[發(fā)明專利]硬盤狀態(tài)監(jiān)測(cè)方法和裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711463335.7
• 申請(qǐng)日: 2017-12-28
• 公開（公告）號(hào): CN109976971B
• 公開（公告）日: 2023-08-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 樊宇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京京東尚科信息技術(shù)有限公司;北京京東世紀(jì)貿(mào)易有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/30
• 分類號(hào): G06F11/30;G06F11/32
• 代理公司: 北京英賽嘉華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11204
• 代理人: 王達(dá)佐;馬曉亞

本申請(qǐng)實(shí)施例公開了硬盤狀態(tài)監(jiān)測(cè)方法和裝置。該方法的一具體實(shí)施方式包括：獲取預(yù)設(shè)歷史時(shí)間段內(nèi)各參考硬盤的歷史性能數(shù)據(jù)和對(duì)應(yīng)的歷史工作狀態(tài)，參考硬盤為在預(yù)設(shè)歷史時(shí)間段內(nèi)服務(wù)器硬盤陣列上運(yùn)行的硬盤；獲取待監(jiān)測(cè)硬盤的當(dāng)前性能數(shù)據(jù)；基于各參考硬盤的歷史性能數(shù)據(jù)和待監(jiān)測(cè)硬盤的當(dāng)前性能數(shù)據(jù)計(jì)算各參考硬盤與待監(jiān)測(cè)硬盤之間的第一相似度；按照第一相似度的降序排序確定至少一個(gè)與待監(jiān)測(cè)硬盤相似的參考硬盤；根據(jù)各與待監(jiān)測(cè)硬盤相似的參考硬盤的歷史工作狀態(tài)判斷待監(jiān)測(cè)硬盤的當(dāng)前工作狀態(tài)是否正常。該實(shí)施方式實(shí)現(xiàn)了硬盤的運(yùn)行狀態(tài)的快速、準(zhǔn)確監(jiān)測(cè)，能夠預(yù)警硬盤的異常狀態(tài)。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)實(shí)施例涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及硬盤監(jiān)測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及硬盤狀態(tài)監(jiān)測(cè)方法和裝置。

背景技術(shù)

隨著硬盤使用時(shí)間的增長(zhǎng)，硬盤狀態(tài)會(huì)逐漸變得不穩(wěn)定，以至于硬盤損壞后無法再使用。SMART(Self?Monitoring，Analysis?and?Reporting?Technology，自我監(jiān)測(cè)、分析及報(bào)告技術(shù))是一種自動(dòng)的硬盤狀態(tài)檢測(cè)技術(shù)，可以對(duì)硬盤狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)控并在硬盤異常時(shí)報(bào)警。

現(xiàn)有的硬盤狀態(tài)監(jiān)測(cè)技術(shù)中，利用支持SMART的軟件讀取SMART統(tǒng)計(jì)信息，由運(yùn)維人員判斷硬盤是否有異常。然而SMART技術(shù)存在一些誤報(bào)情況，并且在硬盤已經(jīng)發(fā)生異常的情況下進(jìn)行報(bào)警，無法對(duì)硬盤的運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行預(yù)警。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)實(shí)施例提出了硬盤狀態(tài)監(jiān)測(cè)方法和裝置。

第一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種硬盤狀態(tài)監(jiān)測(cè)方法，包括：獲取預(yù)設(shè)歷史時(shí)間段內(nèi)各參考硬盤的歷史性能數(shù)據(jù)和對(duì)應(yīng)的歷史工作狀態(tài)，參考硬盤為在預(yù)設(shè)歷史時(shí)間段內(nèi)服務(wù)器硬盤陣列上運(yùn)行的硬盤；獲取待監(jiān)測(cè)硬盤的當(dāng)前性能數(shù)據(jù)；基于各參考硬盤的歷史性能數(shù)據(jù)和待監(jiān)測(cè)硬盤的當(dāng)前性能數(shù)據(jù)計(jì)算各參考硬盤與待監(jiān)測(cè)硬盤之間的第一相似度；按照第一相似度的降序排序確定至少一個(gè)與待監(jiān)測(cè)硬盤相似的參考硬盤；根據(jù)各與待監(jiān)測(cè)硬盤相似的參考硬盤的歷史工作狀態(tài)判斷待監(jiān)測(cè)硬盤的當(dāng)前工作狀態(tài)是否正常。

