[發(fā)明專利]一種激光掃描檢測中的取點方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711443519.7
• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN108168456B
• 公開（公告）日: 2020-06-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳葉金
• 申請（專利權(quán)）人: 南京鑫業(yè)誠智能科技有限公司
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 常州佰業(yè)騰飛專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32231
• 代理人: 劉松

1.一種激光掃描檢測中的取點方法，其特征在于：包括如下步驟：

步驟1：在加工中心將零件的輪廓加工完成，所述加工中心配套設(shè)有用于掃描零件的含激光位移傳感器的檢測設(shè)備；

步驟2：在檢測設(shè)備中設(shè)定四個取點參數(shù)，所述四個取點參數(shù)包括特征高度、特征邊搜尋方向、取點偏移量和取點寬度；

所述特征高度不高于零件的輪廓高度；所述特征邊搜尋方向為從左至右或從右至左；

步驟3：在檢測設(shè)備中預(yù)設(shè)掃描路徑，激光位移傳感器沿著零件表面根據(jù)掃描路徑進行掃描；掃描后得到零件的表面輪廓形狀數(shù)據(jù)；檢測設(shè)備控制激光位移傳感器沿特征邊搜尋方向與特征高度在零件表面進行搜尋，將激光位移傳感器按找特征高度搜尋到的第一個零件輪廓上的邊沿作為特征邊；檢測設(shè)備記錄特征邊所在坐標(biāo)；

步驟4：檢測設(shè)備以特征邊的坐標(biāo)為基礎(chǔ)，根據(jù)取點偏移量的取值進行偏移：取點偏移量為正數(shù)或負數(shù)，取點偏移量若為正，則向右偏移，即坐標(biāo)正向偏移；取點偏移量若為負，則向左偏移，即坐標(biāo)負向偏移，偏移后，檢測設(shè)備根據(jù)特征高度和偏移后的特征邊的坐標(biāo)得到一個測量中心點坐標(biāo)；

步驟5：在掃描得到的零件表面輪廓上，以測量中心點為基點，根據(jù)取點寬度在零件的輪廓上建立用于計算的測量帶，測量帶的中點為測量中心點，檢測設(shè)備提取測量帶上的輪廓形狀，離散化為數(shù)據(jù)點集；數(shù)據(jù)點集中的每一個點均包括一個坐標(biāo)值和一個高度值；

步驟6：對步驟5中獲取的數(shù)據(jù)點集中的所有點的z軸向上的坐標(biāo)進行濾波處理，得到零件表面對應(yīng)測量中心點坐標(biāo)的高度值。

2.如權(quán)利要求1所述的一種激光掃描檢測中的取點方法，其特征在于:在執(zhí)行步驟6時，采用的濾波處理為平滑濾波或中值濾波。

3.如權(quán)利要求1所述的一種激光掃描檢測中的取點方法，其特征在于:所述偏移量的取值取決于測量臺階的寬度，設(shè)定與特征邊相鄰的臺階寬度為W，則偏移量通常取為W/2；所述取點寬度的取值為W/4。

4.如權(quán)利要求1所述的一種激光掃描檢測中的取點方法，其特征在于:執(zhí)行步驟5時，坐標(biāo)值為x軸向和y軸向上的坐標(biāo)，高度值為z軸向上的坐標(biāo)。