[發明專利]圖傳校準方法、裝置、存儲介質及電子設備

有效

• 申請號: 201711466135.7
• 申請日: 2017-12-28
• 公開（公告）號: CN109981187B
• 公開（公告）日: 2022-02-15
• 發明（設計）人: 林曉;詹松齡;陳軍
• 申請（專利權）人: 北京小米松果電子有限公司
• 主分類號: H04B17/11
• 分類號: H04B17/11;H04B17/21
• 代理公司: 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙) 11447
• 代理人: 魏嘉熹;南毅寧

1.一種圖傳校準方法，其特征在于，應用于電子設備，所述方法包括：自動頻率校準步驟、自動增益校準步驟和/或自動功率校準步驟，其中：

所述自動頻率校準步驟包括：

根據預設的測試配置以及用戶設備的圖傳模塊在預設頻率下輸出的單音頻率測試信號，確定所述圖傳模塊提供的晶振頻率是否滿足規定的校準要求；

所述自動增益校準步驟包括：

根據所述測試配置以及測量儀表在所述預設頻率下輸出的單音增益測試信號，依次對所述圖傳模塊在預設增益校準范圍內的所有功率值對應的增益值進行校準；

所述自動功率校準步驟包括：

根據所述測試配置以及所述圖傳模塊在所述預設頻率下輸出的功率測試信號，依次對所述圖傳模塊在預設功率校準范圍內的所有功率值對應的控制字進行校準；

所述根據所述測試配置以及所述圖傳模塊在所述預設頻率下輸出的功率測試信號，依次對所述圖傳模塊在預設功率校準范圍內的所有功率值對應的控制字進行校準，包括：

與所述用戶設備進行交互，獲取所述測試配置，其中，所述測試配置中包括自動功率校準的初始碼表和所述預設功率校準范圍；

控制所述圖傳模塊根據所述初始碼表中的控制字依次輸出所述預設功率校準范圍內每個功率值對應的功率測試信號；

控制所述測量儀表分別獲取每個功率測試信號的功率值；

根據所述每個功率測試信號的功率值以及所述初始碼表，對所述初始碼表進行校準；

所述根據所述每個功率測試信號的功率值以及所述初始碼表，對所述初始碼表進行校準，包括：

在所述初始碼表中確定所述功率測試信號的功率值對應的控制字；

根據所述功率測試信號的功率值對應的控制字，對所述初始碼表進行校準；

所述根據預設的測試配置以及用戶設備的圖傳模塊在預設頻率下輸出的單音頻率測試信號，確定所述圖傳模塊所提供的晶振頻率是否滿足校準要求，包括：

根據所述測試配置，控制所述用戶設備確定第一頻率控制字以及第二頻率控制字，其中，所述第一頻率控制字是初始頻率控制字，所述第二頻率控制字是根據所述第一頻率控制字在預設變化范圍內以預設固定值進行調整確定的；

控制所述圖傳模塊在所述預設頻率下分別輸出所述第一頻率控制字對應的第一單音頻率測試信號，以及所述第二頻率控制字對應的第二單音頻率測試信號；

根據所述第一單音頻率測試信號以及所述第二單音頻率測試信號，控制所述測量儀表分別獲取對應的第一頻偏和第二頻偏；

根據所述第一頻率控制字、所述第二頻率控制字、所述第一頻偏以及所述第二頻偏，確定第三頻率控制字；

根據所述第三頻率控制字，確定所述晶振頻率是否滿足所述校準要求；

當滿足所述校準要求時，確定完成所述自動頻率校準步驟。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一頻率控制字、所述第二頻率控制字、所述第一頻偏以及所述第二頻偏，確定第三頻率控制字，包括：

將所述第二頻率控制字和所述第一頻率控制字的差值，與所述第二頻偏和所述第一頻偏的差值的比值，確定為斜率值；

將所述斜率值和所述第一頻偏的乘積與所述第一頻率控制字之差，確定為所述第三頻率控制字。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述第三頻率控制字，確定所述晶振頻率是否滿足所述校準要求，包括：

控制所述圖傳模塊輸出與所述第三頻率控制字對應的第三單音頻率測試信號；

控制所述測量儀表獲取所述第三單音頻率測試信號對應的第三頻偏；

根據所述第三頻偏，確定所述晶振頻率是否在預設頻率偏移范圍內；

當在所述頻率偏移范圍內時，確定所述晶振頻率滿足所述校準要求；

當不在所述頻率偏移范圍內時，確定所述晶振頻率不滿足所述校準要求。