[發明專利]飛針測試的基準網絡選取方法和裝置有效
| 申請號: | 201711491630.3 | 申請日: | 2017-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN108196182B | 公開(公告)日: | 2020-04-21 |
| 發明(設計)人: | 張恂;王星;歐陽云軒;翟學濤;楊朝輝;高云峰 | 申請(專利權)人: | 大族激光科技產業集團股份有限公司;深圳市大族數控科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 石佩 |
| 地址: | 518051 廣東省深圳市南*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試 基準 網絡 選取 方法 裝置 | ||
一種飛針測試的基準網絡選取方法、裝置、計算機設備和存儲介質,該方法包括:獲取待測印刷電路板中基準網絡、層號、基準網絡和測試網絡之間的對應關系;獲取測點數量最多的基準網絡參考層號;根據層號與基準網絡的對應關系,將層號與參考層號一致基準網絡作為備選基準網絡;根據測試網絡和基準網絡的對應關系,確定各備選基準網絡對應的測試網絡;各備選基準網絡為測試網絡的選取結果。通過基準網絡與層、測試網絡之間的關系,獲取與測點數量最多的基準網絡,并將其作為備選的基準網絡,確定備選基準網絡對應的測試網絡后便可得出備選的基準網絡是合適的基準網絡,步驟簡單有效,能夠很好的提升合適的基準網絡的選取效率。
技術領域
本發明涉及飛針測試技術領域,特別是涉及一種飛針測試的基準網絡選取方法、裝置、計算機設備和存儲介質。
背景技術
在利用飛針測試機對印制電路板(PCB)進行測試時,測試人員會利用CAM軟件將PCB的GerBer文件轉換成飛針設備測試用的Ipc文件,通常一塊PCB上有數千甚至上萬的測試點,如果僅僅通過利用歐姆定律對各個網絡進行電阻測量來判斷線路的是否存在異常則需要大量的時間,因此目前通常采用電容法結合電阻驗證的方法來判斷線路是否存在異常。
電容測試法是將一個弦波的信號加入基準網絡,由線路層來取得相位落后的角度,從而取得電容值,最后通過比較電容值與良品電容值的大小來判斷線路是否存在異常,然后再用電阻法來驗證,而此方法的關鍵就是基準網絡的選取,因為每個待測網絡一般會有多條基準網絡,只有選取最合適的基準網絡才能獲取準確的電容值。
但是在現有技術中,往往采用實際測量的方式來獲取基準網絡,每條待測網絡可能存在多條基準網絡,實際測量會依次獲取待測網絡相對于每條基準網絡的電容值,然后找出最大電容值對應的基準網絡作為最終的基準網絡。這種選取方法勢必導致飛針整機測試效率的降低。
發明內容
基于此,有必要針對實際測量獲取基準網絡導致測試效率降低的問題,提供一種飛針測試的基準網絡選取方法、裝置、計算機設備和存儲介質。
一種飛針測試的基準網絡選取方法,包括:
獲取待測印刷電路板中的所有基準網絡、層號與基準網絡的對應關系,以及測試網絡和基準網絡的對應關系;
獲取測點數量最多的基準網絡所在的參考層號;
根據層號與基準網絡的對應關系,將層號與獲取的參考層號一致基準網絡作為備選基準網絡;
根據測試網絡和基準網絡的對應關系,確定各備選基準網絡所對應的測試網絡;各備選基準網絡為測試網絡的選取結果。
在一個實施例中,飛針測試的基準網絡選取方法還包括:當根據層號與基準網絡的對應關系,不存在層號與獲取的參考層號一致基準網絡時,刪除參考層號所對應的基準網絡;
返回獲取測點數量最多的基準網絡所在的參考層號的步驟,直至存在層號與獲取的參考層號一致基準網絡。
在一個實施例中,獲取待測印刷電路板中的所有基準網絡、層號與基準網絡的對應關系,以及測試網絡和基準網絡的對應關系的步驟,包括:
讀取被測印刷線路板的測試文件;
根據測試文件,得到待測印刷電路板中的所有基準網絡、層號與基準網絡的對應關系,以及測試網絡和基準網絡的對應關系。
在一個實施例中,根據測試文件,得到待測印刷電路板中的所有基準網絡、層號與基準網絡的對應關系,以及測試網絡和基準網絡的對應關系的步驟,包括:
將每條待測網絡的所有基準網絡存儲于基準網絡集合中;
將基準網絡按層存儲;
將測試網絡與基準網絡結合存儲。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于大族激光科技產業集團股份有限公司;深圳市大族數控科技有限公司,未經大族激光科技產業集團股份有限公司;深圳市大族數控科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711491630.3/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種芯片測試模式進入方法、進入系統及芯片
- 下一篇:軟硬結合板測試治具





