[發明專利]產品壽命分析方法及終端設備

有效

• 申請號: 201711446595.3
• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN108280608B
• 公開（公告）日: 2021-02-02
• 發明（設計）人: 牛躍聽;趙曉東;穆希輝;葛強;張國志;宋桂飛;馬小兵;柳維旗;王韶光;賈浩楠;姜志保;王永南;黃琛
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍63908部隊
• 主分類號: G06Q10/08
• 分類號: G06Q10/08;G06F30/20
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 付曉娣

1.一種產品壽命分析方法，其特征在于，包括：

獲取產品在預設加速壽命試驗條件下的第一試驗數據，以及產品在自然貯存條件下的第二試驗數據；所述第一試驗數據為無失效數據；所述第二試驗數據為產品失效時對應的時間數據；

根據所述預設加速壽命試驗條件和所述自然貯存條件，將所述第一試驗數據轉化為在所述自然貯存條件下的第三試驗數據；所述第三試驗數據為定時截尾數據；

根據所述第二試驗數據和所述第三試驗數據，通過極小卡方估計方法對產品壽命進行分析；

所述根據所述預設加速壽命試驗條件和所述自然貯存條件，將所述第一試驗數據轉化為在所述自然貯存條件下的第三試驗數據，具體為：

根據所述預設加速壽命試驗條件和所述自然貯存條件，通過多源數據融合的方法將所述第一試驗數據轉化為在所述自然貯存條件下的第三試驗數據；

其中，產品壽命服從威布爾分布和I型極大值分布；所述根據所述預設加速壽命試驗條件和所述自然貯存條件，通過多源數據融合的方法將所述第一試驗數據轉化為在所述自然貯存條件下的第三試驗數據，過程為：數據屬于成敗型不完全失效數據，數據類型可以等效如下：

記t＝(t₁,…,t_k)為檢測時間點，在貯存了時間t_i之后，抽取n_i件產品進行試驗，發現X_i件失效，從而得到數據：(t_i,n_i,X_i),i＝1,2,…,k，其中，0t₁t₂…t_k，各次試驗相互獨立；

設預設加速壽命試驗條件對應k個應力S₁,S₂,…,S_k，設S₀S₁S₂…S_k，其中S₀為自然貯存對應的應力水平，在應力S_i下共有r_i個產品失效，失效時間分別為：τ_i為S_i下的截尾時間，i＝1,2,…,k；

記試驗樣本總數為n，失效樣本總數為到達試驗截尾時刻τ_k仍未失效的樣本數為n-r，屬于定時截尾型數據；

設產品壽命T的分布函數為F(t；θ)，其中θ是未知參數；設g(θ)是θ的廣義實值函數；若在試驗中未發生失效，n個產品的截尾試驗時間依次為t₁,t₂,…,t_n，則根據可靠度函數R(t；θ)可得到無故障數據情形下的似然函數為：

對于給定的n個截尾試驗時間t₁,t₂,…,t_n，g(θ)的1-α置信水平的最優正則置信下限y^*(Z⁰)存在，且其中Θ指θ的取值空間，α為顯著性水平，Z⁰為無失效數據，數學形式為(t₁,0,t₂,0,…t_n,0)。