[發明專利]固態硬盤垃圾回收的方法和固態硬盤

有效

• 申請號: 201711442349.0
• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN109977031B
• 公開（公告）日: 2021-06-01
• 發明（設計）人: 熊偉;張瑛
• 申請（專利權）人: 成都華為技術有限公司
• 主分類號: G06F12/02
• 分類號: G06F12/02
• 代理公司: 北京龍雙利達知識產權代理有限公司 11329
• 代理人: 魏雪嬌;毛威

1.一種固態硬盤垃圾回收的方法，其特征在于，包括：

確定當前采樣點對應的采樣區間內至少兩個采樣點的固態硬盤SSD的剩余空間變化趨勢，所述采樣區間內包括多個采樣點；

根據所述剩余空間變化趨勢對應的步長，確定所述當前采樣點對應的所述SSD的垃圾回收速率；

在所述當前采樣點和下一個采樣點之間的時間段內，根據所述當前采樣點對應的所述SSD的垃圾回收速率進行所述SSD的垃圾回收；

所述步長為基準間隔對應的回收并發數；所述基準間隔為所述SSD的剩余空間與所述SSD的基準值的差值的最小單位；所述并發數為所述SSD垃圾回收時回收量的單位。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述剩余空間變化趨勢均為增加或者均為減小的情況下，所述剩余空間變化趨勢對應的步長為第一步長；

在所述剩余空間變化趨勢包括增加和減小的情況下，所述剩余空間變化趨勢對應的步長為第二步長；

其中，所述第一步長的值大于所述第二步長的值。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述剩余空間變化趨勢利用剩余空間變化趨勢位圖表示，所述剩余空間變化趨勢位圖中的每一比特位用于指示所述采樣區間內兩個采樣點的剩余空間的變化趨勢，

所述確定當前采樣點對應的采樣區間內至少兩個采樣點的固態硬盤SSD的剩余空間變化趨勢，包括：

確定所述當前采樣點對應的采樣區間的所述剩余空間變化趨勢位圖；

所述根據所述剩余空間變化趨勢對應的步長，確定所述當前采樣點對應的所述SSD的垃圾回收速率，包括：

根據所述剩余空間變化趨勢位圖對應的步長，確定所述當前采樣點對應的所述SSD的垃圾回收速率。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述確定所述當前采樣點對應的采樣區間的所述剩余空間變化趨勢位圖，包括：

確定前一個采樣點的所述SSD的剩余空間值N_i-1；

確定當前采樣點對應的所述SSD的剩余空間值N_i；

在N_i-1大于N_i、并且N_i-1與N_i的差值大于或等于所述SSD的剩余空間基準間隔的值情況下，將所述前一個采樣點對應的采樣區間的剩余空間變化趨勢位圖中第一個比特位刪除，并在最后一個比特位后增加一位1，得到所述當前采樣點對應的采樣區間的所述剩余空間變化趨勢位圖；

其中，i的取值為大于或等于2的正整數，N_i-1和N_i的值為正數。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述確定所述當前采樣點對應的采樣區間的所述剩余空間變化趨勢位圖，包括：

確定前一個采樣點對應的所述SSD的剩余空間值N_i-1；

確定當前采樣點對應的所述SSD的剩余空間值N_i；

在N_i-1小于N_i、并且N_i與N_i-1的差值大于或等于所述SSD的剩余空間基準間隔的值情況下，將所述前一個采樣點對應的采樣區間的剩余空間變化趨勢位圖中第一個比特位刪除，并在最后一個比特位后增加一位0，得到所述當前采樣點對應的采樣區間的所述剩余空間變化趨勢位圖；

其中，i的取值為大于或等于2的正整數，N_i和N_i-1的值為正數。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的方法，其特征在于，在所述根據所述當前采樣點對應的所述SSD的垃圾回收速率進行所述SSD的垃圾回收之前，所述方法還包括：

確定所述當前采樣點對應的所述SSD的剩余空間值小于所述SSD的剩余空間基準值。