[發(fā)明專利]一種鎖具測試系統(tǒng)

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201711447417.2
• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN108254165A
• 公開（公告）日: 2018-07-06
• 發(fā)明（設計）人: 林新達;孟凡輝
• 申請（專利權）人: 廣東頂固集創(chuàng)家居股份有限公司
• 主分類號: G01M13/00
• 分類號: G01M13/00
• 代理公司: 北京市立方律師事務所 11330
• 代理人: 劉延喜

本發(fā)明提供一種鎖具測試系統(tǒng)，用于對電子鎖的執(zhí)手、旋鈕、密碼模塊的性能測試，其特征在于，包括測試時分別位于所述鎖具面板兩側(cè)的第一測試裝置和第二測試裝置；其中，所述第一測試裝置包括用于測試所述密碼模塊性能的密碼模塊測試裝置和測試執(zhí)手性能的第一執(zhí)手測試裝置，所述第一執(zhí)手測試裝置與所述密碼模塊測試裝置位于不同高度處；所述第二測試裝置包括用于測試所述旋鈕性能的旋鈕測試裝置。本發(fā)明提供的一種鎖具測試系統(tǒng)，針對的是電子鎖的測試操作，其對應所述鎖具的兩側(cè)設置所述第一測試裝置和所述第二測試裝置，且可以對所述鎖具的多個部件同時進行測試，節(jié)省了操作的時間和難度，提高了測試效率。

技術領域

本發(fā)明涉及鎖具測試領域，尤其涉及一種鎖具測試系統(tǒng)。

背景技術

在鎖具測試領域中，一般是對鎖具某單個機構(gòu)或功能進行測試。但現(xiàn)今使用的鎖具通常都具有多個機構(gòu)和功能，進行開鎖時，有時需要多個機構(gòu)配合使用才能完成開/關鎖的操作。因此，現(xiàn)有的鎖具測試機構(gòu)中，無法同時對一個鎖具的多個機構(gòu)或功能同時進行測試，或者是模擬開/關鎖的操作。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的旨在提供一種鎖具測試系統(tǒng)，可對所述鎖具的兩側(cè)面進行測試，提高測試效率。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供以下技術方案：

一種鎖具測試系統(tǒng)，用于對電子鎖的執(zhí)手、旋鈕、密碼模塊、指紋模塊、刷卡模塊的性能測試，所述鎖具測試系統(tǒng)包括測試時分別位于所述鎖具面板兩側(cè)的第一測試裝置和第二測試裝置；其中，所述第一測試裝置包括用于測試所述密碼模塊性能的密碼模塊測試裝置、測試所述指紋模塊性能的指紋模塊測試裝置、測試所述刷卡模塊性能的刷卡模塊測試裝置和測試執(zhí)手性能的第一執(zhí)手測試裝置，所述第一執(zhí)手測試裝置分別與所述密碼模塊測試裝置、指紋模塊測試裝置和刷卡模塊測試裝置位于不同高度處；

所述第二測試裝置包括用于測試所述旋鈕性能的旋鈕測試裝置。

優(yōu)選地,所述第一測試裝置還包括驅(qū)動所述密碼模塊測試裝置平行于所述鎖具面板的第一移動裝置，所述第一移動裝置包括相互垂直設置的上下移動機構(gòu)和左右移動機構(gòu)；

所述上下移動機構(gòu)包括上下驅(qū)動電機、與所述上下驅(qū)動電機連接的第一連接桿、連接于所述第一連接桿兩端的主動輪、與所述主動輪相對應的從動輪、對應連接所述主動輪和所述從動輪的同步帶、與所述同步帶平行設置的第一導軌，以及設置在所述第一導軌上的第一滑行架，所述第一滑行架與所述同步帶固定連接；

所述左右移動機構(gòu)包括設于所述第一滑行架上且與所述同步帶垂直設置的第一絲桿、套設且滑動連接于所述第一絲桿的第一滑塊及驅(qū)動所述第一滑塊移動的左右驅(qū)動電機；

所述上下驅(qū)動電機和所述左右驅(qū)動電機為伺服電機；

所述密碼模塊測試裝置固定于所述第一滑塊的上部；

所述密碼模塊測試裝置包括第一氣缸、第二氣缸和按壓所述密碼模塊的密碼鍵第一按壓部，所述第二氣缸由所述第一氣缸驅(qū)動垂直所述鎖具面板的方向運動，所述第一按壓部由所述第二氣缸驅(qū)動垂直所述鎖具面板的方向運動。

優(yōu)選地,所述左右驅(qū)動電機靠近所述第一連接桿的一側(cè)設置減速箱。

優(yōu)選地,述指紋模塊測試裝置固定于所述第一滑塊的上部，所述指紋模塊測試裝置包括指紋測試氣缸和所述指紋測試氣缸驅(qū)動指紋頭。

優(yōu)選地,所述刷卡模塊測試裝置包括刷卡測試氣缸和感應卡片，所述感應卡片連接所述刷卡測試氣缸，所述刷卡測試氣缸能夠?qū)⒏袘ㄆ瑐魉椭了鏊⒖K的卡片感應區(qū)域。

優(yōu)選地,所述第一測試裝置還包括測試鎖芯的鎖芯測試裝置，所述鎖芯測試裝置包括鎖芯測試氣缸和所述鎖芯測試氣缸驅(qū)動的鑰匙旋動機構(gòu)，所述鑰匙旋動機構(gòu)包括鑰匙旋動電機和所述鑰匙旋動電機驅(qū)動旋動的鑰匙夾持件；