[發明專利]一種循環冗余校驗方法、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 201711472801.8
• 申請日: 2017-12-29
• 公開（公告）號: CN108233944A
• 公開（公告）日: 2018-06-29
• 發明（設計）人: 高劍;馮建科;郭士瑞;袁科學;蔣常斌;李杰;閻偉
• 申請（專利權）人: 北京自動測試技術研究所
• 主分類號: H03M13/09
• 分類號: H03M13/09
• 代理公司: 北京汲智翼成知識產權代理事務所(普通合伙) 11381
• 代理人: 陳曦;陳麗

本發明公開了一種循環冗余校驗方法、設備及存儲介質。其中，該循環冗余校驗方法包括如下步驟：將第一校驗碼CSA_i?1和第二校驗碼CSB_i?1作為數據序列P_i的初值與數據序列構成輸入數據序列；分別進行CRC第一校驗模式和CRC第二校驗模式的校驗，得到第一校驗碼CSA_i和第二校驗碼CSB_i，將第一校驗碼CSA_i與上一個數據序列P_i?1的第二校驗碼CSB_i?1連接到一起構成新數據序列；對構成的新數據序列再進行CRC第一校驗模式的校驗，得出數據序列P_i的校驗碼；計數器的數值逐一增加，重復上述步驟，直至所有傳輸的數據序列全部校驗完成，得到所有數據序列的校驗碼。該方法避免了傳統CRC32異或運算的信息丟失，在不增加資源消耗的基礎上，提高了校驗的準確性。

技術領域

本發明涉及一種循環冗余校驗方法、設備及存儲介質，屬于集成電路測試技術領域。

背景技術

為了保證高速數據通信和測試中數據傳輸的可靠性，防止接收端收到的信息產生誤碼，CRC CRC(Cyclic Redundancy Check,循環冗余校驗)算法被廣泛應用。該算法具有編碼簡單，糾錯能力強，誤碼率低的特點，是一種高效的差錯檢測方案。

循環冗余校驗碼的計算一般可分為軟件和硬件實現兩種方法。Martin R,RiehleD,Buschmann F研究了最常用的以按字節查表法和半字節查表法為基礎的軟件實現的方法,Gam D.Nguyen提出了不依賴查找表的軟件實現方法，該方法可以消除或大大減少許多步驟的多項式除法。然而上述軟件算法均無法滿足高速系統校驗的要求。

因此，目前大多數循環冗余校驗碼都使用硬件電路，如通過線性反饋移位寄存器LSFR來實現。這種方法簡單直觀，但每次只能處理一位二進制數據,速度很慢。

為了解決上述問題，CRC并行算法應運而生。該算法可以在一定程度上提高數據處理的速度。但是，在編碼校驗的過程中，有可能發生了出現錯誤而不能被發現的情況，所以必須保證校驗的差錯控制在合理的范圍內。

如果錯誤獨立發生，誤碼率為P，則

P＝[2^-r-2^-n,2^-r] (1)

其中n是編碼長度，r是生成多項式的階。由式(1)可以看出，若要減小誤碼率，需要增加CRC的階數，但會導致傳輸的有效帶寬減少，并且硬件復雜度增加，從而使整個系統性能降低。

而且，傳統的CRC并行算法需要占用大量的存儲資源和邏輯資源，降低了系統的處理性能，所以，一種可以有效地減小誤碼率的新的循環冗余校驗方法成為迫切需求。

發明內容

針對現有技術的不足，本發明所要解決的首要技術問題在于提供一種循環冗余校驗方法。

本發明所要解決的另一技術問題提供一種循環冗余校驗設備。

為實現上述發明目的，本發明采用下述的技術方案：

根據本發明實施例的第一方面，提供一種循環冗余校驗方法，包括如下步驟：

將第一校驗碼CSA_i-1和第二校驗碼CSB_i-1作為數據序列P_i的初值與數據序列構成輸入數據序列；分別進行CRC第一校驗模式和CRC第二校驗模式的校驗，得到第一校驗碼CSA_i和第二校驗碼CSB_i，其中，i為正整數的計數器，i＝1,2,……；CSB₀為N位’0’序列，N為第二校驗碼的二進制位數，CSA₀為M位’0’序列，M為第一校驗碼的二進制位數；