1所述的方法,其中在上述CDR的電特性是中性的抗體中,通過將FR3的至少3個氨基酸殘基用酸性氨基酸殘基取代,使抗體對于抗原的親和性與未改變的抗體比降低。
3.權利要求1或2所述的方法,其中在上述CDR的電特性是中性的抗體中,通過將FR3的至少3個氨基酸殘基用堿性氨基酸殘基取代,使抗體對于抗原的親和性與未改變的抗體比提高。
4.權利要求1~3之任一項所述的方法,其中在上述CDR的電特性是負電荷的抗體中,通過將FR3的至少3個氨基酸殘基用酸性氨基酸殘基取代,使抗體對于抗原的親和性與未改變的抗體比降低。
5.權利要求1~4之任一項所述的方法,其中上述FR3是輕鏈的FR3。
6.權利要求1~5之任一項所述的方法,其中上述CDR的電特性由以下的式(I)確定。
X=[CDR的氨基酸序列中的堿性氨基酸殘基的數]-[CDR的氨基酸序列中的酸性氨基酸殘基的數]…(I)
式中,
當X是-1、0或1時,CDR的電特性是中性,
當X是2以上時,CDR的電特性是正電荷,
當X是-2以下時,CDR的電特性是負電荷。
7.權利要求1~6之任一項所述的方法,其中上述至少3個氨基酸殘基選自上述根據Chothia法定義的
輕鏈的FR3的第53~81位的氨基酸殘基、或
重鏈的FR3的第56~88位的氨基酸殘基。
8.權利要求1~7之任一項所述的方法,其中上述抗體是抗體片段的形態。
9.權利要求8所述的方法,其中上述抗體片段是Fab片段。
10.對于抗原的親和性發生改變的抗體的制造方法,其包括:
在基于互補性決定區域(CDR)的氨基酸序列的CDR的電特性是中性或負電荷的抗體中,將根據Chothia法定義的框架區域3(FR3)的至少3個氨基酸殘基用荷電氨基酸殘基取代的工序,及
回收在上述取代工序中得到的抗體的工序。
11.權利要求10所述的方法,其中上述取代工序是:
在上述CDR的電特性是中性的抗體中,將上述FR3的至少3個氨基酸殘基用酸性氨基酸殘基取代,使抗體對于抗原的親和性與未改變的抗體比降低的工序、
在上述CDR的電特性是中性的抗體中,將上述FR3的至少3個氨基酸殘基用堿性氨基酸殘基取代,使抗體對于抗原的親和性與未改變的抗體比提高的工序、或者
在上述CDR的電特性是負電荷的抗體中,將上述FR3的至少3個氨基酸殘基用酸性氨基酸殘基取代,使抗體對于抗原的親和性與未改變的抗體比降低的工序。
12.權利要求10或11所述的方法,其中在確定上述電特性的工序中,CDR的電特性由以下的式(I)確定。
X=[CDR的氨基酸序列中的堿性氨基酸殘基的數]-[CDR的氨基酸序列中的酸性氨基酸殘基的數]…(I)
式中,
當X是-1、0或1時,CDR的電特性是中性,
當X是2以上時,CDR的電特性是正電荷,
當X是-2以下時,CDR的電特性是負電荷。
13.權利要求10~12之任一項所述的方法,其中上述FR3是輕鏈的FR3。
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