[發明專利]一種物體位置檢測方法及系統有效
| 申請號: | 201711493384.5 | 申請日: | 2017-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN108061543B | 公開(公告)日: | 2021-07-09 |
| 發明(設計)人: | 胡淼龍 | 申請(專利權)人: | 浙江維思無線網絡技術有限公司 |
| 主分類號: | G01C15/00 | 分類號: | G01C15/00;G01B11/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 314036 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 物體 位置 檢測 方法 系統 | ||
1.一種物體位置檢測方法,包括:
經過第一基準位置對應的第一基準點發射面狀激光波束,使所述面狀激光波束的不同部分分別對第二基準位置對應的第二基準點和第三基準位置對應的第三基準點同時照射;
將經過所述第一基準點照向第二和第三基準點的面狀激光波束的波束面作為第一觀測基準面,使用第一測量光靶獲取待測物體的位置參照點相對于該第一觀測基準面的位置或位移;具體包括如下至少一種步驟:
使用第一測量光靶獲取待測物體的位置參照點相對于處于豎立狀態的第一觀測基準面的橫向位置或位移;
使用第一測量光靶獲取待測物體的位置參照點相對于處于平置狀態的第一觀測基準面的豎向位置或位移;
移動第一測量光靶使其包含的待測物體的位置參照點的位置變化體現出待測物體表面的位置變化,獲取位置參照點移動至不同位置上時相對于處于豎立狀態的第一觀測基準面的橫向位置偏移量,使用該偏移量確定待測物體表面的橫向位置變化;以及
移動第一測量光靶使其包含的待測物體的位置參照點的位置變化體現出待測物體表面的位置變化,獲取位置參照點移動至不同位置上時相對于處于平置狀態的第一觀測基準面的豎向位置偏移量,使用該偏移量確定待測物體表面的豎向位置變化;
其中,
所述面狀激光波束,是指波束的橫截面形狀中或波束照射在與波束主傳播方向相垂直的平面上所形成的光斑中包含一字形狀的激光波束;
第二基準點對應第一觀測基準面第一基準光靶,該第一基準光靶用于獲取面狀激光波束在第二基準位置處的照射位置,第三基準點對應第一觀測基準面第二基準光靶,該第二基準光靶用于獲取面狀激光波束在第三基準位置處的照射位置。
2.如權利要求1所述的方法,其中,
所述經過第一基準位置對應的第一基準點發射面狀激光波束,使所述面狀激光波束的不同部分分別對第二基準位置對應的第二基準點和第三基準位置對應的第三基準點同時照射,包括:
獲取面狀激光波束對第二基準位置處的第一基準光靶和第三基準位置處的第二基準光靶的照射位置信息;
使用面狀激光波束對所述第一和第二基準光靶的照射位置信息,以第一軸線和第二軸線中的至少一個為轉軸轉動光反射單元使所述面狀激光波束的不同部分分別對第二基準位置對應的第二基準點和第三基準位置對應的第三基準點同時照射。
3.如權利要求2所述的方法,其中,
所述獲取面狀激光波束對第二基準位置處的第一基準光靶和第三基準位置處的第二基準光靶的照射位置信息,包括:
使用第一、第二和第三基準位置的坐標信息確定第一基準位置與第二和第三基準位置間的方向關系,或使用第一、第二和第三基準點的坐標信息確定由第一、第二和第三基準點確定的平面的方向或位置關系;或
獲取面狀激光波束的第一部分照射在位于第二基準位置的第一基準光靶上的位置與第二基準點間的相對位置關系,以及獲取面狀激光波束的第二部分照射在位于第三基準位置的第二基準光靶上的位置與第三基準點間的相對位置關系。
4.如權利要求1至3任一項所述的方法,還包括:
經過第四基準位置對應的第四基準點發射面狀激光波束,使所述面狀激光波束的不同部分分別對第五基準位置對應的第五基準點和第六基準位置對應的第六基準點同時照射;
將經過所述第四基準點照向第五和第六基準點的面狀激光波束的波束面作為第二觀測基準面,使用第二測量光靶獲取待測物體的位置參照點相對于該觀測基準面的位置或位移;
其中,
第二觀測基準面與第一觀測基準面相交或垂直,使用第一觀測基準面獲取待測物體的位置參照點在第一維度上相對于該第一觀測基準面的位置或位移,使用第二觀測基準面獲取所述待測物體的位置參照點在第二維度上相對于該第二觀測基準面的位置或位移;
第五基準點對應第二觀測基準面第一基準光靶,該第二觀測基準面第一基準光靶用于獲取面狀激光波束在第五基準位置處的照射位置,第六基準點對應第二觀測基準面第二基準光靶,該第二觀測基準面第二基準光靶用于獲取面狀激光波束在第六基準位置處的照射位置。
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