[發(fā)明專利]一種雙通道智能高速檢測機及其自動上料封裝檢測生產(chǎn)線在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711468531.3 | 申請日: | 2017-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN107991316A | 公開(公告)日: | 2018-05-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 龔曙光;易國榮;賀建新;龍廣云 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市山達士電子有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/892 | 分類號: | G01N21/892;B07C5/02;B07C5/342;B07C5/36 |
| 代理公司: | 深圳協(xié)成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)44458 | 代理人: | 章小燕 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 雙通道 智能 高速 檢測 及其 自動 封裝 生產(chǎn)線 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電子元件生產(chǎn)檢測技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種雙通道智能高速檢測機及其自動上料封裝檢測生產(chǎn)線。
背景技術(shù)
電子元件,諸如電阻元件、電容元件等等,在電子元件制作完成后,還需要進行老化測試以及封裝作業(yè),封裝完成后還需進行檢測,以判斷封裝成品是否存在品質(zhì)瑕疵。
現(xiàn)有的電子元件進行性能測試時,一般采用獨立的測試設(shè)備,如老化測試設(shè)備,然后采用獨立的封裝設(shè)備進行封裝,封裝之后的電子元件一般通過圖像檢測方式,通過攝像頭來采集電子元件上下兩側(cè)的圖像,與預(yù)先存儲的標準電子元件圖像進行比對,從而實現(xiàn)對封裝后的電子元件進行外觀檢測。如公告號為CN 201662539 U的中國發(fā)明專利公開了一種高速側(cè)邊影像檢測裝置,適用于檢測封裝型電子元件,主要是在于一個能夠供封裝型電子元件依循滑移的軌道,兩側(cè)分別設(shè)有一個鏡片組件,每一個鏡片組件分別定義有一影像反射路徑,各該影像反射路徑定義有一個起始位置及一個終止位置,且每一個鏡片組件均具有多數(shù)位于各影像反射路徑上的鏡片,位于起始位置處的鏡片并外露于該軌道內(nèi)側(cè),而能將往返通過軌道的封裝型電子元件側(cè)邊影像通過其余鏡片的接續(xù)反射,而進一步傳遞給影像擷取元件,影像擷取元件所擷取的影像信號并傳遞至該電腦系統(tǒng),以快速完成半導(dǎo)體封裝元件的檢測作業(yè)。
為了進一步提高電子元件測試、封裝檢測的效率,也可以將多種設(shè)備甚至在一條生產(chǎn)線上,連續(xù)完成上述工藝步驟。但是,現(xiàn)有的封裝檢測生產(chǎn)線存在以下缺陷:第一,由于采用山型卡槽傳送鏈條進行電子元件的傳送,若是采集電子元件上下兩側(cè)的圖像,由于電子元件在傳送過程中可能發(fā)生滾動,采集的圖像會存在缺陷;第二,若是將電子元件傳送到一間歇性的分度盤進行圖像采集,這樣測試的工作效率很低,一般低于200Pcs/min。第三,為了提升檢測速度,一般在傳送鏈條上直接采集電子元件圖像,由于在傳送鏈條上,電子元件緊密排列,在圖像采集時必須間歇性停止,才能夠保證相鄰之間的電子元件在圖像采集時不發(fā)生互相干擾,這樣大大限制了封裝檢測的效率。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種雙通道智能高速檢測機及其自動上料封裝檢測生產(chǎn)線,旨在解決現(xiàn)有的封裝測試生產(chǎn)線,圖像采集準確性不高,而且檢測效率低的技術(shù)問題。
為了解決上述技術(shù)問題,具體地,本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
一種雙通道智能高速檢測機,包括通道分離裝置、上通道檢測裝置、下通道檢測裝置以及通道合并裝置,待檢測元件通過第二山型輸送鏈條輸送到通道分離裝置,通過所述通道分離裝置將所述第二山型輸送鏈條上的待檢測元件在兩條山型輸送鏈條上以均勻間隔一所述待檢測元件的方式分別輸送到所述上通道檢測裝置和所述下通道檢測裝置,所述上通道檢測裝置對應(yīng)上側(cè)的第三山型輸送鏈條上的待檢測元件設(shè)置有多個以所述待檢測元件為圓周中心均勻分布的高速彩色相機,所述下通道檢測裝置對應(yīng)下側(cè)的所述第二山型輸送鏈條上的待檢測元件設(shè)置有多個以所述待檢測元件為圓周中心均勻分布的高速彩色相機;上下兩側(cè)的所述待檢測元件通過所述高速彩色相機進行360度周向圖像采集后進入到所述通道合并裝置,所述通道合并裝置將兩條山型輸送鏈條上檢測合格的所述待檢測元件合并到第四山型輸送鏈條上,通過所述第四山型輸送鏈條輸送到下一工序。
進一步的,所述通道分離裝置包括設(shè)置在所述第二山型輸送鏈條上側(cè)的分離盤以及設(shè)置在所述分離盤上側(cè)的交接盤,所述分離盤圓周邊緣兩側(cè)分別設(shè)置有一與所述第二山型輸送鏈條緊密配合的分離片,所述分離片上設(shè)置有分離鉤齒,所述分離盤側(cè)壁上均勻設(shè)置有分離磁鐵,所述分離磁鐵將所述第二山型輸送鏈條上的待檢測元件以均勻間隔一所述待檢測元件的方式吸附到所述分離片上的分離鉤齒上;所述交接盤與所述分離盤切合位置通過交接片支架設(shè)置一交接片,所述交接盤上設(shè)置有交接盤磁鐵,所述交接片和所述交接盤磁鐵將所述分離片上的所述待檢測元件轉(zhuǎn)換到所述交接盤上的交接鉤齒上,所述交接盤兩側(cè)分別設(shè)置有一交接盤鏈輪,所述交接盤鏈輪上設(shè)置有所述第三山型輸送鏈條。
進一步的,所述通道分離裝置還包括分離齒輪箱,所述分離盤通過一分離盤法蘭安裝在一分離盤軸上,所述分離盤軸通過一座分離盤軸承座安裝所述分離齒輪箱內(nèi),所述交接盤通過一交接盤軸設(shè)置在所述分離齒輪箱內(nèi),所述分離盤軸和所述交接盤軸通過分離盤同步齒輪和交接盤同步齒輪傳動連接;
可選地,對應(yīng)所述分離盤下側(cè)設(shè)置有分離軌道平臺,所述分離軌道平臺設(shè)置在所述第二山型輸送鏈條內(nèi)。隨著第二山型輸送鏈條的移動,待檢測元件通過所述分離軌道平臺靠近所述分離盤。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





