[發(fā)明專利]一種小塑封體集成電路的高可靠性引線框架加工工藝有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711462894.6 | 申請(qǐng)日: | 2017-12-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108389803B | 公開(公告)日: | 2020-02-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 成軍;陳慶偉;趙龍飛;牟俊強(qiáng);周朝峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 天水華天機(jī)械有限公司;天水華天科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/48 | 分類號(hào): | H01L21/48;H01L23/495;C25D9/08 |
| 代理公司: | 61200 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 李鵬威 |
| 地址: | 741000 甘*** | 國省代碼: | 甘肅;62 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 集成電路 高可靠性引線框架 引線框架 集成電路封裝 工序處理 塑封體 活化 銅面 封裝 可靠性測(cè)試 陽極 封裝過程 高可靠性 生產(chǎn)要求 脫脂 常規(guī)的 結(jié)合力 塑封料 預(yù)鍍銀 底材 鍍銅 鍍銀 分層 微蝕 銀面 清洗 中和 驗(yàn)證 | ||
1.一種小塑封體集成電路的高可靠性引線框架加工工藝,其特征在于:先將引線框架進(jìn)行常規(guī)的脫脂、活化、中和、鍍銅、預(yù)鍍銀、鍍銀和退銀工序處理,然后將退銀后的引線框架依次進(jìn)行微蝕、再次活化、銅面處理、陽極清洗和銀面處理,最后進(jìn)行常規(guī)的銀保護(hù)處理,其中:
所述微蝕過程為通過腐蝕去除引線框架表面的鍍銅層,使引線框架表面微觀粗化,腐蝕深度為0.2-0.4μm;
銅面處理過程為通過腐蝕及氧化引線框架,在引線框架表面形成一層棕色氧化層;具體操作為:在30-40℃下,在引線框架加工中依次加入以下五種試劑進(jìn)行反應(yīng):苯并三唑的硫酸溶液,濃度230-270 mL/L,其中苯并三唑的濃度為35g/L,硫酸濃度為15 mL /L;硫酸氫鈉與氟化鈉的氫氟酸溶液,濃度190-230g/L,其中硫酸氫鈉濃度為220 g/L,氟化鈉的濃度為50 g/L,氫氟酸濃度為15 mL/L;硫酸和硝酸的混合溶液,濃度180-220 mL/L,其中硫酸濃度為125 mL/L,硝酸濃度為40 mL/L;苯并三唑的硫酸溶液,濃度15-25 g/L,其中苯并三唑濃度為25 g/L,硫酸濃度為150 mL/L;過氧化氫水溶液濃度30-40 mL/L;
陽極清洗過程為通過電解清洗掉引線框架表面的銅粉;
銀面處理過程為通過陰極電解使引線框架的銀表面氧化,在銀面形成一層1.5-2.5nm的氧化層,具體操作為:在110-150A的電流和40-50℃的溫度下,使用濃度為450-550g/L偏硅酸鈉、氫氧化鈉和碳酸鈉的混合水溶液對(duì)引線框架進(jìn)行陰極電解,其中偏硅酸鈉的濃度為175g/L,氫氧化鈉的濃度為45g/L,碳酸鈉的濃度為140 g/L。
2.根據(jù)權(quán)利要求1 所述的一種小塑封體集成電路的高可靠性引線框架加工工藝,其特征在于:所述微蝕過程使用的試劑為氟化鈉、過硫酸鈉和硫酸氫鈉的混合水溶液,濃度40-60 g/L,溫度20-30℃。
3.根據(jù)權(quán)利要求1 所述的一種小塑封體集成電路的高可靠性引線框架加工工藝,其特征在于:所述再次活化過程使用的試劑為苯并三唑的乙二醇單異丙基醚溶液,濃度15-25g/L,溫度35-45℃。
4.根據(jù)權(quán)利要求1 所述的一種小塑封體集成電路的高可靠性引線框架加工工藝,其特征在于:所述陽極清洗過程為在20-30℃下,保持電流為1-2A,在引線框架加工中加入碳酸鈉與硝酸鈉的氫氧化鈉水溶液,濃度為75-95 g/L,其中碳酸鈉的濃度為65 g/L,硝酸鈉的濃度為35 g/L,氫氧化鈉的濃度為50 g/L,進(jìn)行電解清洗。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





