[發(fā)明專利]一種基于雙譜線特征的標(biāo)準(zhǔn)溫度法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711494073.0 | 申請(qǐng)日: | 2017-12-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108225569B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-10-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蔣凡;李誠(chéng);陳樹(shù)君;李元鋒 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01J5/00 | 分類號(hào): | G01J5/00 |
| 代理公司: | 北京思海天達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11203 | 代理人: | 劉萍 |
| 地址: | 100124 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電弧 兩幅圖像 窄帶圖像 測(cè)量 雙譜線 溫度法 相機(jī) 溫度測(cè)量領(lǐng)域 弧光 熱等離子體 窄帶濾光片 待測(cè)目標(biāo) 電弧中心 迭代重建 發(fā)射系數(shù) 分光系統(tǒng) 高速相機(jī) 焊接電弧 譜線測(cè)量 一次曝光 原子譜線 自動(dòng)判別 最大曝光 暗電流 低溫區(qū) 光子 次電 光強(qiáng) 算法 成像 溢出 還原 判定 三維 采集 保證 | ||
一種基于雙譜線特征的標(biāo)準(zhǔn)溫度法,涉及熱等離子體溫度測(cè)量領(lǐng)域。該方法通過(guò)分光系統(tǒng)將焊接電弧分成兩個(gè)相同的待測(cè)目標(biāo),再用高速相機(jī)和窄帶濾光片分別測(cè)量?jī)墒娀』」猓⒌贸鲈幼V線和一次電離譜線。為了克服相機(jī)暗電流、光子溢出等因素帶來(lái)的誤差,同時(shí)又需要在一次曝光中保證兩幅電弧窄帶圖像的成像質(zhì)量,兩幅圖像中最高光強(qiáng)值應(yīng)均不低于相機(jī)最大測(cè)量范圍的50%。測(cè)量中,應(yīng)將兩幅電弧窄帶圖像最高亮度值控制在最大曝光量的80?90%。利用ML?EM迭代重建算法還原為三維電弧發(fā)射系數(shù)場(chǎng)。該發(fā)明采集的兩幅圖像具有良好的時(shí)間、空間一致性;完成電弧的高、低溫區(qū)自動(dòng)判別,解決了單譜線測(cè)量過(guò)程中無(wú)自動(dòng)法判定電弧中心區(qū)域溫度的問(wèn)題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及基于雙譜線特征的標(biāo)準(zhǔn)溫度法,屬于熱等離子體溫度測(cè)量領(lǐng)域。
背景技術(shù)
等離子弧作為一種高能束熱源,以其焊接形變小、焊后無(wú)缺陷等優(yōu)勢(shì),成為航空航天領(lǐng)域首選的焊接方式。但是等離子弧作為能量傳輸?shù)妮d體,有著能量分布不均勻的缺陷,因此電弧溫度場(chǎng)信息對(duì)進(jìn)一步提高等離子弧焊接工藝提供了重要的理論依據(jù)。然而等離子弧的溫度非常高,探針和熱電偶都很難達(dá)到測(cè)溫要求,而且接觸式的測(cè)溫方式會(huì)對(duì)電弧溫度場(chǎng)的測(cè)量造成干擾,所以選用非接觸式測(cè)量方法。
標(biāo)準(zhǔn)溫度法就是非接觸式測(cè)溫法中常用的一中方法。隨著近年來(lái),研究人員將標(biāo)準(zhǔn)溫度法測(cè)溫原理和先進(jìn)的視覺(jué)傳感技術(shù)相結(jié)合,因?yàn)槠渚哂辛己玫臅r(shí)間、空間分別率,這種方法被作為測(cè)量電弧溫度場(chǎng)的一種重要手段而廣泛被國(guó)內(nèi)、外研究者使用。M FThornton測(cè)量了不同波長(zhǎng)的Ar譜線,用標(biāo)準(zhǔn)溫度法完成了TIG電弧的溫度計(jì)算,最后比較了不同譜線下溫度計(jì)算結(jié)果的差異。吳林等人利用標(biāo)準(zhǔn)溫度法測(cè)量了不同電流下的直流TIG電弧和脈沖TIG電弧溫度場(chǎng)。上海交通大學(xué)的肖笑等人,通過(guò)兩條光譜線,用標(biāo)準(zhǔn)溫度法測(cè)量了多組分保護(hù)氣的TIG電弧溫度場(chǎng)。
