[發(fā)明專利]手持式LIBS光學(xué)系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711488512.7 | 申請(qǐng)日: | 2017-12-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108037111A | 公開(公告)日: | 2018-05-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李銳;俞曉峰;喻正寧 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 杭州譜育科技發(fā)展有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/71 | 分類號(hào): | G01N21/71;G01N21/01 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 310052 浙江省杭州市*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 手持 libs 光學(xué)系統(tǒng) | ||
1.一種手持式LIBS光學(xué)系統(tǒng),包括激光器、檢測(cè)器,其特征在于:所述光學(xué)系統(tǒng)還包括:
二色鏡,所述激光器發(fā)射的激光透過所述二色鏡;
第一透鏡,透過所述二色鏡的激光經(jīng)所述第一透鏡匯聚,將光斑聚焦在樣品表面;
第二透鏡,樣品表面發(fā)出的特征光由第一透鏡匯聚、二色鏡反射后經(jīng)所述第二透鏡耦合進(jìn)入光纖;
第三透鏡,從所述光纖輸出的特征光經(jīng)第三透鏡匯聚至狹縫;
凹面光柵,所述凹面光柵將狹縫出射的特征光分光,并經(jīng)第四透鏡后進(jìn)入檢測(cè)器檢測(cè);所述狹縫、凹面光柵和檢測(cè)器的兩端位于直徑等于所述凹面光柵曲率半徑的羅蘭圓圓周上;
第四透鏡,所述第四透鏡對(duì)光程差進(jìn)行補(bǔ)償,使得分光后的特征光從凹面光柵經(jīng)第四透鏡到達(dá)檢測(cè)器的光程與從凹面光柵不經(jīng)過第四透鏡直接到羅蘭圓圓周的光程相等。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)系統(tǒng),其特征在于:所述第四透鏡為柱透鏡,所述柱透鏡的兩端呈楔形。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)系統(tǒng),其特征在于:所述柱透鏡為平凸柱面鏡,鄰近凹面光柵的一側(cè)為曲面,對(duì)所述特征光進(jìn)行匯聚。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光學(xué)系統(tǒng),其特征在于:所述柱透鏡到檢測(cè)器成像面的距離f=R/(n-1),R為柱透鏡曲面的曲率半徑,n為柱透鏡材料的折射率。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光學(xué)系統(tǒng),其特征在于:所述柱透鏡固定在檢測(cè)器的表面。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)系統(tǒng),其特征在于:所述凹面光柵、第四透鏡和檢測(cè)器構(gòu)成一組測(cè)量光路,所述光學(xué)系統(tǒng)包括至少二組測(cè)量光路,第一組測(cè)量光路的入射光為狹縫出射的特征光,其他組測(cè)量光路的入射光為前一組測(cè)量光路中凹面光柵的0級(jí)光。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光學(xué)系統(tǒng),其特征在于:所述檢測(cè)器兩端在羅蘭圓圓周上的位置由波長(zhǎng)測(cè)量范圍決定。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一所述的光學(xué)系統(tǒng),其特征在于:所述檢測(cè)器為陣列探測(cè)器。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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