[發明專利]一種基于誤差補償的快速響應時間測試儀及方法

在審

• 申請號: 201711446935.2
• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN109976298A
• 公開（公告）日: 2019-07-05
• 發明（設計）人: 張緒怡;尹繼超;劉培邦;聶紅偉;魯星言;張登;齊靜雯
• 申請（專利權）人: 核動力運行研究所;中核武漢核電運行技術股份有限公司
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 核工業專利中心 11007
• 代理人: 李東斌

本發明涉及核電站DCS測試技術領域，具體公開了一種基于誤差補償的快速響應時間測試儀及方法。該測試儀包括sbRIO模塊和定制調理模塊，其中，所述的sbRIO模塊包括sbRIO處理器、AI模塊、AO模塊、DO模塊以及DI模塊；所述第定制調理模塊包括精密電阻網絡、V/I調理模塊、Relay調理模塊以及光耦調理模塊，其中，精密電阻網絡與AI模塊相連接，AO模塊與V/I調理模塊相連接；光耦調理模塊與DI模塊相連接，以及DO模塊與Relay調理模塊相連接；sbRIO處理器與AI模塊、AO模塊、DO模塊以及DI模塊相連接，并接收、處理相應的信息。本發明所述的一種基于誤差補償的快速響應時間測試儀及方法，通過引入誤差補償回路，降低了響應時間測量的誤差，提高了測試精度。

技術領域

本發明屬于核電站DCS測試技術領域，具體涉及一種基于誤差補償的快速響應時間測試儀及方法。

背景技術

核電DCS系統響應時間為衡量DCS系統處理故障的時間性能的重要參數，在DCS系統調試中有很重要的作用，傳統測量的測試方法為通過信號發生器或者按鈕等硬件給DCS機柜注入故障信號，然后檢測DCS系統目標通道的輸出信號，記錄該時間段；使用的測試儀器為示波器，將注入DCS的信號及DCS的反饋信號串聯接入示波器，人工讀取時間差。

發明內容

本發明的目的在于提供一種基于誤差補償的快速響應時間測試儀及方法，其可以降低響應時間測試的誤差。

本發明的技術方案如下：一種基于誤差補償的快速響應時間測試儀，該測試儀包括sbRIO模塊和定制調理模塊，其中，所述的sbRIO模塊包括sbRIO處理器、AI模塊、AO模塊、DO模塊以及DI模塊；所述第定制調理模塊包括精密電阻網絡、V/I調理模塊、Relay調理模塊以及光耦調理模塊，其中，精密電阻網絡與AI模塊相連接，AO模塊與V/I調理模塊相連接；光耦調理模塊與DI模塊相連接，以及DO模塊與Relay調理模塊相連接；sbRIO處理器與AI模塊、AO模塊、DO模塊以及DI模塊相連接，并接收、處理相應的信息。

所述的sbRIO處理器可接收經過精密電阻網絡調理進入AI模塊的外部模擬量信號，并對AI模塊發送的信號進行處理；sbRIO處理器產生的模擬量信號經過AO模塊輸出到與AO模塊相連接的V/I調理模塊，并通過V/I調理模塊輸出至測試儀外部。

所述的sbRIO處理器可接收并處理經過光耦調理模塊輸入至DI模塊的信號，并將sbRIO處理器產生的數字量信號經過DO模塊輸出至Relay調理模塊，經過Relay調理模塊調理后輸出到測試儀外。

所述的sbRIO模塊還包括電源模塊，所述的電源模塊與定制調理模塊中的檢測電源相連接，為整個測試儀提供24V直流電源。

所述的sbRIO處理器可完成信號的收發、網絡通信、信息顯示以及響應時間的測量計算功能。

一種基于誤差補償的快速響應時間測試方法，該方法具體包括如下步驟：

步驟1、安裝高速采集IO板卡，并將高速IO板卡經過調理單元，通過硬接線與被測試DCS機柜相連接；

將高速采集IO板卡經過調理單元，并通過硬接線與被測試DSC機柜相連接，sbRIO處理器控制高速采集IO板卡收發數據；

步驟2、利用高速采集IO板卡同時輸出兩路信號，第一路信號環接至自身等IO輸入卡，第二路信號接入DSC；采集DSC第反饋信號，通過兩路輸入信號第時間差即獲得DCS的響應時間。

本發明的顯著效果在于：本發明所述的一種基于誤差補償的快速響應時間測試儀及方法，通過引入誤差補償回路，降低了響應時間測量的誤差，提高了測試精度。

附圖說明

圖1為本發明所述的一種基于誤差補償的快速響應時間測試儀結構示意圖；