[發明專利]多模介質濾波器及其調試方法

有效

• 申請號: 201711438231.0
• 申請日: 2017-12-26
• 公開（公告）號: CN107994304B
• 公開（公告）日: 2021-12-17
• 發明（設計）人: 張彪;丁海
• 申請（專利權）人: 京信通信技術（廣州）有限公司
• 主分類號: H01P1/20
• 分類號: H01P1/20;H01P1/208
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 李丹

1.一種多模介質濾波器的調試方法，其特征在于，所述多模介質濾波器包括至少一個多模介質諧振器，所述多模介質諧振器包括至少兩個諧振模式，各諧振模式在互為正交的基準方向上形成，所述調試方法包括：

所述多模介質諧振器在各所述諧振模式對應的所述基準方向上均開設有盲孔，并在各所述盲孔內分別填充介質；

通過調整所述介質填充至所述盲孔內的長度和/或通過調整所述介質的介電常數，以改變所述盲孔內電磁場的邊界條件，調節所述多模介質諧振器在各所述諧振模式下的諧振頻率。

2.根據權利要求1所述的多模介質濾波器的調試方法，其特征在于，通過調整所述介質填充至所述盲孔內的長度和/或通過調整所述介質的介電常數，調節所述多模介質諧振器在各所述諧振模式下的諧振頻率，具體是：

選擇介電常數與所述多模介質諧振器相同或者不同的介質填充至所述盲孔內，通過調整所述介質填充至所述盲孔內的長度，調節所述多模介質諧振器在各所述諧振模式下的諧振頻率；

或者，

通過將不同介電常數的介質分別填充至所述盲孔內或將不同介電常數的介質組合填充至所述盲孔內，調節所述多模介質諧振器在各所述諧振模式下的諧振頻率；

或者，

選擇介電常數與所述多模介質諧振器不同的介質填充至所述盲孔內，通過調整所述介質的介電常數以及調整所述介質填充至所述盲孔內的長度，調節所述多模介質諧振器在各所述諧振模式下的諧振頻率。

3.根據權利要求1所述的多模介質濾波器的調試方法，其特征在于，調整所述介質填充至所述盲孔內的長度，包括：

所述介質由所述盲孔底部朝所述盲孔開口端填充，調整所述介質在所述盲孔內的長度；

所述介質由所述盲孔開口端朝所述盲孔底部填充，調整所述介質在所述盲孔內的長度。

4.根據權利要求1-3任一項所述的多模介質濾波器的調試方法，其特征在于，所述盲孔設置在所述多模介質諧振器相應諧振模式下的電場或者磁場最強處。

5.一種多模介質濾波器，其特征在于，包括：

多模介質諧振器，所述多模介質諧振器包括至少兩個諧振模式，各諧振模式在互為正交的基準方向上形成，所述多模介質諧振器在各所述諧振模式對應的基準方向上均開設有盲孔；

介質，所述介質填充于所述盲孔內，所述介質在所述盲孔內的長度以及所述介質的介電常數根據所述多模介質諧振器在相應所述諧振模式下的所需諧振頻率設定。

6.根據權利要求5所述的多模介質濾波器，其特征在于，所述盲孔的直徑為2mm～4mm。

7.根據權利要求5所述的多模介質濾波器，其特征在于，所述盲孔呈柱狀或者U形槽狀或者矩形槽狀，所述介質也呈與所述盲孔匹配的柱狀或U形槽狀或者矩形槽狀。

8.根據權利要求5所述的多模介質濾波器，其特征在于，所述介質為介質調諧棒，所述介質調諧棒用于填充在所述盲孔內；

或者，

所述介質為介質柱，所述介質柱的一端設有與之相連的金屬盤，所述介質柱的另一端用于填充于所述盲孔內。

9.根據權利要求8所述的多模介質濾波器，其特征在于，所述盲孔的深度等于或大于所述介質調諧棒的長度，所述介質調諧棒與所述盲孔過盈配合；

或者，

所述盲孔的深度等于或大于所述介質柱的長度，所述介質柱的直徑小于或等于所述盲孔的直徑。

10.根據權利要求8所述的多模介質濾波器，其特征在于，所述金屬盤能與所述多模介質諧振器通過焊接固定。

11.根據權利要求8所述的多模介質濾波器，其特征在于，所述介質調諧棒為陶瓷介質或PEI或聚四氟乙烯，所述介質柱為陶瓷介質或PEI或聚四氟乙烯。

12.根據權利要求5-11任一項所述的多模介質濾波器，其特征在于，所述介質的介電常數與所述多模介質諧振器相同或不同。