[發(fā)明專利]一種電磁灶上測(cè)溫目標(biāo)體的測(cè)溫裝置及測(cè)溫方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711487693.1
• 申請(qǐng)日: 2017-12-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN109990900A
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-07-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李元秋;嚴(yán)力峰;鐘健
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 寧波方太廚具有限公司
• 主分類號(hào): G01J5/00
• 分類號(hào): G01J5/00
• 代理公司: 寧波誠(chéng)源專利事務(wù)所有限公司 33102
• 代理人: 徐雪波;王瑩

本發(fā)明涉及一種電磁灶上測(cè)溫目標(biāo)體的測(cè)溫裝置，包括位于電磁灶面板的下方的紅外探頭、紅外光源，設(shè)置在電磁灶面板上并位于電磁灶面板上的紅外檢測(cè)區(qū)域旁的溫度檢測(cè)元件，與紅外探頭、紅外光源、溫度檢測(cè)元件電連接的控制器，紅外光源位于紅外探頭旁且與紅外探頭在電磁灶面板上的檢測(cè)區(qū)域相匹配，紅外探頭內(nèi)具有溫敏器件。本發(fā)明還涉及一種電磁灶上測(cè)溫目標(biāo)體的測(cè)溫方法，在實(shí)時(shí)計(jì)算測(cè)溫目標(biāo)體的紅外參數(shù)，同時(shí)實(shí)時(shí)獲取電磁灶面板溫度、電路板溫度，以及實(shí)時(shí)獲取的紅外探頭獲取的能量的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)測(cè)溫目標(biāo)體溫度的計(jì)算。本發(fā)明中的測(cè)溫裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，測(cè)定方法操作方便容易，并且獲取的溫度數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及溫度檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種電磁灶上測(cè)溫目標(biāo)體的測(cè)溫裝置，還涉及一種電磁灶上測(cè)溫目標(biāo)體的測(cè)溫方法。

背景技術(shù)

在現(xiàn)有測(cè)溫技術(shù)中，有接觸測(cè)溫和非接觸測(cè)溫兩大類。接觸測(cè)溫一般使用熱敏電阻或是熱電偶等熱敏器件。接觸測(cè)溫本身就會(huì)有延遲，因?yàn)榇郎y(cè)物體要傳熱給熱敏器件，才能進(jìn)行測(cè)量。并且熱敏器件的溫度耐受能力有限，應(yīng)用在高溫器件測(cè)溫環(huán)境中老化速度快，并且在一些應(yīng)用環(huán)境中也無(wú)法實(shí)現(xiàn)與測(cè)溫目標(biāo)物的直接接觸，應(yīng)用范圍受限。

非接觸測(cè)溫主要是紅外測(cè)溫，通常采用紅外探頭進(jìn)行測(cè)溫。紅外探頭主要利用輻射熱效應(yīng)，使得使探測(cè)器件接收輻射能后引起溫度升高，進(jìn)而使紅外探頭中某一性能隨著溫度的變化而發(fā)生變化，進(jìn)而獲取溫度信號(hào)。

根據(jù)光學(xué)原理，α+ρ+τ＝1，其中α表示吸收率，ρ表示反射率，τ表示透射率。根據(jù)基爾霍夫定律可知，α＝ε，其中ε表示發(fā)射率，對(duì)于不透明材質(zhì)的物體，τ＝0，則有ε+ρ＝1，即不透明物體表面的反射率越高和發(fā)射率成反比。紅外測(cè)溫中，發(fā)射率的測(cè)定是必須進(jìn)行的工作。而紅外探頭在生產(chǎn)時(shí)會(huì)使用發(fā)射率接近1的黑體進(jìn)行溫度標(biāo)定。不同的生產(chǎn)商選用的黑體的反射率不盡相同，但是紅外探頭中的發(fā)射率則設(shè)定為一個(gè)固定值。同樣溫度的物體，會(huì)因?yàn)椴馁|(zhì)的不同而導(dǎo)致物體的發(fā)射率不同，進(jìn)而會(huì)引起溫度測(cè)量誤差。導(dǎo)致檢測(cè)獲取的溫度結(jié)果會(huì)存在較大的誤差。

電磁灶上放置的鍋具等進(jìn)行測(cè)溫時(shí)，由于有電磁灶的面板阻隔因素，電磁灶上放置物品的紅外測(cè)溫相應(yīng)比較繁瑣。利用電磁灶內(nèi)的紅外探頭對(duì)放置在電磁灶上的物品進(jìn)行測(cè)溫時(shí)，存在以下難題：電磁灶上放置待測(cè)物品表面發(fā)射率未知；面板紅外線透過(guò)率未知；面板也有較高的溫度，也會(huì)發(fā)射紅外線。為了解決這些測(cè)溫的難題，則出現(xiàn)了在面板上對(duì)應(yīng)紅外探頭的位置開(kāi)孔，或是紅外探頭外置。開(kāi)孔會(huì)降低電磁灶面板的強(qiáng)度，存在安全隱患，并且影響電磁灶美觀清潔，實(shí)用性差。而將紅外探頭外置設(shè)置則很難測(cè)量電磁灶上物品底部的溫度，僅能測(cè)量物品側(cè)面的溫度。如此，在測(cè)溫過(guò)程中濺射到紅外探頭上的油污、環(huán)境的腐蝕等外界因素會(huì)直接影響紅外探頭的測(cè)溫精度，存在測(cè)溫干擾因素多、不美觀、不利于清潔等問(wèn)題，實(shí)用性也差。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)提供一種能夠在使用過(guò)程中檢測(cè)測(cè)溫目標(biāo)體的反射率以實(shí)現(xiàn)測(cè)溫目標(biāo)體溫度計(jì)算，進(jìn)而提高溫度檢測(cè)準(zhǔn)確率的電磁灶上測(cè)溫目標(biāo)體的測(cè)溫裝置及測(cè)溫方法。

本發(fā)明解決上述問(wèn)題所采用的技術(shù)方案為：一種電磁灶上測(cè)溫目標(biāo)體的測(cè)溫裝置，其特征在于：包括

紅外探頭，內(nèi)置有能夠獲取溫度信號(hào)的溫敏器件，所述紅外探頭設(shè)置在電磁灶內(nèi)并位于電磁灶面板的下方；

紅外光源，設(shè)置在電磁灶內(nèi)并位于電磁灶面板的下方，所述紅外光源位于紅外探頭旁；

溫度檢測(cè)元件，設(shè)置在所述電磁灶面板上并位于紅外探頭在電磁灶面板上的檢測(cè)區(qū)域旁，用于檢測(cè)電磁灶面板的溫度；

控制器，分別與所述紅外探頭、紅外光源、溫度檢測(cè)元件電連接。

為了能夠獲取電磁灶面板、電路板的紅外參數(shù)，還包括能與所述控制器電連接的備用紅外探頭，所述備用紅外探頭用于放置在電磁灶面板上方與所述紅外探頭呈鏡像對(duì)稱的位置使用。

優(yōu)選地，所述紅外探頭、紅外光源集成設(shè)置在一塊電路板上。