[發明專利]圖像處理方法、裝置及圖像形成設備

有效

• 申請號: 201711446536.6
• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN108156349B
• 公開（公告）日: 2020-12-08
• 發明（設計）人: 雷艷虎;丁西寧;梁杰
• 申請（專利權）人: 珠海奔圖電子有限公司
• 主分類號: H04N1/60
• 分類號: H04N1/60;H04N1/00;H04N1/04
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 劉丹;黃健

1.一種圖像處理方法，其特征在于，包括：

在陰影校正過程中，獲取針對校正介質進行陰影校正的初始校正參數，所述校正介質貼設在圖像形成設備中玻璃板的第一側；

獲取與圖像讀取組件對應的補償參數；所述圖像讀取組件設置于圖像形成設備內，且位于掃描模塊中玻璃板的第二側；

根據所述補償參數對所述初始校正參數進行補償，得到實際校正參數；

在實際掃描過程中，根據所述實際校正參數對掃描圖像進行校正；

所述補償參數為：

根據圖像讀取組件對已知顏色值的第一成像介質執行一次實際掃描過程所得到的第一掃描結果、以及所述第一成像介質的已知顏色值之間的差值設定的；或者，

根據圖像讀取組件對與第二成像介質執行一次實際掃描過程所得到的第二掃描結果和預設校正參數之間的差值設定的。

2.根據權利要求1所述的圖像處理方法，其特征在于，根據所述補償參數對所述初始校正參數進行補償，得到實際校正參數，包括：

計算所述補償參數與初始校正參數的乘積，作為實際校正參數。

3.根據權利要求1所述的圖像處理方法，其特征在于，所述補償參數具體為根據所述第一掃描結果和第一成像介質的已知顏色值之間的差值歸屬的預設差值等級所對應的補償曲線進行設定的。

4.根據權利要求1或2所述的圖像處理方法，其特征在于，所述第二成像介質與校正介質的顏色值相同；所述預設校正參數為針對校正介質進行陰影校正得到的。

5.一種圖像處理裝置，其特征在于，包括：

初始校正參數獲取模塊，用于在陰影校正過程中，獲取針對校正介質進行陰影校正的初始校正參數，所述校正介質貼設在圖像形成設備中玻璃板的第一側；

補償參數獲取模塊，用于獲取與圖像讀取組件對應的補償參數；所述圖像讀取組件設置于圖像形成設備內，且位于掃描模塊中玻璃板的第二側；

實際校正參數獲取模塊，用于根據所述補償參數對所述初始校正參數進行補償，得到實際校正參數；

校正模塊，用于在實際掃描過程中，根據所述實際校正參數對掃描圖像進行校正；

所述補償參數獲取模塊獲取到的補償參數為：

根據圖像讀取組件對已知顏色值的第一成像介質執行一次實際掃描過程所得到的第一掃描結果、以及所述第一成像介質的已知顏色值之間的差值設定的；或者,

根據圖像讀取組件對與第二成像介質執行一次實際掃描過程所得到的第二掃描結果和預設校正參數之間的差值設定的。

6.根據權利要求5所述的圖像處理裝置，其特征在于，所述實際校正參數獲取模塊具體用于計算所述補償參數與初始校正參數的乘積，作為實際校正參數。

7.根據權利要求5所述的圖像處理裝置，其特征在于，所述補償參數獲取模塊獲取到的補償參數具體為根據所述第一掃描結果和第一成像介質的已知顏色值之間的差值歸屬的預設差值等級所對應的補償曲線進行設定的。

8.根據權利要求5或6所述的圖像處理裝置，其特征在于，所述第二成像介質與校正介質的顏色值相同；所述預設校正參數為針對校正介質進行陰影校正得到的。

9.一種圖像形成設備，其特征在于，包括：掃描模塊、圖像形成模塊、紙盒、以及如權利要求5-8任一項所述的圖像處理裝置。

10.根據權利要求9所述的圖像形成設備，其特征在于，所述掃描模塊包括：第一圖像讀取組件、第二圖像讀取組件和玻璃板，所述玻璃板位于第一圖像讀取組件和第二圖像讀取組件之間。