[發明專利]一種基于水下探測的全海深高強度耐壓光譜分析裝置在審
| 申請號: | 201711464847.5 | 申請日: | 2017-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN107941715A | 公開(公告)日: | 2018-04-20 |
| 發明(設計)人: | 李學龍;胡炳樑;張兆會;于濤;張周鋒;劉宏;李洪波 | 申請(專利權)人: | 中國科學院西安光學精密機械研究所 |
| 主分類號: | G01N21/25 | 分類號: | G01N21/25;G01N21/01 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標代理有限公司61211 | 代理人: | 楊引雪 |
| 地址: | 710119 陜西省西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 水下 探測 全海深高 強度 耐壓 光譜分析 裝置 | ||
1.一種基于水下探測的全海深高強度耐壓光譜分析裝置,其特征在于:包括外殼(1)、電池組件(2)、閃爍光源(5)、電路控制處理系統(3)、物鏡鏡筒(6)、第一準直物鏡組(7)、第二準直物鏡組(8)、狹縫(9)、光柵(10)和線陣探測器(11);
所述外殼(1)為密封圓柱筒體,包括依次設置的密封蓋板(101)、電池外殼(102)、主殼體(103)和光柵座(104);
所述電池組件(2)設置在電池外殼(102)內,電池組件(2)通過電路控制處理系統(3)分別給閃爍光源(5)和線陣探測器(11)供電;
所述閃爍光源(5)和電路控制處理系統(3)設置在光源板(4)上,所述光源板(4)固定設置在主殼體(103)內;
所述線陣探測器(11)固定設置在光柵座(104)上,所述狹縫(9)、光柵(10)通過支架固定設置在光柵座(104)上;
所述主殼體(103)上設置有向內凹的樣品池(12),兩個物鏡鏡筒(6)分別設置在樣品池(12)的兩側,并與主殼體(103)固定連接,所述第一準直物鏡組(7)和第二準直物鏡組(8)分別設置在物鏡鏡筒(6)內部,均包括依次設置的第一透鏡(13)、第二透鏡(15)、膠合鏡組(14)和石英窗口玻璃(16);所述第一準直物鏡組(7)和第二準直物鏡組(8)通過壓圈(22)軸向定位;
所述閃爍光源(5)發出的光依次通過第一準直物鏡組(7)的第一透鏡(13)、第二透鏡(15)、膠合鏡組(14)和石英窗口玻璃(16)將發散光轉化為平行光,平行光對液體樣本進行投射后經過第二準直物鏡組(8)的石英窗口玻璃(16)、膠合鏡組(14)、第二透鏡(15)和第一透鏡(13),將平行光聚焦于狹縫(9),經狹縫(9)后的光在光柵(10)位置進行色散形成光譜,經光柵(10)反射后成像于線陣探測器(11)。
2.根據權利要求1所述的基于水下探測的全海深高強度耐壓光譜分析裝置,其特征在于:所述物鏡鏡筒(6)為階梯套筒結構,物鏡鏡筒(6)和主殼體(103)通過止口配合,物鏡鏡筒(6)和主殼體(103)的接觸面上設有軸向密封圈(20)和徑向密封圈(19)。
3.根據權利要求2所述的基于水下探測的全海深高強度耐壓光譜分析裝置,其特征在于:所述第一透鏡(13)和第二透鏡(15)之間設置有隔圈(23)。
4.根據權利要求1或2或3所述的基于水下探測的全海深高強度耐壓光譜分析裝置,其特征在于:所述光源板(4)與主殼體(103)為軸孔間隙配合。
5.根據權利要求4所述的基于水下探測的全海深高強度耐壓光譜分析裝置,其特征在于:
所述電池外殼(102)和主殼體(103)之間、主殼體(103)和光柵座(104)之間均設置有O型密封圈(17)。
6.根據權利要求5所述的基于水下探測的全海深高強度耐壓光譜分析裝置,其特征在于:所述樣品池(12)的兩側設有軸向加強筋(21)。
7.根據權利要求6所述的基于水下探測的全海深高強度耐壓光譜分析裝置,其特征在于:所述第一準直物鏡組(7)和第二準直物鏡組(8)采用鈦合金TC4材料。
8.根據權利要求7所述的基于水下探測的全海深高強度耐壓光譜分析裝置,其特征在于:所述電池組件(2)采用組合式鋰電池,電池組件(2)上設有充電接口。
9.根據權利要求8所述的基于水下探測的全海深高強度耐壓光譜分析裝置,其特征在于:所述密封蓋板(101)的一側設置有吊環(18),所述吊環(18)與密封蓋板(101)螺紋連接。
10.根據權利要求9所述的基于水下探測的全海深高強度耐壓光譜分析裝置,其特征在于:所述外殼(1)采用1Cr18Ni9Ti制成。
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