[發明專利]一種相控陣超聲檢測能力驗證試塊組及其使用方法

有效

• 申請號: 201711478348.1
• 申請日: 2017-12-29
• 公開（公告）號: CN107941923B
• 公開（公告）日: 2023-08-29
• 發明（設計）人: 郭相吉;杜傳國;徐學堃;龐繼勇;丁成海;齊高君
• 申請（專利權）人: 中國電建集團山東電力建設第一工程有限公司;山東豐匯工程檢測有限公司
• 主分類號: G01N29/30
• 分類號: G01N29/30
• 代理公司: 濟南泉城專利商標事務所 37218
• 代理人: 楊曉旭

本發明涉及無損檢測技術，具體涉及一種相控陣超聲檢測能力驗證試塊組以及使用方法，其包括YZ?Ⅰ型、YZ?Ⅱ型、YZ?Ⅲ型、YZ?Ⅳ型和YZ?Ⅴ型共五個試塊且其厚度依次分別對應為4mm、8mm、15mm、20mm和40mm。每個試塊上根據厚度設置有數個橫通孔以及一對刻槽，提高檢測的可靠性。

技術領域

本發明涉及無損檢測技術，具體涉及一種相控陣超聲檢測能力驗證試塊組及其使用方法。

背景技術

相控陣超聲檢測技術作為一種新的無損檢測技術在電力行業中的應用尚處于發展階段，雖有相控陣超聲檢測工藝標準GB/T?32563-2016《無損檢測?超聲檢測?相控陣超聲檢測方法》頒布實施，但相控陣超聲檢測靈敏度怎么調節及其驗證還未具體明確。目前，相控陣超聲檢測能力驗證通常是在制作的典型焊接缺陷試塊進行驗證。但典型焊接試塊要求的規格種類多（待檢部件規格的管道均需要制作一個），缺陷制作要求嚴，缺陷尺寸精度高，缺陷位置控制難度大等問題，且制作成本較高、周期長，對不同規格型號的管道，不具有統一使用性。上述搜索發現的相關設計專利，并未有效推廣應用。

現有技術中額驗證試塊存在的客觀缺點：

1、目前無正規的常用能力驗證試塊。

2、目前使用的典型焊接缺陷樣管，存在制作種類多、周期長、成本高，工藝要求嚴，缺陷尺寸控制難度大等難點，同時樣管統一性不強。

3、專利號CN201621045864.6的方案用途與本專利相近，但此專利中試塊注重的是表面及根部缺陷的檢出效果，且由于設計的角度較多，在滿足相控陣超聲檢測工藝的條件下，試塊外形將需要制作的特別長，成本太高，現場操作也不方便，同時設計的本方案僅適用于小徑管道。

4、CN201620616251.7專利設計是采用一次波對橫孔進行檢測，能夠實現靈敏度校準，此驗證方法在相控陣DAC或TCG曲線制作試塊上便能完成，無法驗證不同位置的缺陷。

發明內容

為了解決上述問題，本發明提供了一種樣式結構簡單、操作方便、經濟實用的相控陣超聲檢測能力驗證試塊，主要用于驗證檢測工藝是否滿足工作要求及驗證掃查靈敏度能否滿足最小缺陷檢出要求。本設計發明的試塊，通過相控陣超聲檢測技術可直觀驗證工件根部缺陷、近表面缺陷及內部缺陷進行識別，對聚焦法則和掃查靈敏度設定具有很大參考價值，通過對特殊邊界的檢測工藝修訂完善，以達到最佳檢測效果。同時，也可以輔助于檢測結果的評定，便于缺陷大小、深度、性質的判斷；避免了常規需要制作種類繁多的典型焊接樣管進行多次試驗的情況，從經濟、效率、時間等方面均具有明顯優勢。

本發明采用的技術方案如下：

一種相控陣超聲檢測能力驗證試塊組，包括YZ-Ⅰ型、YZ-Ⅱ型、YZ-Ⅲ型、YZ-Ⅳ型和YZ-Ⅴ型共五個試塊且其厚度依次分別對應為4mm、8mm、15mm、20mm和40mm；

所述YZ-Ⅰ型試塊：其長度100mm、寬度30mm、厚度4mm，該YZ-Ⅰ型試塊左端設有一個橫通孔Ⅰ，YZ-Ⅰ型試塊右端上表面和下表面對稱分別設有一個單邊V型坡口刻槽Ⅰ1和刻槽Ⅰ2；

所述YZ-Ⅱ型試塊：其長度100mm、寬度30mm、厚度8mm，該YZ-Ⅱ型試塊左端有兩個平行的橫通孔Ⅱ2和橫通孔Ⅱ3，YZ-Ⅱ型試塊右端上表面和下表面對稱分別設有一個單邊V型坡口刻槽Ⅱ1和刻槽Ⅱ2，所述刻槽Ⅱ1和刻槽Ⅱ2連線的中點位置處設有一個橫通孔Ⅱ1；