[發明專利]一種KIF1B基因rs17401966位點SNP核酸質譜檢測方法在審
| 申請號: | 201711449005.2 | 申請日: | 2017-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN108018335A | 公開(公告)日: | 2018-05-11 |
| 發明(設計)人: | 聶宵;林茂俊;張鵬;劉曉霞;白楊楊 | 申請(專利權)人: | 沃森克里克(北京)生物科技有限公司 |
| 主分類號: | C12Q1/6858 | 分類號: | C12Q1/6858;C12N15/11 |
| 代理公司: | 北京愛普納杰專利代理事務所(特殊普通合伙) 11419 | 代理人: | 王玉松 |
| 地址: | 100094 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 kif1b 基因 rs17401966 snp 核酸 檢測 方法 | ||
1.一種KIF1B基因rs17401966位點SNP核酸質譜檢測引物組,其特征在于,包括如下引物:
上游引物rs17401966-F:5`-ACGTTGGATGAATTGCACCTTGGTAGTCCC-3`;
下游引物rs17401966-R:5`-ACGTTGGATGAACCTCTAAGAACACTTGAC-3`;
延伸引物rs17401966-E:5`-GTGCCTCTATGAGTCC-3`。
2.一種應用權利要求1所述引物組的KIF1B基因rs17401966位點SNP核酸質譜檢測方法,其特征在于,包括如下步驟:
S1:用上游引物rs17401966-F和下游引物rs17401966-R進行第一輪PCR,對模板DNA進行擴增,得到含有所述rs17401966位點的片段;
S2:對步驟S1得到的片段進行去磷酸化處理,得到脫磷酸片段;
S3:用延伸引物rs17401966-E對所述脫磷酸片段進行單堿基延伸,對SNP堿基序列進行擴增,從而實現不同SNP的分型;
S4:對步驟S3得到的樣品進行脫鹽處理,用質譜儀進行檢測。
3.如權利要求2所述的KIF1B基因rs17401966位點SNP核酸質譜檢測方法,其特征在于,步驟S1中,第一輪PCR的反應體系中包括如下組分:
模板DNA 2ng/μl、rs17401966-F引物0.05μM、rs17401966-R引物0.05μM、Mg
4.如權利要求3所述的KIF1B基因rs17401966位點SNP核酸質譜檢測方法,其特征在于,步驟S1中,第一輪PCR的反應條件如下:
(1)預變性:95℃ 2min;
(2)擴增:95℃ 30s,56℃ 30s,72℃ 60s,共45個循環;
(3)延伸:72℃ 5min,4℃ ∞。
5.如權利要求2所述的KIF1B基因rs17401966位點SNP核酸質譜檢測方法,其特征在于,步驟S2中,去磷酸化的反應體系在第一輪PCR擴增產物的基礎上還包括如下成分:
0.24×SAP Buffer以及SAP酶0.5U。
6.如權利要求5所述的KIF1B基因rs17401966位點SNP核酸質譜檢測方法,其特征在于,步驟S2中,去磷酸化的反應條件如下:
(1)去磷酸化:37℃40min;
(2)SAP酶滅活:85℃5min,4℃∞。
7.如權利要求2所述的KIF1B基因rs17401966位點SNP核酸質譜檢測方法,其特征在于,步驟S3中,單堿基延伸的反應體系在去磷酸化產物的基礎上還包括如下成分:
0.222×iPLEX GOLD Buffer、1×iPLEX Termination mix、iPLEX延伸引物混合物0.84~1.57μM以及1×iPLEX Enzyme。
8.如權利要求7所述的KIF1B基因rs17401966位點SNP核酸質譜檢測方法,其特征在于,步驟S3中,單堿基延伸的反應條件如下:
(1)預變性:94℃ 30s;
(2)擴增內循環:94℃ 5s,52℃ 5s,共5個循環;
(3)擴增外循環:94℃ 5s,52℃ 5s,80℃ 5s,共40個循環;
(4)延伸:72℃ 4min,4℃ ∞。
9.如權利要求2所述的KIF1B基因rs17401966位點SNP核酸質譜檢測方法,其特征在于,步驟S4包括如下步驟:
S4.1:在樹脂板上鋪好潔凈樹脂待用,每孔6mg樹脂,風干10~20分鐘;
S4.2:向樣本板的樣本空內加入待測樣品,每個樣本孔再加15~20μL ddH
S4.3:打開覆蓋所述樣本孔的封口膜,將所述樣本板倒扣在所述樹脂板上固定,將固定好的樣本板和樹脂板整體翻轉,輕敲樹脂板,以使樹脂板中的樹脂完全落入樣本板上相應樣本孔,用封口膜密封,進行瞬時離心;
S4.4:將樣本樹脂混合物搖勻,在旋轉器上慢速旋轉15min后,在4000rpm條件下離心5min,離心后點樣上機、用質譜儀對樣品進行檢測。
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