[發明專利]一種提高萬用表測量精度的方法和萬用表在審
| 申請號： | 201711434465.8 | 申請日： | 2017-12-26 |
| 公開（公告）號： | CN108572272A | 公開（公告）日： | 2018-09-25 |
| 發明（設計）人： | 陳嘉鋒;錢柏年;周云海 | 申請（專利權）人： | 深圳市鼎陽科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R15/12 | 分類號： | G01R15/12 |
| 代理公司： | 深圳鼎合誠知識產權代理有限公司 44281 | 代理人： | 郭燕 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 萬用表 測量 滑動平均 待顯示數據 測量數據 抽取 第二處理器 第一處理器 模擬信號 采樣率 滑動 采樣 預設 數字化 采集 輸出 檢測 | ||
1.一種提高萬用表測量精度的方法，其特征在于，包括：
模數轉換器以采樣率M對萬用表檢測的模擬信號進行采集，得到數字化的測量數據，所述M為大于0的整數；
第一處理器以平均采樣個數N為滑動長度對所述測量數據進行滑動平均處理，得到滑動平均數據，所述N為大于0的整數，所述N為根據預設的萬用表的測量精度而得到的值；
第二處理器以M/K為間隔抽取所述滑動平均數據，得到待顯示數據，所述K為萬用表的測量速率，所述K和M/K均為大于0的整數；
輸出所述待顯示數據。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述以平均采樣個數N為滑動長度對所述測量數據進行滑動平均處理，得到滑動平均數據，包括：
對第1至N個測量數據進行算術平均值處理，得到第1個滑動平均數據；
向后滑動一位，計算第2至N+1個測量數據的算術平均值，得到第2個滑動平均數據，依此類推得到后續的滑動平均數據。
3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述以M/K為間隔抽取所述滑動平均數據，得到待顯示數據，包括：
取所述滑動平均數據中的第1個滑動平均數據，得到第1個待顯示數據；
從所述滑動平均數據中的第2個滑動平均數據開始，每隔M/K個滑動平均數據，取所述M/K個滑動平均數據中的第M/K個滑動平均數據，得到第j個待顯示數據，所述j為大于或等于1的整數。
4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述輸出所述待顯示數據，包括：
以所述K為輸出速率，輸出所述待顯示數據。
5.一種萬用表，其特征在于，包括：
模數轉換器，用于以采樣率M對萬用表檢測的模擬信號進行采集，得到數字化的測量數據，所述M為大于0的整數；
第一處理器，用于以萬用表的平均采樣個數N為滑動長度對所述測量數據進行滑動平均處理，得到滑動平均數據，所述N為大于0的整數，所述N為根據預設的萬用表的測量精度而得到的值；
第二處理器，用于以M/K為間隔抽取所述滑動平均數據，得到待顯示數據，所述K為萬用表的測量速率，所述K和M/K均為大于0的整數；
輸出模塊，用于輸出所述待顯示數據。
6.如權利要求5所述的萬用表，其特征在于，所述第一處理器為FPGA。
7.如權利要求5所述的萬用表，其特征在于，所述第一處理器和所述第二處理器集成在一個芯片中。
8.如權利要求5所述的萬用表，其特征在于，所述輸出模塊為顯示器。
9.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有提高萬用表測量精度的程序，所述提高萬用表測量精度的程序能夠被處理器執行以實現如權利要求1至4中任一項所述方法的步驟。
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