[發明專利]一種天線頻率的調試方法、天線匹配電路及終端在審
| 申請號: | 201711434434.2 | 申請日: | 2017-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN108039922A | 公開(公告)日: | 2018-05-15 |
| 發明(設計)人: | 蘇紅強 | 申請(專利權)人: | 西安易樸通訊技術有限公司 |
| 主分類號: | H04B17/12 | 分類號: | H04B17/12;H04B17/21 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人: | 黃志華 |
| 地址: | 710017 陜西省西安*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 天線 頻率 調試 方法 匹配 電路 終端 | ||
1.一種天線頻率的調試方法,其特征在于,所述方法應用于天線匹配電路,所述天線匹配電路中包括天線本體、信號饋電點和N個地饋電點,所述N個地饋電點中的任一地饋電點通過并聯的M個支路接地,所述M個支路中的任一支路上設置有一個或多個用于放置集總元器件的集總元器件位置;所述信號饋電點通過一個或者并聯的P個支路與所述天線本體連接,所述一個支路或并聯的P個支路上設置有一個或多個集總元器件位置;N大于等于1,M大于等于2,P大于等于1,所述方法包括:
確定出所述天線匹配電路中所有待測試的支路使用組合,其中,任一支路使用組合中包括每一地饋電點的M個支路中參與測試的部分或全部支路,以及所述信號饋電點連接的支路中參與測試的部分或全部支路;
對于任一支路使用組合,在所述任一支路使用組合中參與測試的支路上的集總元器件位置放置集總元器件,并測試所述支路使用組合所對應的天線本體的諧振頻率;
根據各個支路使用組合所對應的天線本體的諧振頻率,確定出所述天線本體的諧振頻率調整范圍,以及所述天線本體的最佳諧振頻率。
2.一種天線匹配電路,其特征在于,所述天線匹配電路包括天線本體、信號饋電點和N個地饋電點,所述信號饋電點與終端的射頻模塊端口連接,用于接收所述射頻模塊的輸入信號,所述地饋電點用于接地,N大于等于1;
所述N個地饋電點中的任一地饋電點通過并聯的M個支路接地,所述M個支路中的任一支路中設置有一個或多個用于放置集總元器件的集總元器件位置,M大于等于2;
所述信號饋電點通過一個支路或并聯的P個支路與所述天線本體連接,所述一個支路或并聯的P個支路上設置有一個或多個集總元器件位置,P大于等于1。
3.根據權利要求2所述的天線匹配電路,其特征在于,所述任一地饋電點所在的M個支路中設置的集總元器件位置的數量相同,而且處于對稱位置的集總元器件位置用于放置相同的集總元器件。
4.根據權利要求2所述的天線匹配電路,其特征在于,在所述信號饋電點通過一個支路與所述天線本體連接時,所述一個支路中未設置集總元器件位置。
5.根據權利要求2所述的天線匹配電路,其特征在于,在所述信號饋電點通過P個支路與所述天線本體連接時,所述P個支路中設置的集總元器件位置的數量相同,而且處于對稱位置的集總元器件位置用于放置相同的集總元器件。
6.根據權利要求2至5中任一項所述的天線匹配電路,其特征在于,所述M個支路中任意相鄰的兩個支路之間的距離,以及P個支路中任意相鄰的兩個支路之間的距離均大于1mm,且小于10mm。
7.根據權利要求2至5中任一項所述的天線匹配電路,其特征在于,所述集總元器件為零歐姆、電容、電感中的一種。
8.一種終端,其特征在于,所述終端中包括如權利要求2至7中任一項所述的天線匹配電路。
9.一種測試設備,其特征在于,包括:
存儲器,用于存儲程序指令;
處理器,用于調用所述存儲器中存儲的程序指令,按照獲得的程序執行如權利要求1中所述的方法。
10.一種計算機存儲介質,其特征在于,所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機可執行指令,所述計算機可執行指令用于使所述計算機執行如權利要求1中所述的方法。
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