[發明專利]過覆蓋小區定位方法、裝置、設備及介質有效
| 申請號: | 201711494773.X | 申請日: | 2017-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN109996279B | 公開(公告)日: | 2022-06-03 |
| 發明(設計)人: | 徐樺 | 申請(專利權)人: | 中國移動通信集團湖北有限公司;中國移動通信集團公司 |
| 主分類號: | H04W24/08 | 分類號: | H04W24/08;H04W24/10;H04W64/00 |
| 代理公司: | 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258 | 代理人: | 賀琳 |
| 地址: | 430023 湖*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 覆蓋 小區 定位 方法 裝置 設備 介質 | ||
1.一種過覆蓋小區定位方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取待確定區域的測量報告MR數據和工參數據;
根據所述MR數據和工參數據,將所述待確定區域中的MR數據進行空間柵格化定位,獲取所述待確定區域的MR空間定位信息;
根據所述MR空間定位信息和所述待確定區域的小區泰森圖,確定所述待確定區域中的過覆蓋小區;
其中,所述根據所述MR空間定位信息和所述待確定區域的小區泰森圖,確定所述待確定區域中的過覆蓋小區,包括:
根據所述MR空間定位信息確定所述待確定區域中的MR定位點;
根據MR定位點、所述待確定區域的小區泰森圖、鄰接覆蓋門限和過覆蓋門限,確定MR定位點是否為過覆蓋點;
根據確定出的過覆蓋點確定所述待確定區域中的過覆蓋小區;
其中,所述根據MR定位點、所述待確定區域的小區泰森圖、鄰接覆蓋門限和過覆蓋門限,確定MR定位點是否為過覆蓋點,包括:
獲取MR定位點和所述MR定位點的主服務小區之間的連線;
根據所述待確定區域的小區泰森圖和所述連線,利用泰森圖切割算法,計算所述連線穿越的小區數量;
根據所述連線穿越的小區數量、鄰接覆蓋門限和過覆蓋門限,確定所述MR定位點是否為過覆蓋點。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述MR數據和工參數據,將所述待確定區域中的MR數據進行柵格化定位,獲取所述待確定區域的MR空間定位信息,包括:
根據柵格劃分信息和所述工參數據,確定所述待確定區域的空間柵格;
利用3D射線傳播模型計算所述待確定區域的空間柵格內各小區的場強信息,得到所述待確定區域的空間柵格內各小區的場強特征向量;
根據所述待確定區域的空間柵格內各小區的場強特征向量,獲取所述待確定區域的空間柵格指紋庫;
根據MR數據校正所述空間柵格指紋庫,獲取所述待確定區域的空間柵格指紋校正庫;
基于所述空間柵格指紋校正庫,將MR數據進行空間柵格定位,獲取所述待確定區域的MR空間定位信息。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述將MR數據進行空間柵格定位,獲取所述待確定區域的MR空間定位信息,包括:
按照最小歐式距離算法,將MR數據和所述空間柵格指紋庫的空間柵格指紋中的場強特征向量進行匹配;
將與MR數據匹配的場強特征向量所在的空間柵格,確定為MR數據的空間定位柵格;
根據MR數據的空間定位柵格,確定所述待確定區域的MR空間定位信息。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
根據過覆蓋小區的覆蓋參數和調整步長,獲取所述過覆蓋小區的覆蓋參數計算值;
根據所述覆蓋參數計算值,利用垂直天線方位圖增益差值算法計算所述過覆蓋小區的天線增益變化值;
根據所述天線增益變化值仿真所述過覆蓋小區的覆蓋信息;
根據仿真出的覆蓋信息和所述天線增益變化值確定所述過覆蓋小區的覆蓋調整值。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,根據仿真出的覆蓋信息和所述天線增益變化值確定所述過覆蓋小區的覆蓋調整值,包括:
根據仿真出的覆蓋信息、所述天線增益變化值、弱覆蓋權重和過覆蓋權重對所述覆蓋參數計算值進行迭代計算;
將滿足迭代收斂條件的覆蓋參數計算值,確定為所述過覆蓋小區的覆蓋調整值。
6.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
將所述待確定區域中的過覆蓋小區利用基于密度的聚類算法進行拆分,獲取過覆蓋聚類區域;
根據過覆蓋小區的覆蓋參數和調整步長,獲取所述過覆蓋小區的覆蓋參數計算值,包括:
在各所述過覆蓋聚類區域中,根據過覆蓋小區的覆蓋參數和調整步長,獲取所述過覆蓋小區的覆蓋參數計算值。
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