在一些實(shí)施例中，上述性能數(shù)據(jù)包括：讀速率、寫速率、硬盤所在服務(wù)器的總內(nèi)存空間以及自我監(jiān)測(cè)、分析及報(bào)告技術(shù)SMART數(shù)據(jù)。

在一些實(shí)施例中，上述基于各參考硬盤的歷史性能數(shù)據(jù)和待監(jiān)測(cè)硬盤的當(dāng)前性能數(shù)據(jù)計(jì)算各參考硬盤與待監(jiān)測(cè)硬盤之間的第一相似度，包括：將各參考硬盤的歷史性能數(shù)據(jù)和待監(jiān)測(cè)硬盤的當(dāng)前性能數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為對(duì)應(yīng)于各硬盤的線性表，其中，各線性表中的數(shù)據(jù)元素的排列相同；計(jì)算各參考硬盤的線性表與待監(jiān)測(cè)硬盤的線性表之間的相似度，作為各參考硬盤與待監(jiān)測(cè)硬盤之間的第一相似度。

在一些實(shí)施例中，上述根據(jù)各與待監(jiān)測(cè)硬盤相似的參考硬盤的歷史工作狀態(tài)判斷待監(jiān)測(cè)硬盤的當(dāng)前工作狀態(tài)是否正常，包括：判斷與待監(jiān)測(cè)硬盤相似的參考硬盤中歷史工作狀態(tài)為正常狀態(tài)的硬盤數(shù)是否超過與待監(jiān)測(cè)硬盤相似的參考硬盤總數(shù)的一半；若是，確定待監(jiān)測(cè)硬盤的當(dāng)前工作狀態(tài)為正常狀態(tài)，否則確定待監(jiān)測(cè)硬盤的當(dāng)前工作狀態(tài)的為異常狀態(tài)。

在一些實(shí)施例中，上述硬盤狀態(tài)監(jiān)測(cè)方法還包括：若確定待監(jiān)測(cè)硬盤的當(dāng)前工作狀態(tài)為正常狀態(tài)，獲取服務(wù)器硬盤陣列上的已報(bào)廢硬盤的工作時(shí)間數(shù)據(jù)、已報(bào)廢硬盤在報(bào)廢之前的預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)的歷史性能數(shù)據(jù)以及待監(jiān)測(cè)硬盤的上線時(shí)間；基于已報(bào)廢硬盤在報(bào)廢之前的預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)的歷史性能數(shù)據(jù)和當(dāng)前性能數(shù)據(jù)計(jì)算已報(bào)廢硬盤與待監(jiān)測(cè)硬盤之間的第二相似度；按照第二相似度的降序排序確定至少一個(gè)與待監(jiān)測(cè)硬盤相似的已報(bào)廢硬盤；根據(jù)各與待監(jiān)測(cè)硬盤相似的已報(bào)廢硬盤的工作時(shí)間數(shù)據(jù)以及待監(jiān)測(cè)硬盤的上線時(shí)間估算得出待監(jiān)測(cè)硬盤的下線時(shí)間。

在一些實(shí)施例中，上述根據(jù)各與待監(jiān)測(cè)硬盤相似的已報(bào)廢硬盤的工作時(shí)間數(shù)據(jù)以及待監(jiān)測(cè)硬盤的上線時(shí)間估算得出待監(jiān)測(cè)硬盤的下線時(shí)間，包括：對(duì)各與待監(jiān)測(cè)硬盤相似的已報(bào)廢硬盤的工作時(shí)間數(shù)據(jù)所指示的工作時(shí)長(zhǎng)進(jìn)行排序；取排序位于中間預(yù)設(shè)位的工作時(shí)長(zhǎng)進(jìn)行平均值計(jì)算，得到平均工作時(shí)長(zhǎng)；將待監(jiān)測(cè)硬盤的上線時(shí)間與平均工作時(shí)長(zhǎng)疊加，得出待監(jiān)測(cè)硬盤的下線時(shí)間。