[發(fā)明專利]基于HVA配向系統(tǒng)的電壓測量治具

在審

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• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN108107262A
• 公開（公告）日: 2018-06-01
• 發(fā)明（設計）人: 劉小成;尹鳳鳴
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G01R19/25
• 分類號: G01R19/25
• 代理公司: 深圳市銘粵知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44304
• 代理人: 孫偉峰;武岑飛

本發(fā)明公開了一種基于HVA配向系統(tǒng)的電壓測量治具，所述HVA配向系統(tǒng)包括電源及與電源相連的印加電冶具，所述印加電冶具上包括若干探針，所述電壓測量治具包括：電壓信號接收部，所述電壓信號接收部上設有若干導電部，所述導電部與探針一一對應設置；電壓信號顯示部，包括若干電性連接于導電部之間的電壓測量元件，以測量與對應的導電部相連的探針之間電壓是否異常。本發(fā)明的電壓測量治具通過電壓信號接收部與印加電冶具上的探針電性連接，電壓信號顯示部中的電壓測量元件能夠測量探針之間電壓是否異常，每次可測量一個基板上的多個HVA信號，大大降低了測量時間，提高了測量效率。

技術領域

本發(fā)明涉及液晶配向技術領域，特別是涉及一種基于HVA配向系統(tǒng)的電壓測量治具。

背景技術

UVM(Ultraviolet Meter)即配向紫外線光學照射機，是在加電的條件下通過紫外光照射，使加入液晶的Monomer(單體)形成重合體，并在聚酰亞胺(polyimide，PI)配向膜表面形成液晶預傾角，從而完成液晶配向，該配向方法稱之為HVA配向。

參圖1、圖2所示，在HVA配向中UVM加電方式是通過將印加電冶具3(Probe Bar)上的探針4與基板5上的焊墊6對位電接觸，然后通過計算機1控制電源2對印加電治具3供電，從而對基板進行加電控制。

目前，HVA配向一般需要用到7種探針，分別為ACOM、CCOM、ODD、EVEN、R、G、B，每種探針數(shù)量均為1個，其中ACOM與CCOM和AC電源相連，電壓范圍10～25V，ODD與EVEN和DC電源相連，電壓范圍3～8V，R、G、B接地，電壓為0V，具體參表1。

表1：HVA配向信號明細表

為了避免基板上的各面板的信號相互干擾，每個面板的HVA信號是分開的，這樣一個大板的HVA信號線數(shù)量較多，以G8.5 32英寸來計算，共18組面板，就有18組HVA信號，每組HVA信號有7種，為了避免Block過多一般情況將2組或者3組合并到一個Block上，即一個Block對應14個探針或者21個探針。由于印加電冶具長期暴露在UV光下，容易在接頭處及Block內(nèi)部探針焊接的位置出現(xiàn)線路老化導致連接不良的問題，這樣會導致HVA配向電壓無法有效供應到基板內(nèi)，UV照射后將會出現(xiàn)配向異常的問題。然而造成這種線路老化接觸不良的問題常常發(fā)生在更換印加電冶具時，由于人員搬運及調(diào)整，老化的線路容易斷開。

參圖3所示，目前有效的對策是在換線時用萬用表7測量各探針4之間的電壓，以確保及時發(fā)現(xiàn)線路是否斷開的問題，還可以檢查電源的電壓是否設置正確。采用萬用表測量電壓每組至少需要量測4次(2次AC，2次DC)，以G8.532英寸來計算，至少要測量56次，且萬用表AC檔和DC檔需要頻繁切換，造成整個電壓測量過程相當繁瑣。

因此，針對上述技術問題，有必要提供一種基于HVA配向系統(tǒng)的電壓測量治具。

發(fā)明內(nèi)容

為克服現(xiàn)有技術的不足，本發(fā)明的目的在于提供一種基于HVA配向系統(tǒng)的電壓測量治具，以簡化印加電冶具上探針的測量工藝，提高測量效率，降低測量時間。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明一實施例提供的技術方案如下：

一種基于HVA配向系統(tǒng)的電壓測量治具，所述HVA配向系統(tǒng)包括電源及與電源相連的印加電冶具，所述印加電冶具上包括若干探針，所述電壓測量治具包括：

電壓信號接收部，所述電壓信號接收部上設有若干導電部，所述導電部與探針一一對應設置；