[發明專利]一種基于像素尺度的DEM數據誤差評價與校正方法有效
| 申請號： | 201711463078.7 | 申請日： | 2017-12-28 |
| 公開（公告）號： | CN108038086B | 公開（公告）日： | 2021-08-10 |
| 發明（設計）人： | 趙尚民;章詩芳;關瑜晴;賈蓓 | 申請（專利權）人： | 太原理工大學 |
| 主分類號： | G06F17/18 | 分類號： | G06F17/18 |
| 代理公司： | 北京慕達星云知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人： | 李冉 |
| 地址： | 030000 *** | 國省代碼： | 山西;14 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 像素 尺度 dem 數據 誤差 評價 校正 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于像素尺度的DEM數據誤差評價與校正方法，其特征在于，所述誤差評價與校正方法基于區域內的原始DEM數據、高程點數據以及地表形態特征數據進行，包括以下步驟：
步驟1：根據原始DEM數據和高程點數據，以高程點數據作為控制點，得到誤差點數據；
步驟2：將誤差點數據分為兩類，分別為檢核點數據和建模點數據；
步驟3：將建模點數據與地表形態特征數據進行疊加，得到具有高程誤差值與地表形態特征值屬性的建模點數據；
步驟4：基于具有高程誤差值與地表形態特征值屬性的建模點數據，建立高程誤差值與地表形態特征值之間的回歸方程；
步驟5：基于地表形態特征數據和回歸方程，將地表形態特征數據以原始DEM數據的像素為尺度進行重新采樣，獲得像素尺度的原始DEM數據誤差分布；
步驟6：將基于像素尺度的原始DEM數據誤差分布與原始DEM數據進行疊加，獲得經過校正的原始DEM數據；
步驟7：基于檢核點數據，分別對原始DEM數據和經過校正的原始DEM數據進行精度評價和對比，獲得校正后的精度提高量。
2.根據權利要求1所述的一種基于像素尺度的DEM數據誤差評價與校正方法，其特征在于，所述步驟2中的誤差點數據通過交叉驗證方式或隨機采樣方式分為檢核點數據和建模點數據。
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