[發明專利]附載體銅箔

在審

• 申請號: 201711470157.0
• 申請日: 2013-11-20
• 公開（公告）號: CN108277509A
• 公開（公告）日: 2018-07-13
• 發明（設計）人: 古曳倫也;永浦友太;坂口和彥
• 申請（專利權）人: JX日礦日石金屬株式會社
• 主分類號: C25D1/04
• 分類號: C25D1/04;C25D7/06;H05K1/09
• 代理公司: 北京戈程知識產權代理有限公司 11314
• 代理人: 程偉;李兵霞

1.一種附載體銅箔，其依序具備載體、剝離層、極薄銅層、及任意的樹脂層，并且極薄銅層表面的Rt的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-2001進行測定而為2.0μm以下，且Rt的標準偏差為0.1μm以下。

2.根據權利要求1所述的附載體銅箔，其中，極薄銅層表面的Rz的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為1.5μm以下，且Rz的標準偏差為0.1μm以下。

3.根據權利要求1所述的附載體銅箔，其中，極薄銅層表面的Ra的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為0.2μm以下，且Ra的標準偏差為0.03μm以下。

4.根據權利要求2所述的附載體銅箔，其中，極薄銅層表面的Ra的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為0.2μm以下，且Ra的標準偏差為0.03μm以下。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的附載體銅箔，其中，極薄銅層表面的Rt的平均值為1.0μm以下。

6.一種附載體銅箔，其依序具備載體、剝離層、極薄銅層、及任意的樹脂層，極薄銅層表面的Rt的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-2001進行測定而為2.0μm以下，且Rt的標準偏差為0.1μm以下，并且滿足以下A)～L)中的一項、二項、三項、四項、五項、六項、七項、八項、九項、十項、十一項或十二項，

A)選自由以下的項目構成的群中的1項：

1:極薄銅層表面的Rz的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為1.5μm以下，

2:極薄銅層表面的Rz的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為1.4μm以下，

3:極薄銅層表面的Rz的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為1.3μm以下，

4:極薄銅層表面的Rz的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為1.2μm以下，

5:極薄銅層表面的Rz的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為1.0μm以下，

6:極薄銅層表面的Rz的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為0.8μm以下，

7:極薄銅層表面的Rz的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為0.5μm以下，

B)選自由以下的項目構成的群中的1項：

1:極薄銅層表面的Rz的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為0.01μm以上，

2:極薄銅層表面的Rz的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為0.1μm以上，

3:極薄銅層表面的Rz的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為0.3μm以上，

C)選自由以下的項目構成的群中的1項：

1:極薄銅層表面的Rz的標準偏差為0.1μm以下，

2:極薄銅層表面的Rz的標準偏差為0.068μm以下，

3:極薄銅層表面的Rz的標準偏差為0.05μm以下，

D):極薄銅層表面的Rz的標準偏差為0.01μm以上，

E)選自由以下的項目構成的群中的1項：

1:極薄銅層表面的Rt的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-2001進行測定而為1.8μm以下，

2:極薄銅層表面的Rt的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-2001進行測定而為1.5μm以下，

3:極薄銅層表面的Rt的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-2001進行測定而為1.3μm以下，

4:極薄銅層表面的Rt的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-2001進行測定而為1.1μm以下，

5:極薄銅層表面的Rt的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-2001進行測定而為1.0μm以下，

F)選自由以下的項目構成的群中的1項：

1:極薄銅層表面的Rt的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-2001進行測定而為0.5μm以上，

2:極薄銅層表面的Rt的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-2001進行測定而為0.6μm以上，

3:極薄銅層表面的Rt的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-2001進行測定而為0.8μm以上，

G)選自由以下的項目構成的群中的1項：

1:極薄銅層表面的Rt的標準偏差為0.060μm以下，

2:極薄銅層表面的Rt的標準偏差為0.05μm以下，

H):極薄銅層表面的Rt的標準偏差為0.01μm以上，

I)選自由以下的項目構成的群中的1項：

1:極薄銅層表面的Ra的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為0.2μm以下，

2:極薄銅層表面的Ra的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為0.18μm以下，

3:極薄銅層表面的Ra的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為0.15μm以下，

J)選自由以下的項目構成的群中的1項：

1:極薄銅層表面的Ra的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為0.01μm以上，

2:極薄銅層表面的Ra的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為0.05μm以上，

3:極薄銅層表面的Ra的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為0.12μm以上，

4:極薄銅層表面的Ra的平均值是利用接觸式粗糙度計依據JIS B0601-1982進行測定而為0.13μm以上，

K)選自由以下的項目構成的群中的1項：

1:極薄銅層表面的Ra的標準偏差為0.03μm以下，

2:極薄銅層表面的Ra的標準偏差為0.026μm以下，

3:極薄銅層表面的Ra的標準偏差為0.02μm以下，

L):極薄銅層表面的Ra的標準偏差為0.001μm以上。