[發(fā)明專利]量子點(diǎn)薄膜及其制備方法和QLED器件在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711470083.0 | 申請日: | 2017-12-29 |
| 公開(公告)號: | CN109988552A | 公開(公告)日: | 2019-07-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 程陸玲;楊一行 | 申請(專利權(quán))人: | TCL集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號: | C09K11/02 | 分類號: | C09K11/02;C09K11/66;H01L51/50 |
| 代理公司: | 深圳中一專利商標(biāo)事務(wù)所 44237 | 代理人: | 官建紅 |
| 地址: | 516006 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 量子點(diǎn) 量子點(diǎn)表面 薄膜 硫醇 配體 陰離子 制備 表面缺陷 發(fā)光效率 金屬元素 金屬原子 結(jié)合率 熒光 流動 | ||
1.一種量子點(diǎn)薄膜的制備方法,其特征在于,包括如下步驟:
提供第一量子點(diǎn)溶液,所述第一量子點(diǎn)溶液中含有表面結(jié)合有初始配體的量子點(diǎn);
提供陰離子前驅(qū)體,將所述陰離子前驅(qū)體加入到所述第一量子點(diǎn)溶液中,進(jìn)行鈍化處理,得到第二量子點(diǎn)溶液;
提供硫醇配體,將所述硫醇配體加入到所述第二量子點(diǎn)溶液中,進(jìn)行表面配體交換,得到第三量子點(diǎn)溶液;
將所述第三量子點(diǎn)溶液沉積在基片上,得到所述量子點(diǎn)薄膜。
2.如權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述陰離子前驅(qū)體選自S-TOP、S-ODE、S-OA、TMS、S-TBP、Se-TOP、Se-ODE、Se-OA、Se-TBP、Te-TOP和Te-TBP中的至少一種;和/或
所述硫醇配體選自1-丙硫醇、1-丁硫醇、1-戊硫醇、1-己硫醇、1-庚硫醇、1-辛硫醇、1-癸硫醇、1-十一硫醇和1-十二硫醇中的至少一種;和/或
所述初始配體選自油酸、油胺、三辛基磷和三辛基氧磷中的至少一種。
3.如權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述鈍化處理的溫度為100-300℃;和/或
所述鈍化處理的時間為30-60min;和/或
所述表面配體交換的溫度為30-300℃;和/或
所述表面配體交換的時間為30-60min。
4.如權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,按所述陰離子前軀體與所述表面結(jié)合有初始配體的量子點(diǎn)的摩爾質(zhì)量比為(0.5-1mmol):100mg,將所述陰離子前驅(qū)體加入到所述第一量子點(diǎn)溶液中;和/或
按所述硫醇配體與所述表面結(jié)合有初始配體的量子點(diǎn)的摩爾質(zhì)量比為(0.01-0.2mmol):100mg,將所述硫醇配體加入到所述第二量子點(diǎn)溶液中。
5.如權(quán)利要求2所述的制備方法,其特征在于,所述陰離子前驅(qū)體的制備方法包括:
將非金屬單質(zhì)溶于有機(jī)溶劑中,在20-250℃的溫度條件下進(jìn)行加熱處理。
6.如權(quán)利要求5所述的制備方法,其特征在于,所述非金屬單質(zhì)選自S、Se和Te中的至少一種;和/或
所述有機(jī)溶劑選自TOP、ODE、OA和TBP中的至少一種。
7.如權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,在將所述第三量子點(diǎn)溶液沉積在基片上之前,還包括將所述第三子點(diǎn)溶液進(jìn)行萃取分離的步驟。
8.一種量子點(diǎn)薄膜,含有量子點(diǎn),其特征在于,所述量子點(diǎn)表面的結(jié)合有硫醇配體,且所述量子點(diǎn)表面還結(jié)合有陰離子。
9.如權(quán)利要求8所述的量子點(diǎn)薄膜,其特征在于,所述陰離子選自S2-、Se2-和Te2-中的至少一種;和/或
所述硫醇配體選自1-丙硫醇、1-丁硫醇、1-戊硫醇、1-己硫醇、1-庚硫醇、1-辛硫醇、1-癸硫醇、1-十一硫醇和1-十二硫醇中的至少一種。
10.一種QLED器件,包括量子點(diǎn)發(fā)光層,其特征在于,所述量子點(diǎn)發(fā)光層為權(quán)利要求8或9所述的量子點(diǎn)薄膜或權(quán)利要求1-7任一項所述的制備方法制得的量子點(diǎn)薄膜。
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