[發明專利]測量樣品熒光特性的分光光度計及方法

在審

• 申請號: 201711486648.4
• 申請日: 2017-12-29
• 公開（公告）號: CN109991197A
• 公開（公告）日: 2019-07-09
• 發明（設計）人: 鮑亞盟
• 申請（專利權）人: 無錫奧芬光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01J3/44
• 代理公司: 無錫市大為專利商標事務所(普通合伙) 32104
• 代理人: 殷紅梅;劉海

1.一種測量樣品熒光特性的分光光度計，其特征是，包括：

光源(20)，用于發出所需之光譜；

第一樣品室(21)，所述第一樣品室(21)用于放置待測樣品，以所述光源(20)發出的未經選擇的光全部入射到第一樣品室(21)；

單色器(22)，單色器(22)將光源(20)的復合光或透過第一樣品室(21)的復合光分解為單色光并能夠隨意改變波長；

第二樣品室(23)，用于放置待測樣品，以所述單色器(22)選擇的全部波長的光入射至第二樣品室(23)；

檢測器(24)，用于將透過待測樣品的光信號轉化為電信號，并將電信號放大；

以及，顯示與存儲系統(25)，用于將檢測器(24)放大的電信號通過儀表顯示出來，并存儲光信號；

所述光源(20)、第一樣品室(21)、單色器(22)、第二樣品室(23)、檢測器(24)和顯示與存儲系統(25)依光路順次連接。

2.如權利要求1所述的測量樣品熒光特性的分光光度計，其特征是：所述光源(20)為鎢燈或氘燈。

3.如權利要求1所述的測量樣品熒光特性的分光光度計，其特征是：所述單色器(22)為棱鏡或光柵。

4.如權利要求1所述的測量樣品熒光特性的分光光度計，其特征是：所述檢測器(24)為光電管或光電倍增管。

5.一種測量樣品熒光特性的方法，其特征是，包括以下步驟：

(1)首先在第一樣品室(21)、第二樣品室(23)中均不放置樣品，進行基線校正；

(2)基線校正完成后，將待測樣品放置在第一樣品室(21)中，光源(20)發出的光未經選擇全部入射到第一樣品室(21)的待測樣品中，部分波段的光被吸收；透過第一樣品室(21)待測樣品的透射光和待測樣品可能發出的熒光或者磷光混合在一起，經單色器(22)分解成單色光照射到檢測器(24)上，得到第一樣品室(21)中待測樣品的第一透射光譜(A)；

(3)將待測樣品放置于第二樣品室(23)中，光源(20)發出的全光譜光通過單色器(22)后變成單色光，單色光入射到第二樣品室(23)的待測樣品中，一些波段的單色光被吸收；透過第二樣品室(23)待測樣品的單色光和待測樣品可能發出的熒光或者磷光疊加后照射到檢測器(24)上，得到第二樣品室(23)中待測樣品的第二透射光譜(B)。

(4)分析第一透射光譜(A)、第二透射光譜(B)的光譜數據，兩者相同，說明待測樣品不具有熒光特性；如果兩者數據在某一波段內存在差異，說明待測樣品具有熒光特性；第一透射光譜(A)與第二透射光譜(B)之間的差值即近似為待測樣品的熒光光譜。