[發明專利]一種單頻激光器跳模的檢測系統在審
| 申請號: | 201711464575.9 | 申請日: | 2017-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN108155540A | 公開(公告)日: | 2018-06-12 |
| 發明(設計)人: | 曹建建;王飛利;馬曉偉;樓慈波 | 申請(專利權)人: | 浙江嘉萊光子技術有限公司 |
| 主分類號: | H01S3/00 | 分類號: | H01S3/00;H01S5/00;G01M11/00 |
| 代理公司: | 上海泰能知識產權代理事務所 31233 | 代理人: | 宋纓;錢文斌 |
| 地址: | 315336 浙江省寧波*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 耦合器 單頻激光器 光電探測器 光纖干涉儀 傳輸光纖 檢測系統 延時光纖 示波器 跳模 光纖 光隔離器 實時檢測 輸出端 輸出光 輸入端 干涉 | ||
本發明涉及一種單頻激光器跳模的檢測系統,包括光隔離器、光纖干涉儀、光電探測器和示波器,所述光纖干涉儀包括第一耦合器、第二耦合器、傳輸光纖和延時光纖,所述第一耦合器的輸入端通過光纖與單頻激光器相連,所述第二耦合器的輸出端通過光纖與光電探測器相連;所述傳輸光纖和延時光纖并聯在第一耦合器和第二耦合器之間使得單頻激光器的輸出光形成干涉;所述示波器與光電探測器相連。本發明可實時檢測,且成本低廉易于實現。
技術領域
本發明涉及單頻激光器領域,特別是涉及一種單頻激光器跳模的檢測系統。
背景技術
單頻激光器因其具有窄線寬、低噪聲等性能,已經成為各種光學檢測的理想光源,單頻激光器廣泛應用于相干光通信、激光雷達、激光遙感、激光偵聽以及高分辨率光譜分析等領域。目前,單頻激光器的生產制作工藝技術日趨成熟,但在實際應用中,單頻激光器長時間運行中仍然會偶爾出現跳模現象,跳模將嚴重影響單頻光源的高相干性,并增加激光器的相位噪聲,這對單頻激光器的廣泛應用產生嚴重制約。對單頻激光器的跳模進行實時檢測,是單頻激光器研究中不可回避的重要問題,也是評價單頻激光器性能的重要手段。
目前已有的縱模檢測方法有強度噪聲法,F-P干涉儀掃描法法,自延時零拍法等。
強度噪聲法檢測效果便捷并可實時檢測,但容易和其他噪聲混疊,產生誤判。
F-P干涉儀掃描法是一種常用的跳模檢測方法,通過直接掃描F-P腔來實現跳模的檢測,并可判斷跳模的頻移方向和間隔,但掃描頻譜范圍有限、掃描周期長,并且無法保證實時檢測。
自延時零拍法通過檢測模式跳變過程中產生的拍頻信號來判斷跳模,在測量單頻激光器的線寬同時可以通過檢測拍頻信號來判斷單頻激光器的頻移和跳模特性,并可準確的檢測跳模的頻移和間隔,劣勢在于,測試系統通常需要使用幾十公里的延遲光纖,測試結果的穩定性和準確性較差,并且測試系統結構復雜。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是提供一種單頻激光器跳模的檢測系統,可實時檢測,且成本低廉易于實現。
本發明解決其技術問題所采用的技術方案是:提供一種單頻激光器跳模的檢測系統,包括光纖干涉儀、光電探測器和示波器,所述光纖干涉儀包括第一耦合器、第二耦合器、傳輸光纖和延時光纖,所述第一耦合器的輸入端通過光纖與單頻激光器相連,所述第二耦合器的輸出端通過光纖與光電探測器相連;所述傳輸光纖和延時光纖并聯在第一耦合器和第二耦合器之間使得單頻激光器的輸出光形成干涉;所述示波器與光電探測器相連。
所述第一耦合器和單頻激光器之間還設置有光隔離器。
所述光纖干涉儀放置在隔震隔音恒溫裝置內。
所述光電探測器為光電二極管探測器。
有益效果
由于采用了上述的技術方案,本發明與現有技術相比,具有以下的優點和積極效果:
本發明通過示波器可實時觀察單頻激光器跳模的變化情況,精度高,并且通過簡單計算可直接得出跳模的頻移大小。
本發明靈敏度高,對跳模檢測具有較高的分辨本領,相比于強度噪聲法、F-P干涉儀掃描法、自延時零拍法,本發明提供的檢測系統結構簡單、成本低廉且易實現、并可實時檢測。
附圖說明
圖1是本發明的結構示意圖;
圖2是本發明實施方式中光纖干涉儀自由光譜區圖。
具體實施方式
下面結合具體實施例,進一步闡述本發明。應理解,這些實施例僅用于說明本發明而不用于限制本發明的范圍。此外應理解,在閱讀了本發明講授的內容之后,本領域技術人員可以對本發明作各種改動或修改,這些等價形式同樣落于本申請所附權利要求書所限定的范圍。
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