[發明專利]閃爍晶體單粒子激發時間分辨光譜的測量系統及測量方法有效
| 申請號: | 201711446276.2 | 申請日: | 2017-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN108051842B | 公開(公告)日: | 2019-06-07 |
| 發明(設計)人: | 許孟軒;陳亮;歐陽曉平 | 申請(專利權)人: | 西北核技術研究所 |
| 主分類號: | G01T1/202 | 分類號: | G01T1/202 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標代理有限公司 61211 | 代理人: | 汪海艷 |
| 地址: | 710024 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 閃爍 晶體 粒子 激發 時間 分辨 光譜 測量 系統 測量方法 | ||
1.一種閃爍晶體單粒子激發時間分辨光譜的測量系統,其特征在于:包括暗箱(4)、光譜儀(5)、位于光譜儀(5)進光口(7)端的第一光電倍增管(1)與放射源(6)及位于光譜儀(5)出光口(9)端的第二光電倍增管(2),所述光譜儀(5)、第一光電倍增管(1)、放射源(6)及第二光電倍增管(2)均位于暗箱(4)內;
還包括位于暗箱(4)外的高壓電源(3)、第一前置放大器與恒比定時器(10)、第二前置放大器與恒比定時器(15)、延時器(12)、時幅轉換器(11)、多道分析器(13)及計算機(14);
待測晶體(8)位于光譜儀(5)進光口(7)的幾何中心;
所述高壓電源(3)用于給第一光電倍增管(1)以及第二光電倍增管(2)提供電壓;
所述放射源(6)用于激發待測晶體(8),待測晶體(8)發出的部分光進入第一光電倍增管(1);部分光通過進光口(7)進入光譜儀(5);
所述第一光電倍增管(1)用于檢測待測晶體(8)發出的光信號,并在測到待測晶體(8)發出的光信號的時刻輸出一個脈沖信號;
所述光譜儀(5)用于根據計算機(14)設定的波長將待測晶體(8)發出的光過濾;
所述第二光電倍增管(2)用于檢測經光譜儀(5)過濾的光信號,并在接收到光譜儀(5)過濾后的光的時刻輸出一個脈沖信號;
所述第二前置放大器與恒比定時器(15)用于將第二光電倍增管(2)的脈沖信號放大,并在信號幅度達到設定閾值時,輸出一路定時信號;
所述延時器(12)用于將第二前置放大器與恒比定時器(15)輸出的定時信號進行延時,并輸入至時幅轉換器(11);
所述第一前置放大器與恒比定時器(10)用于將第一光電倍增管(1)的脈沖信號放大,并在信號幅度達到設定閾值的時候,輸出另一路定時信號;
所述時幅轉換器(11)用于將兩路定時信號的時間差轉換為幅度并輸出到多道分析器(13);
所述計算機(14)用于接收并處理多道分析器(13)的信號。
2.根據權利要求1所述的閃爍晶體單粒子激發時間分辨光譜的測量系統,其特征在于:所述放射源(6)為同位素源,所述同位素源的活度大于等于103bq小于等于107bq。
3.根據權利要求2所述的閃爍晶體單粒子激發時間分辨光譜的測量系統,其特征在于:所述第一光電倍增管(1)為高量子效率的光電倍增管,放大倍數大于1×105。
4.根據權利要求3所述的閃爍晶體單粒子激發時間分辨光譜的測量系統,其特征在于:第二光電倍增管(2)為快響應的光電倍增管,渡越時間彌散小于1ns。
5.根據權利要求4所述的閃爍晶體單粒子激發時間分辨光譜的測量系統,其特征在于:暗箱(4)內部涂有黑色涂料或者襯有黑色絨布。
6.根據權利要求5所述的閃爍晶體單粒子激發時間分辨光譜的測量系統,其特征在于:所述暗箱(4)上設有開孔或轉接口。
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