[發明專利]生成電路布局的方法、裝置、計算設備及存儲介質

在審

• 申請號: 201711447025.6
• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN108226754A
• 公開（公告）日: 2018-06-29
• 發明（設計）人: 劉躍馬
• 申請（專利權）人: 西門子數控(南京)有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 趙冬梅

本發明公開了生成電路布局的方法、裝置、計算設備及存儲介質。生成電路布局的方法，包括：確定轉接電路的第一接口層布局，其中，第一接口層布局對應于測試平臺的接口；獲取一待測試電路板的元器件測試信息，其中，元器件測試信息包括：待測試電路板上各被測試點的位置信息和各被測試點與所述測試平臺的第一連接信息；根據各被測試點的位置信息，確定轉接電路的第二接口層布局，其中，第二接口層布局中各接口分別與各被測試點的位置對應；根據各被測試點與測試平臺的接口的連接信息，將第一接口層布局與第二接口層布局進行連接。

技術領域

本發明涉及電路板測試領域，特別是涉及生成電路布局的方法、裝置、計算設備及存儲介質。

背景技術

目前，在對電路板進行測試時，測試人員需要將電路板上被測試點與測試平臺的接口進行線路連接。這里，通過導線連接被測試點與測試平臺的方式效率較低。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例中提出了一種生成電路布局的方案，以便利用該電路布局設計用于替代導線連接的轉接電路，從而利用轉接電路提高測試效率。

根據本發明一個方面，提供一種生成電路布局的方法，包括：確定轉接電路的第一接口層布局，其中，所述第一接口層布局對應于測試平臺的接口；獲取一待測試電路板的元器件測試信息，其中，所述元器件測試信息包括：待測試電路板上各被測試點的位置信息和各被測試點與所述測試平臺的第一連接信息；根據所述各被測試點的位置信息，確定所述轉接電路的第二接口層布局，其中，所述第二接口層布局中各接口分別與所述各被測試點的位置對應；根據所述各被測試點與所述測試平臺的接口的連接信息，將所述第一接口層布局與第二接口層布局進行連接。這樣，本實施例的方法可以生成用于測試元器件的電路布局。

在一些實施例中，該方法還包括：獲取對所述待測試電路板的功能測試信息，其中，所述功能測試信息包括用于布置于所述轉接電路的測試電路模塊和第二連接信息，所述第二連接信息用于描述所述各被測試點、所述測試電路模塊和所述測試平臺之間的連接關系；根據所述第二連接信息將所述第一接口層布局、所述測試電路模塊和所述第二接口層布局進行連接。這樣，本實施例的方法可以生成用于測試元器件和進行功能測試的電路布局。

在一些實施例中，在根據所述第二連接信息將所述第一接口層布局、所述測試電路模塊和所述第二接口層布局進行連接之前，該方法還包括：根據異常分析策略檢測所述第二連接信息；在檢測到所述第二連接信息中存在連接異常時，生成相應的告警記錄；在未檢測到所述第二連接信息中存在連接異常時，執行所述根據第二連接信息將所述第一接口層布局、所述測試電路模塊和所述第二接口層布局進行連接的步驟。這樣，本實施例的方法可以在生成電路布局之前，檢測第二連接信息是否存在連接異常。

在一些實施例中，所述根據異常分析策略檢測所述第二連接信息，包括：根據語義規則檢測所述第二連接信息，其中，所述語義規則用于描述所述第二連接信息的預定表述規則；根據連接邏輯檢測所述第二連接信息，其中，所述連接邏輯用于描述所述各被測試點、所述測試電路模塊和所述測試平臺之間的連接規則。這樣，本實施例的方法可以對第二連接信息進行語義分析和基于連接邏輯的分析。

在一些實施例中，所述根據異常分析策略檢測所述第二連接信息，包括下述中至少一種：在檢測到所述各被測試點中任一接地點與所述測試平臺的電源接口連接時，確定所述任一接電點對應的連接存在異常；在檢測到所述各被測試點中任一異步傳輸標準接口連接到所述測試平臺的以太網接口或者連接到所述測試平臺的通用串行總線時，確定所述異步傳輸標準接口對應的連接存在異常；以及在檢測到所述各被測試點中任一接口與所述測試平臺的預留接口連接時，確定所述任一接口對應的連接存在異常。