[發明專利]測試像素驅動電路的方法

有效

• 申請號: 201711462520.4
• 申請日: 2017-12-28
• 公開（公告）號: CN108182897B
• 公開（公告）日: 2019-12-31
• 發明（設計）人: 陳彩琴
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 44304 深圳市銘粵知識產權代理有限公司
• 代理人: 孫偉峰;武岑飛

1.一種測試像素驅動電路的方法，其特征在于，所述像素驅動電路包括：

第一晶體管，其柵電極連接到第一節點，且其第一端連接到第二節點，且其第二端連接到第三節點；

第二晶體管，其柵電極用于接收當前級掃描信號，且其第二端連接到所述第二節點，且其第一端用于接收數據電壓；

第三晶體管，其柵電極用于接收當前級掃描信號，且其第二端連接到所述第三節點，且其第一端連接到所述第一節點；

第四晶體管，其柵電極用于接收上一級掃描信號，且其第一端連接到所述第一節點，且其第二端用于接收第二電源電壓；

第五晶體管，其柵電極用于接收使能信號，且其第一端用于接收第一電源電壓，且其第二端連接到所述第二節點；

第六晶體管，其柵電極用于接收使能信號，且其第一端連接到所述第三節點；

第七晶體管，其柵電極用于接收當前級掃描信號，且其第一端連接到所述第四晶體管的第二端，且其第二端連接到所述第六晶體管的第二端；

電容器，其第一端連接所述第五晶體管的第一端，且其第二端連接所述第一節點；

其中，所述測試像素驅動電路的方法包括：

在間接測試時段通過導通所述第四晶體管，以將用于在直接測試時段導通所述第一晶體管的電壓存儲在所述電容器中，若從間接測試時段進入直接測試時段，則所述第四晶體管和所述電容器正常；

在所述間接測試時段之后的直接測試時段導通所述第一晶體管、所述第二晶體管、所述第三晶體管、所述第五晶體管、所述第六晶體管和所述第七晶體管，并檢測所述第二晶體管的第一端和所述第四晶體管的第二端之間的電流，若檢測到的電流在預定電流范圍內，則確定所述第一晶體管、所述第二晶體管、所述第三晶體管、所述第五晶體管、所述第六晶體管和所述第七晶體管正常。

2.根據權利要求1所述的測試像素驅動電路的方法，其特征在于，所述第一晶體管至所述第七晶體管中的每個晶體管是p溝道晶體管。

3.根據權利要求2所述的測試像素驅動電路的方法，其特征在于，在所述間接測試時段，所述上一級掃描信號為低電位，所述當前級掃描信號和所述使能信號為高電位。

4.根據權利要求2所述的測試像素驅動電路的方法，其特征在于，在所述間接測試時段，所述上一級掃描信號和所述使能信號為低電位，所述當前級掃描信號為高電位。

5.根據權利要求3或4所述的測試像素驅動電路的方法，其特征在于，在所述直接測試時段，所述上一級掃描信號為高電位，所述當前級掃描信號和所述使能信號為低電位。

6.根據權利要求3所述的測試像素驅動電路的方法，其特征在于，在所述間隔測試時段之前的第一時段，所述上一級掃描信號、所述當前級掃描信號和所述使能信號均為高電位。

7.根據權利要求3或4所述的測試像素驅動電路的方法，其特征在于，在所述間隔測試時段之前的第二時段，所述上一級掃描信號和所述使能信號均為高電位，所述當前級掃描信號為低電位。

8.根據權利要求7所述的測試像素驅動電路的方法，其特征在于，在所述第二時段之前的第一時段，所述當前級掃描信號和所述使能信號均為高電位，所述上一級掃描信號為低電位。