[發(fā)明專利]一種液晶模組老化測試裝置和包括其的設備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711447322.0 | 申請日: | 2017-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN108109567B | 公開(公告)日: | 2021-08-13 |
| 發(fā)明(設計)人: | 陳文源;倪傳周;沐林;嚴吉新;殷建東 | 申請(專利權)人: | 蘇州華興源創(chuàng)科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00;G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京正理專利代理有限公司 11257 | 代理人: | 張雪梅 |
| 地址: | 215000 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 液晶 模組 老化 測試 裝置 包括 設備 | ||
本發(fā)明提供了一種液晶模組老化測試裝置和包括其的設備,該裝置包括:隨機存儲器、Flash閃存、微處理器、FPGA和輸出接口,其中Flash閃存存儲從上位機接收的液晶模組的顯示畫面數據;所述微處理器從所述隨機存儲器調用來自上位機的測試參數和顯示畫面參數傳輸到所述FPGA;所述FPGA根據所述測試參數生成測試信號并根據所述顯示畫面參數從所述Flash閃存讀取所述顯示畫面數據,并將所述測試信號和顯示畫面數據傳輸到所述輸出接口;所述輸出接口將所述測試信號和顯示畫面數據傳輸到所述液晶模組。
技術領域
本發(fā)明涉及液晶顯示領域,特別地,涉及一種液晶模組老化測試裝置和包括其的設備。
背景技術
目前的TFT-LCD(thin film transistor-liquid crystal display,薄膜晶體管液晶顯示器)模組老化盒控制系統(tǒng)采用USB通訊傳輸設定的驅動信號去點亮TFT-LCD液晶模組,通過上位機編輯參數,并把相關參數通過USB下載更新到TFT-LCD液晶模組老化盒,其中包括單片機的控制程序和模組需要的各參數:模組時鐘頻率、水平時鐘、垂直時鐘、時序要求、電壓電流設定值、切換畫面時間、自動On/Off模式、老化自動循環(huán)模式(其中包括三階段單畫面固定時間、多畫面固定時間循環(huán)、固定畫面On/Off)等、以及FPGA可編程邏輯器件的程序,讓FPGA按程序要求輸出模組需要的RGB信號畫面,來點亮驅動模組。電源采用+12V和±24V輸入,通過升壓等回路輸出五路可軟件設定的電壓:VSHD(3~10V)、VSHA(3~10V)、VGH(1~15V)、VGL(-1~-15V)、VLED(1~42V)。通過上位機軟件設定模組需要的電壓參數,并下載在到液晶模組老化盒控制系統(tǒng)中,在開啟設備時,對應的端口電壓按設定幅值進行輸出供給模組。TFT-LCD液晶模組老化盒控制系統(tǒng)可通過USB端口進行實時信號傳輸控制,也可以通過設備外接的按鍵旋鈕等進行設備的開啟和關閉、畫面切換、模式切換等。通過分配基板、XF2M歐姆龍接插件、FFC和ROM基板將信號對接到不同需求的模組接口上(包括數字信號接口、模擬類型接口、LVDS信號接口等)。
但是上位機通過USB端口和TFT-LCD液晶檢測設備連接的臺數有限,一般多于3臺以上就可能產生端口沖突無法識別,而且上位機的USB端口+5V供電驅動能力也是有限的,在多臺設備一起連接驅動時,電壓會衰減導致無法驅動連接。因為這一點目前的TFT-LCD液晶老化信號盒驅動控制系統(tǒng)就無法實現多臺連接到同一臺PC上位機同時控制,在更新程序就只能單臺更新,需要大量時間和人力物力(設備PC上位機),給客戶在使用設備帶來諸多不便,并增加了客戶的勞動量和成本。
目前的TFT-LCD液晶模組老化盒控制系統(tǒng)沒有存儲Flash,無法存儲BMP畫面這種大數據,只能輸出FPGA生存的內置畫面,客戶在需要在測試時顯示復雜畫面或圖片照片時,目前的液晶模組老化盒控制系統(tǒng)就無法滿足客戶的需求,給客戶的使用造成了不便。設計工程人員為滿足TFT-LCD客戶的部分復雜畫面,需要花費很多精力想辦法通過FPGA編程內部實現,也會占用大量的FPGA內部資源,有時候甚至是不可能的。目前的TFT-LCD液晶設備就無法實現客戶需求。
目前的TFT-LCD液晶模組老化盒控制系統(tǒng)因FPGA端口較少,只能驅動Single接口模組,無法驅動Dual接口模組。在TFT-LCD市場模組分辨率越來越趨向高分辨率時,之前的TFT-LCD液晶模組老化盒控制系統(tǒng)就顯的捉襟見肘,無法驅動對應的局面。
目前的TFT-LCD液晶模組老化盒控制系統(tǒng)無法對輸出端口的電壓電流進行監(jiān)控,在壓接錯位、器件不良損壞等導致大電流或設備本身的大電壓輸出時,可能導致TFT-LCD液晶模組損壞,或設備長時間輸出大電流導致設備發(fā)熱,存有產生明火等安全隱患。
發(fā)明內容
為了解決上述技術問題中的至少一個,本發(fā)明提供了一種液晶模組老化測試裝置及包括該裝置的設備。
本發(fā)明的第一方面提供一種液晶模組老化測試裝置,包括:
隨機存儲器、Flash閃存、微處理器、FPGA和輸出接口,其中
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