標(biāo)準(zhǔn)溫度法測(cè)量的必要條件是電弧內(nèi)部最高溫度超過(guò)特征譜線的標(biāo)準(zhǔn)溫度,因此研究者往往選取一條Ar原子躍遷時(shí)發(fā)出的線光譜來(lái)計(jì)算電弧溫度,當(dāng)空間某一位置達(dá)到譜線標(biāo)準(zhǔn)溫度后,該處發(fā)射系數(shù)達(dá)到最大值,隨著溫度的升高或降低,發(fā)射系數(shù)開(kāi)始降低,在超過(guò)譜線標(biāo)準(zhǔn)溫度的待測(cè)區(qū)域產(chǎn)生弧光降低的現(xiàn)象,導(dǎo)致根據(jù)一條譜線的發(fā)射系數(shù)場(chǎng)信息無(wú)法直接判定其高溫區(qū)域,只能通過(guò)人為判定的方式來(lái)計(jì)算電弧溫度。日本大阪大學(xué)的Kazufumi Nomura等人選取696.5nm的ArI譜線測(cè)量TIG電弧溫度,在每層電弧截面下,人為將發(fā)射系數(shù)向中心呈下降趨勢(shì)的區(qū)域認(rèn)定為超過(guò)譜線標(biāo)準(zhǔn)溫度的高溫區(qū)。對(duì)此,為增加高溫區(qū)判定的準(zhǔn)確性以及智能性,在測(cè)量系統(tǒng)中引入一套電弧高低溫區(qū)域自動(dòng)判定系統(tǒng)是十分有必要的。
發(fā)明內(nèi)容:
技術(shù)問(wèn)題:針對(duì)單譜線標(biāo)準(zhǔn)溫度法無(wú)法自動(dòng)判別發(fā)射系數(shù)極小處的溫度值得缺陷,本發(fā)明基于標(biāo)準(zhǔn)溫度法的測(cè)溫原理,提出一種雙譜線測(cè)量方法,旨在保證兩條譜線具有良好的時(shí)間、空間一致性;結(jié)合兩條譜線的發(fā)射系數(shù)場(chǎng)信息標(biāo)定電弧的高溫區(qū)和低溫區(qū),完成電弧的高、低溫區(qū)自動(dòng)判別,解決了單譜線測(cè)量過(guò)程中無(wú)自動(dòng)法判定電弧中心區(qū)域溫度的問(wèn)題,并為電弧溫度實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)的實(shí)現(xiàn)提供更多可能。
本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題采取的技術(shù)方案為:一種基于雙譜線特征的標(biāo)準(zhǔn)溫度法,包括以下步驟:
1、參照焊接電弧的位置,搭建測(cè)量光路。焊槍與工件之間的區(qū)域?yàn)殡娀】臻g,將電弧中心、起偏器、分光鏡呈直線排布,并保證三者的中心線垂直于電弧中心。通過(guò)分光模塊將電弧光源向一個(gè)角度發(fā)出的待測(cè)光分成兩束,然后通過(guò)反射鏡分別送入高速相機(jī)中,在兩個(gè)反射鏡前分別加入波長(zhǎng)不同的窄帶濾光片以獲取原子譜線和一次電離譜線的空間分布,其中,分光鏡、反射鏡和高速相機(jī)處于在同一平面上。
2、通過(guò)一次曝光同時(shí)采集電弧發(fā)出的原子譜線和一次電離譜線兩條譜線的窄帶圖像,以保證兩幅圖像具有良好的時(shí)間、空間一致性。為了克服相機(jī)暗電流、光子溢出等因素給測(cè)量結(jié)果帶來(lái)的誤差,同時(shí)又需要在一次曝光中保證兩幅電弧窄帶圖像的成像質(zhì)量,兩幅圖像中最高光強(qiáng)值應(yīng)均不低于相機(jī)最大測(cè)量范圍的50%。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京工業(yè)大學(xué),未經(jīng)北京工業(yè)大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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