[發(fā)明專(zhuān)利]一種基于VAI表面檢測(cè)系統(tǒng)的缺陷圖片分類(lèi)收集方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711483556.0 | 申請(qǐng)日: | 2017-12-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108242053B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-12-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張悅;楊國(guó)義;唐璇;畢士龍;胡茂林 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 武漢鋼鐵有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06T7/00 | 分類(lèi)號(hào): | G06T7/00;G06T7/62;G06F16/583 |
| 代理公司: | 北京眾達(dá)德權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11570 | 代理人: | 劉杰 |
| 地址: | 430080 湖*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 vai 表面 檢測(cè) 系統(tǒng) 缺陷 圖片 分類(lèi) 收集 方法 | ||
本發(fā)明屬于帶鋼表面檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,公開(kāi)了一種基于VAI表面檢測(cè)系統(tǒng)的缺陷圖片分類(lèi)收集方法,包括:基于缺陷圖片的第一屬性特征值,在待分類(lèi)圖片中篩查滿(mǎn)足第一屬性特征值范圍的第一缺陷圖片組;基于缺陷圖片的第二屬性特征值,在第一缺陷圖片組中篩查滿(mǎn)足第二屬性特征值范圍的初分類(lèi)缺陷圖片,第一屬性特征值包括:缺陷面積、缺陷長(zhǎng)度以及缺陷寬度;第一屬性特征值范圍包括:缺陷面積范圍,缺陷長(zhǎng)度范圍以及缺陷寬度范圍;第二屬性特征值包括:平均灰度值和灰度值標(biāo)準(zhǔn)差;第二屬性特征值范圍包括:平均灰度值范圍和灰度值標(biāo)準(zhǔn)差范圍;第一屬性特征值范圍和第二屬性特征值范圍根據(jù)具體缺陷類(lèi)別確定。本發(fā)明提供一種可靠的分類(lèi)收集缺陷圖片的方法。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及帶鋼表面檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種基于VAI表面檢測(cè)系統(tǒng)的缺陷圖片分類(lèi)收集方法。
背景技術(shù)
VAI線陣表面檢測(cè)系統(tǒng)(下面簡(jiǎn)稱(chēng)VAI)的缺陷圖片分類(lèi)收集是建立VAI缺陷數(shù)據(jù)庫(kù)的重要準(zhǔn)備過(guò)程。主要通過(guò)針對(duì)各種已知缺陷尋找對(duì)應(yīng)的缺陷圖片作為建立數(shù)據(jù)庫(kù)的原始缺陷數(shù)據(jù)。VAI缺陷分類(lèi)收集結(jié)果的好壞直接影響著球形文件的生成以及分類(lèi)器的分類(lèi)效果,因此我們?cè)谶M(jìn)行VAI缺陷圖片分類(lèi)收集時(shí)必須做到缺陷圖片定性準(zhǔn)確。
但是,現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)VAI進(jìn)行分類(lèi)器缺陷圖片收集時(shí)通常是根據(jù)肉眼對(duì)其形貌進(jìn)行觀測(cè),當(dāng)主觀上認(rèn)為其符合某一類(lèi)缺陷特征時(shí),就對(duì)缺陷進(jìn)行定性并收集到該類(lèi)缺陷圖片集中,最后通過(guò)DACDAC(VAI自帶軟件)進(jìn)行運(yùn)算后形成球形文件,最后將此球形文件調(diào)用到檢測(cè)服務(wù)器中對(duì)實(shí)時(shí)檢出缺陷進(jìn)行運(yùn)算分類(lèi)。這樣的缺陷收集方法雖然很直觀,但是受人為主觀因素影響較大,分類(lèi)過(guò)程中出現(xiàn)問(wèn)題不易查找原因,因此用這種方法制成的分類(lèi)器缺陷分類(lèi)準(zhǔn)確率及檢出率比較低。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種基于VAI表面檢測(cè)系統(tǒng)的缺陷圖片分類(lèi)收集方法,解決現(xiàn)有技術(shù)中VAI線陣表面檢測(cè)系統(tǒng)的缺陷數(shù)據(jù)庫(kù)原始缺陷圖片定性分類(lèi)受主觀影響大,可靠性差的技術(shù)問(wèn)題。
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種基于VAI表面檢測(cè)系統(tǒng)的缺陷圖片分類(lèi)收集方法,包括:
基于缺陷的第一屬性特征值,在待分類(lèi)圖片中篩查滿(mǎn)足第一屬性特征值范圍的第一缺陷圖片組;
基于缺陷的第二屬性特征值,在所述第一缺陷圖片組中篩查滿(mǎn)足第二屬性特征值范圍的初分類(lèi)缺陷圖片;
其中,所述第一屬性特征值包括:缺陷面積、缺陷長(zhǎng)度以及缺陷寬度;所述第一屬性特征值范圍包括:缺陷面積范圍,缺陷長(zhǎng)度范圍以及缺陷寬度范圍;
僅當(dāng)待分類(lèi)圖片的缺陷面積、缺陷長(zhǎng)度以及缺陷寬度對(duì)應(yīng)落在缺陷面積范圍,缺陷長(zhǎng)度范圍以及缺陷寬度范圍內(nèi)的情況下,認(rèn)定待分類(lèi)缺陷圖片屬于第一缺陷圖片組;
所述第二屬性特征值包括:平均灰度值和灰度值標(biāo)準(zhǔn)差;所述第二屬性特征值范圍包括:平均灰度值范圍和灰度值標(biāo)準(zhǔn)差范圍;
僅當(dāng)待分類(lèi)圖片的平均灰度值和灰度值標(biāo)準(zhǔn)差對(duì)應(yīng)落在平均灰度值范圍和灰度值標(biāo)準(zhǔn)差范圍內(nèi)的情況下,認(rèn)定待分類(lèi)缺陷圖片屬于初分類(lèi)缺陷圖片;
所述第一屬性特征值范圍和所述第二屬性特征值范圍根據(jù)具體缺陷類(lèi)別確定。
進(jìn)一步地,所述方法還包括:
通過(guò)VAI表面檢測(cè)系統(tǒng)將所述初分類(lèi)缺陷圖片生成對(duì)應(yīng)缺陷的球形文件;
并基于所述球形文件的R屬性和N屬性篩查出所述球形文件中分類(lèi)錯(cuò)誤的缺陷圖片;
將所述分類(lèi)錯(cuò)誤的缺陷圖片剔除;
其中,僅當(dāng)R屬性值小于1且N屬性值大于0的情況下,認(rèn)定初分類(lèi)缺陷圖片分類(lèi)錯(cuò)誤;
所述R屬性值為球形文件的初始半徑,所述N屬性值為被檢圖片同類(lèi)型缺陷圖片被劃為其它缺陷類(lèi)型圖片數(shù)量。
進(jìn)一步地,所述方法還包括:
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于武漢鋼鐵有限公司,未經(jīng)武漢鋼鐵有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711483556.0/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





