[發明專利]一種雷達頭罩激光毀傷效應實時測試方法及裝置

有效

• 申請號: 201711486020.4
• 申請日: 2017-12-30
• 公開（公告）號: CN108459306B
• 公開（公告）日: 2021-11-26
• 發明（設計）人: 張慧媛;嚴軍;胡黎明;武春風;李強;姜永亮;姜正;于虹;王猛
• 申請（專利權）人: 湖北航天技術研究院總體設計所
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 武漢智匯為專利代理事務所(普通合伙) 42235
• 代理人: 樊黎

1.一種雷達頭罩激光毀傷效應實時測試方法，其特征在于包括如下步驟：

步驟一、建立激光器系統、雷達頭罩靶標和毀傷參數測試系統；所述激光器系統輸出不同功率的激光，實現從不同入射方向輻照不同部位的雷達頭罩靶標；

所述毀傷參數測試系統包括高速攝像機、波導、矢量網絡分析儀，高速攝像機記錄激光輻照過程中雷達頭罩靶標表面毀傷形貌變化過程，矢量網絡分析儀產生一定參數的微波信號，在雷達頭罩靶標上布置波導，進行微波信號的收發，測試并獲得經過雷達頭罩靶標傳輸后的微波信號幅值及相位的變化值；

步驟二、毀傷參數測試系統記錄激光輻照過程中所述雷達頭罩靶標表面毀傷形貌變化過程；

步驟三、毀傷參數測試系統產生一定參數的微波信號，在雷達頭罩靶標布置波導，進行微波信號的收發；

步驟四、毀傷參數測試系統測試并獲得經過雷達頭罩靶標傳輸后的微波信號幅值及相位的變化值；

步驟五、建立激光參數，雷達頭罩靶標表面毀傷形貌，微波傳輸幅值、相位的變化三者的關系。

2.根據權利要求1所述的實時測試方法，其特征在于，所述步驟一中，通過調節激光器系統輸入電流值實現輸出不同功率的激光，分光后用功率計測試到不同功率；通過光斑分布測量相機測得不同功率的激光的光斑分布。

3.根據權利要求1所述的實時測試方法，其特征在于，所述步驟二中，具體通過高速攝像機記錄激光輻照過程中所述雷達頭罩靶標表面毀傷形貌變化過程。

4.根據權利要求1所述的實時測試方法，其特征在于所述的步驟三、四中，根據測試雷達頭罩靶標透過的微波信號的頻段，調節矢量網絡分析儀產生相應頻率段的微波，并采用該頻率段的波導進行透過雷達頭罩靶標的試驗，獲得微波透過激光輻照前后的雷達頭罩靶標的幅值與相位變化值。

5.根據權利要求1所述的實時測試方法，其特征在于所述的步驟五中，通過調節激光器輸入電流大小改變激光輸出功率，使入射激光功率由小到大逐漸增加；獲得到靶功率密度由小到大動態變化的過程中，雷達頭罩靶標表面形貌的動態毀傷過程以及微波傳輸幅值及相位的實時變化情況，分析獲得激光參數、雷達頭罩靶標毀傷程度和微波傳輸幅值、相位變化三者的定量關系。

6.根據權利要求1～5中任一項所述的雷達頭罩激光毀傷效應實時測試方法所使用的裝置，包括激光器系統，雷達頭罩靶標系統和毀傷參數測試系統，

激光器系統包括激光器，擴束裝置，第一分光鏡，第二分光鏡，功率計，漫反射屏，光斑分布測量相機；由激光器輸出的激光通過調節輸入電流值實現不同功率的激光輸出，激光器輸出的光束經過擴束裝置實現光束光斑大小的調整，后經過第一分光鏡分光，其中一束照射到靶標表面，另一束再次經過第二分光鏡分光，其中一束通過功率計獲得激光實時功率值，另一束通過漫反射屏和光斑分布測量相機獲得實時光斑分布；

雷達頭罩靶標系統包括雷達頭罩靶標和靶標調整轉臺，雷達頭罩靶標為雷達頭罩或雷達頭罩靶材，雷達頭罩靶標通過專用夾具放置于靶標調整轉臺上，靶標調整臺可方位、俯仰轉動來實現光束對雷達頭罩靶標的打擊部位及入射方向的調整；

毀傷參數測試系統包括高速攝像機、波導、矢量網絡分析儀，高速攝像機記錄激光輻照過程中雷達頭罩靶標表面毀傷形貌變化過程，矢量網絡分析儀產生一定參數的微波信號，在雷達頭罩靶標上布置波導，進行微波信號的收發，測試并獲得經過雷達頭罩靶標傳輸后的微波信號幅值及相位的變化值。

7.根據權利要求6所述的雷達頭罩激光毀傷效應實時測試方法所使用的裝置，其特征在于所述的波導在頭罩靶標兩邊各布置一個波導。