[發明專利]一種測量復雜絕緣結構表面電位的靜電探頭控制機構及方法

有效

• 申請號: 201711484405.7
• 申請日: 2017-12-29
• 公開（公告）號: CN108205084B
• 公開（公告）日: 2020-03-10
• 發明（設計）人: 潘成;唐炬;羅毅;張曉星;曾福平;肖淞
• 申請（專利權）人: 武漢大學
• 主分類號: G01R29/24
• 分類號: G01R29/24
• 代理公司: 武漢科皓知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 42222
• 代理人: 趙麗影;代文成

本發明公開一種測量復雜絕緣結構表面電位的靜電探頭控制機構及方法，包括被測盆子裝配、絕緣連接桿、傳動組件、驅動組件、電連接部分、靜電探頭運動測量機構，所屬驅動組件具有旋轉軸，旋轉軸與所述傳動組件連接。所述絕緣連接桿的一端用于與所述被測盆子裝配連接，另一端通過傳動組件所述與旋轉軸連接，從而帶動所述被測盆子裝配旋轉。所述靜電探頭運動測量機構能夠在水平方向、垂直方向平移運動以及在垂直平面內旋轉。所述被測盆子裝配的旋轉配合所述靜電探頭運動測量機構的運動從而實現對所述被測盆子裝配的全覆蓋測量。所述被測盆子裝配以及所述靜電探頭運動測量機構均有外部控制機構對其運動進行控制。

技術領域

本發明涉及電荷測量技術領域，特別涉及一種測量復雜絕緣結構表面電位的靜電探頭控制機構及方法。

背景技術

隨著直流輸電技術發展，直流氣體絕緣組合電器（GIS）由于占地面積小、系統運可靠性高，運維成本小等優點受到越來越多的關注。但是由于直流條件下GIS絕緣子表面會大量積聚電荷造成絕緣子周圍電場畸變，從而導致其沿面耐受能力下降。測量絕緣子表面電荷的分布及量級有助于厘清電荷積聚的機理，從而為絕緣子表面電荷抑制及絕緣子形狀優化提供理論支撐。

發明內容

基于此，在現有的技術條件下提供一種測量復雜絕緣結構表面電位的靜電探頭控制機構及方法，該機構及方法能夠同時測量絕緣子凹面及凸面的表面電荷分布。

一種測量復雜絕緣結構表面電位的靜電探頭控制機構，包括被測盆子裝配（9）、絕緣連接桿（11）、傳動組件（12）、驅動組件（13）、電連接部分（14）；所述驅動組件（13）具有旋轉軸，所述旋轉軸與所述傳動組件（12）連接，絕緣連接桿（11）的一端用于與被測盆子裝配（9）連接，另一端通過傳動組件（12）與旋轉軸連接，從而帶動被測盆子裝配（9）旋轉，使得被測盆子裝配（9）能夠配合靜電探頭運動測量機構對其表面實施掃描測量；

還包括鐵鑄手輪（4）、軸封裝配（5）、導電桿（18）、導體支撐（20）、傳動機構（19）、絕緣拉桿（7）；鐵鑄手輪（4）與軸封裝配（5）連接，絕緣拉桿（7）一端與軸封裝配（5）連接，絕緣拉桿（7）另一端與傳動機構（19）連接，導電桿（18）一端與傳動機構（19）連接，導電桿（18）另一端與被測盆子裝配（9）連接，導體支撐（20）內部中空；

還包括盆式絕緣蓋（1）、過渡筒體（2）、試驗專用筒體（3）、蓋板裝配（6）、蓋板（8）、端部蓋板（10）、側面附腔（15）、安裝板（16），所述過渡筒體（2）一端與所述盆式絕緣蓋（1）連接，另一端與所述試驗專用筒體（3）焊接，所述蓋板裝配（6）、所述蓋板（8）安裝于所述試驗專用筒體（3）中部；所述端部蓋板（10）安裝于所述試驗專用筒體（3）的底部，所述側面附腔（15）一端與所述試驗專用筒體（3）焊接，所述安裝板（16）安裝于所述側面附腔（15）的另一端；通過該方式形成密閉的試驗環境，以保持腔體內部的氣體環境穩定；

還包括靜電探頭運動測量機構（17）；靜電探頭運動測量機構（17）安裝于側面腹腔（15）內并固定于安裝板（16）上。