[發(fā)明專利]一種薄膜及其制備方法與QLED器件在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711435211.8 | 申請日: | 2017-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN109962128A | 公開(公告)日: | 2019-07-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 楊一行;程陸玲 | 申請(專利權(quán))人: | TCL集團股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00;H01L33/06 |
| 代理公司: | 深圳市君勝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 王永文;劉文求 |
| 地址: | 516006 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 高分子材料 量子點 薄膜 光量子 產(chǎn)率 制備 阻隔 重均分子量 能量轉(zhuǎn)移 濃度淬滅 有效隔離 高效率 無輻射 量子 | ||
1.一種薄膜,其特征在于,所述薄膜包括高分子材料和分散在所述高分子材料中的量子點,其中所述高分子材料包括至少一種阻隔高分子材料,所述阻隔高分子材料的重均分子量高于10萬,所述高分子材料還包括至少一種電荷傳輸調(diào)節(jié)高分子材料,所述電荷傳輸調(diào)節(jié)高分子材料的重均分子量低于10萬。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄膜,其特征在于,所述電荷傳輸調(diào)節(jié)高分子材料占高分子材料的質(zhì)量分?jǐn)?shù)低于10%。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄膜,其特征在于,所述高分子材料由一種阻隔高分子材料和一種電荷傳輸調(diào)節(jié)高分子材料組成。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的薄膜,其特征在于,所述量子點占薄膜的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為0.5-20%。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的薄膜,其特征在于,所述量子點占薄膜的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為2-10%。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的薄膜,其特征在于,所述阻隔高分子材料選自PVK及其衍生物、TFB及其衍生物、poly-TPD及其衍生物和MEH-PPV及其衍生物中的一種或多種。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的薄膜,其特征在于,所述量子點選自CdTe、CdTeS及以CdTe或CdTeS為核的核殼量子點中的一種。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的薄膜,其特征在于,所述阻隔高分子材料的載流子遷移率在10-6 cm2V-1s-1以下,所述電荷傳輸調(diào)節(jié)高分子材料選自導(dǎo)電高分子,所述電荷傳輸調(diào)節(jié)高分子材料占高分子材料的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為0.5-5%。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的薄膜,其特征在于,所述導(dǎo)電高分子選自聚乙炔、聚苯硫醚、聚苯胺、聚吡咯和聚噻吩中的一種。
10.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的薄膜,其特征在于,所述阻隔高分子材料的載流子遷移率在10-6 cm2V-1s-1以上,所述電荷傳輸調(diào)節(jié)高分子材料選自非導(dǎo)電高分子,所述電荷傳輸調(diào)節(jié)高分子材料占高分子材料的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為5-10%。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的薄膜,其特征在于,所述非導(dǎo)電高分子選自酚醛樹脂、聚乙烯、聚二甲基硅氧烷、聚苯乙烯、聚甲基丙烯酸酯、聚丙烯酸酯和聚碳酸酯中的一種。
12.一種薄膜的制備方法,其特征在于,包括步驟:
將量子點和高分子材料混合在分散介質(zhì)中;
將混合后的溶液制成薄膜,得到所述薄膜;
其中所述高分子材料包括至少一種阻隔高分子材料,所述阻隔高分子材料的重均分子量高于10萬,所述高分子材料還包括至少一種電荷傳輸調(diào)節(jié)高分子材料,所述電荷傳輸調(diào)節(jié)高分子材料的重均分子量低于10萬。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的薄膜的制備方法,其特征在于,所述高分子材料由一種阻隔高分子材料和一種電荷傳輸調(diào)節(jié)高分子材料組成,所述電荷傳輸調(diào)節(jié)高分子材料占高分子材料的質(zhì)量分?jǐn)?shù)低于10%。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的薄膜的制備方法,其特征在于,所述量子點為油溶性量子點,所述油溶性量子點的表面配體為硫醇或羧酸。
15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的薄膜的制備方法,其特征在于,所述量子點選自CdTe、CdTeS及以CdTe或CdTeS為核的核殼量子點中的一種。
16.根據(jù)權(quán)利要求12所述的薄膜的制備方法,其特征在于,所述薄膜中,所述量子點的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為0.5-20%。
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