[發明專利]用于有源相控陣雷達天線波束控制電路檢測的通信指令解析方法

有效

• 申請號: 201711445771.1
• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN108169723B
• 公開（公告）日: 2020-11-17
• 發明（設計）人: 鄭建華;盧韞陶;賴成祥;林野;張俊偉
• 申請（專利權）人: 成都銳芯盛通電子科技有限公司
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 成都眾恒智合專利代理事務所(普通合伙) 51239
• 代理人: 劉華平

本發明公開了一種用于有源相控陣雷達天線波束控制電路檢測的通信指令解析方法，主要解決現有技術中存在的程序不統一，解析命令各異，兼容性能差等問題。包括以下步驟：預設波束控制電路各寄存器的通道地址，將協議文件反序列化成波控指令結構體；根據查找指令查找波控指令結構體中對應的執行指令；將浮點數的角度轉換成整數類型；將浮點數的測試電壓轉換成整數類型；根據脈沖切換信號的頻率、占空比和時鐘周期信息生成高低電平；查找通道函數對應的通道地址，并將解析后的操作指令存儲于下發序列表中；將整數類型工作電壓轉換成雙精度的浮點數，并回傳至上位機界面控制模塊。本發明具有解析高效、邏輯簡單、兼容性能良好等優點。

技術領域

本發明涉及有源相控陣雷達天線技術領域，尤其是用于有源相控陣雷達天線波束控制電路檢測的通信指令解析方法。

背景技術

相控陣雷達，即相位控制電子掃描陣列雷達，利用大量個別控制的小型天線元件排列成天線陣面，每個天線單元都由獨立的開關控制，基于惠更斯原理通過控制各天線元件發射的時間差，就能合成不同相位(指向)的主波束，而且在兩個軸向上均可進行相位變化。相控陣雷達分為無源相控陣雷達和有源相控陣雷達兩種，有源相控陣雷達較無源相控陣雷達更優異。相控陣雷達具有波束指向靈活，可同時形成多個獨立波束，目標容量大，適應能力強，抗干擾性良好等優點，被廣泛運用于雷達探測領域。

波束控制電路作為相控陣雷達天線的控制組件，波束控制電路的性能參數直接影響相控陣雷達天線的增益、損耗、頻譜、噪聲、波形等等通信性能，目前，大多數控陣雷達波束控制電路檢測采用各獨立的參數測試儀，雖然，能準確的檢測波束控制電路各項性能，但是，需要反復拆接測試線，使用多種測試儀器，如此一來，便使得測試過程較為繁瑣，檢測工作效率低下。另外，各測試儀器之間的程序不統一，若想完備地檢測相控陣雷達天線波束控制電路，需要投入更多測試設備，增加的生產投入成本。為了減少測試儀器，降低檢測投入成本，簡化波束控制電路檢測作業流程，提出集成化的測試系統。該相控陣雷達天線波束控制電路檢測系統主要包括界面控制模塊、DA讀寫模塊、通道幅相控制模塊、系統自檢模塊、波束控制算法驗證模塊、電源脈沖控制模塊、波束控制電路閃存控制模塊和衰減幅度控制模塊。

因此，急需提出一種用于有源相控陣雷達天線波束控制電路檢測的通信指令解析方法，以克服各測試儀器間程序不統一、解析的命令各異等問題，實現檢測系統集成化，提高各參數檢測兼容性。

發明內容

針對上述不足之處，本發明的目的在于提供一種用于有源相控陣雷達天線波束控制電路檢測的通信指令解析方法，主要解決現有技術中存在的程序不統一，解析命令各異，兼容性能差等問題。

為了實現上述目的，本發明采用的技術方案如下：

用于有源相控陣雷達天線波束控制電路檢測的通信指令解析方法，包括以下步驟：

步驟S01，在上位機預設波束控制電路各寄存器的通道地址和波束控制電路檢測項目的協議文件；由上位機的界面控制模塊選擇波束控制電路檢測項目的協議文件，并將該協議文件反序列化成波控指令結構體。

步驟S02，根據上位機的界面控制模塊下發至波控指令結構體的查找指令，并通過關鍵字的方式查找該查找指令對應的執行指令；判定所述執行指令的每個字節中是否含有函數，若含有函數，則進入步驟S03，否則進入步驟S04。

步驟S03，根據含有函數的執行指令，通過關鍵字的方式查詢預設在上位機內的函數模塊，判定執行指令類型：

(1)當執行指令為浮點數的角度時，將該角度轉換成整數類型，并存儲于連接波束控制電路的串行連接下發序列表中，用于傳輸至波束控制電路。

(2)當執行指令為浮點數的測試電壓時，將該測試電壓轉換成整數類型，并存儲于連接波束控制電路的串行連接下發序列表中，用于傳輸至波束控制電路控制相控陣雷達天線幅度和相位。